[實用新型]集成電路芯片測試系統

有效

• 申請號: 201921496168.0
• 申請日: 2019-09-09
• 公開（公告）號: CN210665952U
• 公開（公告）日: 2020-06-02
• 發明（設計）人: 張悅
• 申請（專利權）人: 合肥悅芯半導體科技有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 北京超凡宏宇專利代理事務所(特殊普通合伙) 11463
• 代理人: 劉亞飛

1.一種集成電路芯片測試系統，其特征在于，所述集成電路芯片測試系統包括：第一測試設備、第二測試設備、采集設備、存儲設備和計算設備，所述第一測試設備、所述采集設備、所述存儲設備和所述第二測試設備之間依次電連接，且所述計算設備分別與所述第一測試設備、所述第二測試設備、所述采集設備和所述存儲設備電連接；

所述計算設備用于根據針對所述第一測試設備、所述第二測試設備、所述采集設備和所述存儲設備的控制指令，分別對所述第一測試設備、所述第二測試設備、所述采集設備和所述存儲設備進行控制；

所述采集設備在所述第一測試設備接入預設集成電路芯片時，采集針對所述預設集成電路芯片的運行信號，并將所述運行信號存儲至所述存儲設備；

所述第二測試設備從所述存儲設備獲取所述運行信號，并基于所述運行信號對待測集成電路芯片進行測試，所述預設集成電路芯片與所述待測集成電路芯片的芯片類型相同。

2.根據權利要求1所述的系統，其特征在于，所述運行信號包括所述第一測試設備輸入至所述預設集成電路芯片的輸入信號以及所述預設集成電路芯片針對所述輸入信號的第一輸出信號；

所述第二測試設備具體用于將所述輸入信號輸入至所述待測集成電路芯片，獲取所述待測集成電路芯片針對所述輸入信號產生的第二輸出信號，并將所述第一輸出信號與所述第二輸出信號進行比較。

3.根據權利要求1所述的系統，其特征在于，所述集成電路芯片測試系統還包括接入器，所述接入器包括與所述預設集成電路芯片電連接的第一接口、與所述第一測試設備電連接的第二接口以及與所述采集設備電連接的第三接口；

所述接入器通過所述第一接口和所述第二接口獲取所述運行信號，通過所述第三接口將所述運行信號發送給所述采集設備。

4.根據權利要求3所述的系統，其特征在于，所述接入器還包括信號放大器，所述信號放大器與所述第三接口電連接；

所述接入器通過所述信號放大器將所述運行信號進行放大，并將放大后的所述運行信號通過所述第三接口發送給所述采集設備。

5.根據權利要求1所述的系統，其特征在于，所述采集設備包括第四接口、數模轉換器、多路開關、時序控制器、同步控制器、第五接口和第六接口，所述第四接口、所述數模轉換器、所述多路開關、所述時序控制器和所述第六接口依次電連接，所述同步控制器分別與所述數模轉換器、所述多路開關、所述時序控制器和所述第五接口電連接；

所述采集設備通過所述第五接口接收所述計算設備的同步控制指令，并通過所述同步控制器對所述數模轉換器、所述多路開關、所述時序控制器進行時序同步，且所述采集設備還通過所述第四接口接收所述運行信號，通過所述數模轉換器將所述運行信號由數字信號轉換為模擬信號，通過所述多路開關將轉換后的所述運行信號傳輸至所述時序控制器，通過所述時序控制器對轉換后的所述運行信號進行壓縮，通過所述第六接口將壓縮后的所述運行信號發送給所述存儲設備。

6.根據權利要求1所述的系統，其特征在于，所述第二測試設備包括存儲轉接器、多個串聯的信號處理器和控制器，所述存儲轉接器包括第七接口、第八接口和第九接口，所述存儲轉接器通過所述第七接口與所述存儲設備電連接，所述存儲轉接器通過所述第八接口與多個串聯的所述信號處理器中的第一個信號處理器電連接，所述存儲轉接器通過所述第九接口與多個串聯的所述信號處理器中的最后一個信號處理器電連接，所述控制器分別與多個所述信號處理器電連接；

所述第二測試設備通過所述存儲轉接器從所述存儲設備獲取所述運行信號，且所述運行信號包括多個并行的運行子信號，將多個并行的所述運行子信號轉換為多個串行的所述運行子信號，通過所述控制器控制多個所述信號處理器對多個串行的所述運行子信號進行預處理，通過所述存儲轉接器對處理后的多個串行的所述運行子信號進行校驗。

7.根據權利要求6所述的系統，其特征在于，所述第二測試設備具體用于通過所述控制器控制多個所述信號處理器將多個串行的所述運行子信號由模擬信號轉換為數字信號，通過所述存儲轉接器對轉換后的所述運行子信號進行校驗。