[實用新型]一種芯片測試架有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201921303984.5 | 申請日： | 2019-08-08 |
| 公開（公告）號： | CN210923889U | 公開（公告）日： | 2020-07-03 |
| 發(fā)明（設計）人： | 李虎;徐建飛 | 申請（專利權(quán)）人： | 深圳市德明利技術(shù)股份有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/28 | 分類號： | G01R31/28;G01R1/073 |
| 代理公司： | 深圳市道勤知酷知識產(chǎn)權(quán)代理事務所(普通合伙) 44439 | 代理人： | 何兵;饒盛添 |
| 地址： | 518000 廣東省深圳市龍華區(qū)民治街*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 芯片 測試 | ||
1.一種芯片測試架，其特征在于，包括：電源接口、USB接口、主控芯片組件、主控插針板、PCB板、閃存芯片，以及閃存芯片底座；
所述USB接口設置在所述PCB板上；
所述電源接口設置在所述PCB板上，以給所述PCB板上的各部件通電；
所述閃存芯片底座設置在所述PCB板一端面；
所述閃存芯片設置在所述閃存芯片底座上；
所述PCB板遠離所述閃存芯片的一端面設置有所述主控插針板；
所述主控芯片組件一端設有插針腳，所述插針腳與所述主控插針板配合，實現(xiàn)兩者的活動連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的芯片測試架，其特征在于，所述芯片組件包括主控芯片底座和主控芯片；
所述主控芯片相對的兩端設有引腳；
所述主控芯片底座相對的兩端設有引腳定位槽；
所述引腳與所述引腳定位槽配合，實現(xiàn)所述主控芯片與所述主控芯片底座的活動連接。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的芯片測試架，其特征在于，所述主控芯片底座遠離所述引腳定位槽的一端的側(cè)壁設有缺口；
所述缺口的底部相對所述PCB板的高度高于所述引腳定位槽所在的平面。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的芯片測試架，其特征在于，還包括電源開關(guān)；
所述PCB板上設有多組所述閃存芯片底座以及所述閃存芯片；
各所述閃存芯片分別設置在所述閃存芯片底座上；
所述PCB板遠離所述閃存芯片的一端設有多組所述主控芯片組件，所述主控芯片組件的數(shù)量與所述閃存芯片相同；
各所述主控芯片組件的一端分別設有一所述電源開關(guān)，以控制外接電源給所述芯片測試架供電與斷電；
各所述芯片組件分別與各所述閃存芯片電連接，以實現(xiàn)測試所述主控芯片。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的芯片測試架，其特征在于，所述電源開關(guān)相對所述PCB板的高度高于所述芯片組件相對所述PCB板的高度，且所述電源開關(guān)與所述芯片組件位于所述PCB板的同一水平線。
6.根據(jù)權(quán)利要求2所述的芯片測試架，其特征在于，所述主控芯片以預設角度傾斜設置于所述主控芯片底座。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的芯片測試架，其特征在于，所述預設角度范圍為30°至45°。
8.根據(jù)權(quán)利要求2所述的芯片測試架，其特征在于，所述主控芯片底座相對所述主控插針板的一端設有定位柱，且所述定位柱遠離所述插針腳設置；
所述主控插針板與所述定位柱相對的一端設有定位孔；
所述定位柱與所述定位孔配合，以實現(xiàn)所述主控芯片底座和所述主控插針板之間的定位。
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