[實用新型]一種光度檢測裝置

有效

• 申請號: 201921644698.5
• 申請日: 2019-09-29
• 公開（公告）號: CN210346908U
• 公開（公告）日: 2020-04-17
• 發明（設計）人: 孫慶
• 申請（專利權）人: 東莞市凱萱自動化科技有限公司
• 主分類號: G01J1/42
• 分類號: G01J1/42
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 張子寬

1.一種光度檢測裝置，其特征在于，包括：

支撐架；

積分球，所述積分球設置在所述支撐架上，所述積分球包括腔體和采樣口，所述腔體和所述采樣口連通，所述積分球用于進行光度檢測；

測試治具，所述測試治具上設有安裝位，所述安裝位用于放置待測試的芯片；

第一線性模組，所述測試治具和所述第一線性模組連接，所述第一線性模組用于在第一方向上調節所述測試治具的位置；

第二線性模組，所述第一線性模組設置在所述第二線性模組上，所述第二線性模組用于在第二方向上調節所述第一線性模組的位置；

所述第一方向和所述第二方向垂直，所述第一方向和所述第二方向平行于水平面；

當測試所述芯片發射的光的光度時，所述采樣口朝向所述芯片，以使所述芯片發射的光通過所述采樣口進入所述腔體。

2.根據權利要求1所述的光度檢測裝置，其特征在于，

所述光度檢測裝置還包括第一轉動裝置，所述第一轉動裝置設置在所述第一線性模組上，所述測試治具和所述第一轉動裝置連接，所述第一轉動裝置用于控制所述測試治具繞第一軸線轉動；

所述第一軸線平行于水平面。

3.根據權利要求2所述的光度檢測裝置，其特征在于，

所述光度檢測裝置還包括第二轉動裝置；

所述第二轉動裝置設置在所述第一轉動裝置上，所述測試治具設置在所述第二轉動裝置上，所述第二轉動裝置用于控制所述測試治具繞第二軸線轉動，所述第二軸線垂直于水平面；

所述第一轉動裝置還用于控制所述第二轉動裝置繞所述第一軸線轉動。

4.根據權利要求1所述的光度檢測裝置，其特征在于，

所述第一線性模組包括第一電機、第一滑臺、第一導軌和第一滾珠絲桿；

所述第一滾珠絲桿和所述第一電機的輸出軸連接，所述第一滾珠絲桿貫穿所述第一滑臺，所述第一滾珠絲桿和所述第一滑臺螺紋連接，所述第一滑臺和所述第一導軌滑動連接；

所述測試治具和所述第一滑臺連接。

5.根據權利要求4所述的光度檢測裝置，其特征在于，

所述第二線性模組包括第二電機、第二滑臺、第二導軌和第二滾珠絲桿；

所述第二滾珠絲桿和所述第二電機的輸出軸連接，所述第二滾珠絲桿貫穿所述第二滑臺，所述第二滾珠絲桿和所述第二滑臺螺紋連接，所述第二滑臺和所述第二導軌滑動連接；

所述第一線性模組設置在所述第二滑臺上。

6.根據權利要求2所述的光度檢測裝置，其特征在于，

所述第一轉動裝置包括驅動電機、電機安裝架和轉動平臺，所述驅動電機的輸出軸和所述轉動平臺固定連接，所述測試治具和所述轉動平臺連接；

所述驅動電機安裝在所述電機安裝架上，所述電機安裝架設置在所述第一線性模組上；

所述驅動電機的輸出軸的延伸方向平行于水平面。

7.根據權利要求3所述的光度檢測裝置，其特征在于，

所述第二轉動裝置包括電動旋轉平臺，所述電動旋轉平臺包括轉動面和固定座，所述轉動面能相對所述固定座轉動；

所述測試治具設置在所述轉動面上，所述固定座設置在所述第一轉動裝置上。

8.根據權利要求1所述的光度檢測裝置，其特征在于，

所述采樣口的朝向為沿豎直方向向下；

所述安裝位包括容置腔，所述容置腔用于容置所述芯片，所述容置腔的朝向為沿豎直方向向上。

9.根據權利要求1所述的光度檢測裝置，其特征在于，

所述支撐架包括架體和第三線性模組，所述第三線性模組設置在所述架體上，所述積分球和所述第三線性模組連接；

所述第三線性模組用于在豎直方向上調節所述積分球的位置。

10.根據權利要求1所述的光度檢測裝置，其特征在于，

所述芯片為垂直腔面發射激光器VCSEL芯片。