[實用新型]一種測試效率高的集成電路測試裝置

有效

• 申請號: 201921623796.0
• 申請日: 2019-09-27
• 公開（公告）號: CN211402624U
• 公開（公告）日: 2020-09-01
• 發明（設計）人: 向彥瑾
• 申請（專利權）人: 四川豪威爾信息科技有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G01R1/04
• 代理公司: 北京聯瑞聯豐知識產權代理事務所(普通合伙) 11411
• 代理人: 黃冠華

本實用新型公開了一種測試效率高的集成電路測試裝置，包括支撐臺，所述支撐臺的上端滑動連接有導向座，所述導向座的前端通過螺紋連接有鉸接釘，所述鉸接釘的外側鉸接有擋塊，所述導向座內滑動連接有支撐板，所述支撐板的前端設置有支撐凸條，所述支撐板的上端粘合有橡膠墊，所述橡膠墊的上端擺放有集成電路板，所述集成電路板與導向座滑動連接。該測試效率高的集成電路測試裝置通過采用兩個導向座的配合對集成電路板進行導向，且設計方便使用的擋塊對集成電路板進行定位，防止集成電路板發生水平移動，而且集成電路板采用支撐板支撐，支撐板上還設計橡膠墊保護集成電路板，支撐板底部還設計彈簧進行緩沖，使得測試時，對集成電路板進行保護。

技術領域

本實用新型涉及集成電路板加工技術領域，具體為一種測試效率高的集成電路測試裝置。

背景技術

集成電路是一種微型電子器件或部件。采用一定的工藝，把一個電路中所需的晶體管、電阻、電容和電感等元件及布線互連一起，制作在一小塊或幾小塊半導體晶片或介質基片上，然后封裝在一個管殼內，成為具有所需電路功能的微型結構；其中所有元件在結構上已組成一個整體，使電子元件向著微小型化、低功耗、智能化和高可靠性方面邁進了一大步。

在集成電路板加工過程中國，都需要對集成電路板進行測試。一般采用對應的測試板進行手動測試。但是在測試時效率較低，目前多采用氣缸驅動測試板測試。但是測試時對集成電路板的裝夾并不方便，而且也缺乏測試對集成電路板沖擊的保護措施。目前的工裝適用性差，不能根據需要調整，以方便對不同規格的集成電路板進行裝夾。

實用新型內容

本實用新型的目的在于提供一種測試效率高的集成電路測試裝置，以解決上述背景技術中提出的問題。

為實現上述目的，本實用新型提供如下技術方案：一種測試效率高的集成電路測試裝置，包括支撐臺，所述支撐臺的上端滑動連接有導向座，所述導向座的前端通過螺紋連接有鉸接釘，所述鉸接釘的外側鉸接有擋塊，所述導向座內滑動連接有支撐板，所述支撐板的前端設置有支撐凸條，所述支撐板的上端粘合有橡膠墊，所述橡膠墊的上端擺放有集成電路板，所述集成電路板與導向座滑動連接，所述導向座與擋塊接觸，所述支撐板的下端固定連接有導桿，所述導桿的外側套裝有彈簧，所述支撐臺的上端固定連接有支撐架，所述支撐架內開設有通孔，所述通孔內轉動連接有螺紋桿，所述支撐架的中部下端固定連接有氣缸，所述氣缸設置有氣缸桿，所述氣缸桿的下端通過螺栓安裝有連接套，所述連接套的下端固定連接有測試板。

優選的，所述支撐臺上開設有導向孔，所述導向孔的數量為兩個，且每個導向孔內均滑動連接有導桿。

優選的，所述導向座的數量為兩個，且導向座在支撐臺的上端呈對稱分布，且每個導向座內均通過螺紋連接有螺紋桿。

優選的，所述擋塊內開設有鉸接孔，所述鉸接孔與鉸接釘轉動連接，所述擋塊的下端與支撐凸條接觸。

優選的，所述彈簧的上端與支撐板的下端接觸，所述彈簧的下端與支撐臺的上端接觸，所述導桿的下端通過螺紋連接有第一限位環。

優選的，所述螺紋桿的數量為兩個，且每個螺紋桿的外側通過螺紋連接有第二限位環，所述第二限位環與支撐架的表面接觸。

本實用新型提供了一種測試效率高的集成電路測試裝置。具備以下有益效果：

(1)、該測試效率高的集成電路測試裝置通過采用兩個導向座的配合對集成電路板進行導向，且設計方便使用的擋塊對集成電路板進行定位，防止集成電路板發生水平移動，而且集成電路板采用支撐板支撐，支撐板上還設計橡膠墊保護集成電路板，支撐板底部還設計彈簧進行緩沖，使得測試時，對集成電路板進行保護。

(2)、該測試效率高的集成電路測試裝置通過設計對稱的導向座，且導向座內通過螺紋連接螺紋桿，螺紋桿穿過支撐架，且采用第二限位環限位，通過螺紋桿的設計可以調節導向座的位置，方便根據需要對不同規格的集成電路板進行裝夾，適用性好。