[實用新型]一種芯片測試架有效
| 申請號: | 201921303984.5 | 申請日: | 2019-08-08 |
| 公開(公告)號: | CN210923889U | 公開(公告)日: | 2020-07-03 |
| 發明(設計)人: | 李虎;徐建飛 | 申請(專利權)人: | 深圳市德明利技術股份有限公司 |
| 主分類號: | G01R31/28 | 分類號: | G01R31/28;G01R1/073 |
| 代理公司: | 深圳市道勤知酷知識產權代理事務所(普通合伙) 44439 | 代理人: | 何兵;饒盛添 |
| 地址: | 518000 廣東省深圳市龍華區民治街*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 芯片 測試 | ||
本實用新型揭示了一種芯片測試架,包括:電源接口、USB接口、主控芯片組件、主控插針板、PCB板、閃存芯片,以及閃存芯片底座;USB接口設置在PCB板上;電源接口設置在PCB板上,以給PCB板上的各部件通電;閃存芯片底座設置在PCB板一端面;閃存芯片設置在閃存芯片底座上;PCB板遠離閃存芯片的一端面設置有主控插針板;主控芯片組件一端設有插針腳,插針腳與主控插針板配合,實現兩者的活動連接。與現有技術相比,上述結構無需通過焊接的方式將主控芯片組件設置在PCB板上,大幅降低主控芯片結構損壞的概率,縮短主控芯片的測試時間;主控芯片組件與PCB板活動連接,極大地提高主控芯片安裝在PCB板的效率。因此,上述結構極大地提高了主控芯片的測試效率。
技術領域
本實用新型涉及到半導體領域,特別是涉及到一種芯片測試架。
背景技術
以前測試人員測試成品主控芯片時,需要將主控芯片焊接到測試架的PCB板上。主控芯片具有多個芯片引腳,且引腳之間的距離也離得近,因此焊接時費時費力,或者容易弄壞芯片引腳,導致焊接失敗。因此,當測試人員測試主控芯片有問題時,需要判斷該問題是出自人為焊接,還是主控芯片本身具有問題。測試人員無法直接排除人為焊接問題,因此需在測試芯片過程增加判斷人為焊接問題的測試工序,極大地延長了測試時間。綜上,現有主控芯片的測試效率有待提高。
實用新型內容
本實用新型的主要目的為提供一種芯片測試架,旨在解決提升現有主控芯片的測試效率。
本實用新型提供一種芯片測試架,包括:電源接口、USB接口、主控芯片組件、主控插針板、PCB板、閃存芯片,以及閃存芯片底座;
USB接口設置在PCB板上;
電源接口設置在PCB板上,以給PCB板上的各部件通電;
閃存芯片底座設置在PCB板一端面;
閃存芯片設置在閃存芯片底座上;
PCB板遠離閃存芯片的一端面設置有主控插針板;
主控芯片組件一端設有插針腳,插針腳與主控插針板配合,實現兩者的活動連接。
優選的,芯片組件包括主控芯片底座和主控芯片;
主控芯片相對的兩端設有引腳;
主控芯片底座相對的兩端設有引腳定位槽;
引腳與引腳定位槽配合,實現主控芯片與主控芯片底座的活動連接。
優選的,主控芯片底座遠離引腳定位槽的一端的側壁設有缺口;
缺口的底部相對PCB板的高度高于引腳定位槽所在的平面。
優選的,芯片測試架還包括電源開關;
PCB板上設有多組閃存芯片底座以及閃存芯片;
各閃存芯片分別設置在閃存芯片底座上;
PCB板遠離閃存芯片的一端設有多組主控芯片組件,主控芯片組件的數量與閃存芯片相同;
各主控芯片組件的一端分別設有一電源開關,以控制外接電源給芯片測試架供電與斷電;
各芯片組件分別與各閃存芯片電連接,以實現測試主控芯片。
優選的,電源開關相對PCB板的高度高于芯片組件相對PCB板的高度,且電源開關與芯片組件位于PCB板的同一水平線。
優選的,主控芯片以預設角度傾斜設置于主控芯片底座。
優選的,預設角度范圍為30°至45°。
優選的,主控芯片底座相對主控插針板的一端設有定位柱,且定位柱遠離插針腳設置;
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