[實用新型]極紫外光光罩基底及極紫外光光罩有效
| 申請號: | 201921367351.0 | 申請日: | 2019-08-22 |
| 公開(公告)號: | CN211454228U | 公開(公告)日: | 2020-09-08 |
| 發明(設計)人: | 李建新;曾依蕾;楊忠憲 | 申請(專利權)人: | 福建省晉華集成電路有限公司 |
| 主分類號: | G03F1/24 | 分類號: | G03F1/24 |
| 代理公司: | 上海浦一知識產權代理有限公司 31211 | 代理人: | 戴廣志 |
| 地址: | 362200 福建省泉州*** | 國省代碼: | 福建;35 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 紫外 光光 基底 | ||
1.一種極紫外光光罩基底,其特征在于,包括:
基板,所述基板包括熱電材料;
導熱層,所述導熱層形成于所述基板上;以及
反射層,所述反射層形成于所述導熱層上;
其中,所述反射層用于反射入射的極紫外光,所述導熱層用于將所述反射層產生的熱能傳導至所述基板,所述基板用于將熱能轉化為電能。
2.根據權利要求1所述的極紫外光光罩基底,其特征在于,所述熱電材料包括碲化鉍、碲化鉛或者硅鍺。
3.根據權利要求1或2所述的極紫外光光罩基底,其特征在于,所述導熱層包括導熱系數高于1的材料。
4.根據權利要求3所述的極紫外光光罩基底,其特征在于,所述導熱系數高于1的材料為絕緣體。
5.根據權利要求1或2所述的極紫外光光罩基底,其特征在于,所述反射層包括依次堆疊的至少一層復合層;
所述復合層包括高折射層與低折射層;
所述高折射層包含的材料的折射率高于所述低折射層包含的材料。
6.根據權利要求5所述的極紫外光光罩基底,其特征在于,所述反射層上還形成有釕系保護層。
7.根據權利要求6所述的極紫外光光罩基底,其特征在于,所述反射層和所述釕系保護層之間還形成有阻擋層。
8.根據權利要求7所述的極紫外光光罩基底,其特征在于,所述阻擋層包括鈦、鋁、鎳、鉑、鉛、鎢、鉬、鈷、銅、鈦氮化物、鋁氮化物、鎳氮化物、鉑氮化物、鉛氮化物、鎢氮化物、鉬氮化物、鈷氮化物、銅氮化物、鈦硅化物、鋁硅化物、鎳硅化物、鉑硅化物、鉛硅化物、鎢硅化物、鉬硅化物、鈷硅化物、銅硅化物、鈦硅氮化物、鋁硅氮化物、鎳硅氮化物、鉑硅氮化物、鉛硅氮化物、鎢硅氮化物、鉬硅氮化物、鈷硅氮化物或者銅硅氮化物。
9.根據權利要求3所述的極紫外光光罩基底,其特征在于,所述反射層包括依次堆疊的至少一層復合層;
所述復合層包括高折射層與低折射層;
所述高折射層包含的材料的折射率高于所述低折射層包含的材料。
10.根據權利要求9所述的極紫外光光罩基底,其特征在于,所述反射層上還形成有釕系保護層。
11.根據權利要求10所述的極紫外光光罩基底,其特征在于,所述反射層和所述釕系保護層之間還形成有阻擋層。
12.根據權利要求11所述的極紫外光光罩基底,其特征在于,所述阻擋層包括鈦、鋁、鎳、鉑、鉛、鎢、鉬、鈷、銅、鈦氮化物、鋁氮化物、鎳氮化物、鉑氮化物、鉛氮化物、鎢氮化物、鉬氮化物、鈷氮化物、銅氮化物、鈦硅化物、鋁硅化物、鎳硅化物、鉑硅化物、鉛硅化物、鎢硅化物、鉬硅化物、鈷硅化物、銅硅化物、鈦硅氮化物、鋁硅氮化物、鎳硅氮化物、鉑硅氮化物、鉛硅氮化物、鎢硅氮化物、鉬硅氮化物、鈷硅氮化物或者銅硅氮化物。
13.根據權利要求4所述的極紫外光光罩基底,其特征在于,所述反射層包括依次堆疊的至少一層復合層;
所述復合層包括高折射層與低折射層;
所述高折射層包含的材料的折射率高于所述低折射層包含的材料。
14.根據權利要求13所述的極紫外光光罩基底,其特征在于,所述反射層上還形成有釕系保護層。
15.根據權利要求14所述的極紫外光光罩基底,其特征在于,所述反射層和所述釕系保護層之間還形成有阻擋層。
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G03F1-00 用于圖紋面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其專門適用于此的容器;其制備
G03F1-20 .用于通過帶電粒子束(CPB)輻照成像的掩膜或空白掩膜,例如通過電子束;其制備
G03F1-22 .用于通過100nm或更短波長輻照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射線掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制備
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G03F1-38 .具有輔助特征的掩膜,例如用于校準或測試的特殊涂層或標記;其制備





