[實用新型]一種測試效率高的集成電路測試裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201921623796.0
• 申請日: 2019-09-27
• 公開（公告）號: CN211402624U
• 公開（公告）日: 2020-09-01
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 向彥瑾
• 申請（專利權(quán)）人: 四川豪威爾信息科技有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G01R1/04
• 代理公司: 北京聯(lián)瑞聯(lián)豐知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11411
• 代理人: 黃冠華

1.一種測試效率高的集成電路測試裝置，包括支撐臺(1)，其特征在于：所述支撐臺(1)的上端滑動連接有導(dǎo)向座(3)，所述導(dǎo)向座(3)的前端通過螺紋連接有鉸接釘(4)，所述鉸接釘(4)的外側(cè)鉸接有擋塊(5)，所述導(dǎo)向座(3)內(nèi)滑動連接有支撐板(6)，所述支撐板(6)的前端設(shè)置有支撐凸條(12)，所述支撐板(6)的上端粘合有橡膠墊(7)，所述橡膠墊(7)的上端擺放有集成電路板(8)，所述集成電路板(8)與導(dǎo)向座(3)滑動連接，所述導(dǎo)向座(3)與擋塊(5)接觸，所述支撐板(6)的下端固定連接有導(dǎo)桿(9)，所述導(dǎo)桿(9)的外側(cè)套裝有彈簧(10)，所述支撐臺(1)的上端固定連接有支撐架(13)，所述支撐架(13)內(nèi)開設(shè)有通孔(14)，所述通孔(14)內(nèi)轉(zhuǎn)動連接有螺紋桿(15)，所述支撐架(13)的中部下端固定連接有氣缸(17)，所述氣缸(17)設(shè)置有氣缸桿(18)，所述氣缸桿(18)的下端通過螺栓安裝有連接套(19)，所述連接套(19)的下端固定連接有測試板(20)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種測試效率高的集成電路測試裝置，其特征在于：所述支撐臺(1)上開設(shè)有導(dǎo)向孔(2)，所述導(dǎo)向孔(2)的數(shù)量為兩個，且每個導(dǎo)向孔(2)內(nèi)均滑動連接有導(dǎo)桿(9)。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種測試效率高的集成電路測試裝置，其特征在于：所述導(dǎo)向座(3)的數(shù)量為兩個，且導(dǎo)向座(3)在支撐臺(1)的上端呈對稱分布，且每個導(dǎo)向座(3)內(nèi)均通過螺紋連接有螺紋桿(15)。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種測試效率高的集成電路測試裝置，其特征在于：所述擋塊(5)內(nèi)開設(shè)有鉸接孔(51)，所述鉸接孔(51)與鉸接釘(4)轉(zhuǎn)動連接，所述擋塊(5)的下端與支撐凸條(12)接觸。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種測試效率高的集成電路測試裝置，其特征在于：所述彈簧(10)的上端與支撐板(6)的下端接觸，所述彈簧(10)的下端與支撐臺(1)的上端接觸，所述導(dǎo)桿(9)的下端通過螺紋連接有第一限位環(huán)(11)。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種測試效率高的集成電路測試裝置，其特征在于：所述螺紋桿(15)的數(shù)量為兩個，且每個螺紋桿(15)的外側(cè)通過螺紋連接有第二限位環(huán)(16)，所述第二限位環(huán)(16)與支撐架(13)的表面接觸。