[實用新型]線域頻域光學相干層析檢測及縱向坐標標定裝置有效
| 申請號: | 201921111330.2 | 申請日: | 2019-07-16 |
| 公開(公告)號: | CN210294038U | 公開(公告)日: | 2020-04-10 |
| 發明(設計)人: | 劉峰;鐘舜聰;陳曼;方波;張秋坤 | 申請(專利權)人: | 福州大學 |
| 主分類號: | G01N21/01 | 分類號: | G01N21/01;G01N21/25 |
| 代理公司: | 福州元創專利商標代理有限公司 35100 | 代理人: | 丘鴻超;蔡學俊 |
| 地址: | 350108 福建省福州市閩*** | 國省代碼: | 福建;35 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 線域頻域 光學 相干 層析 檢測 縱向 坐標 標定 裝置 | ||
1.一種線域頻域光學相干層析檢測及縱向坐標標定裝置,其特征在于,包括線域頻域光學相干層析裝置和縱向坐標標定裝置,所述線域頻域光學相干層析裝置包括鎢鹵素燈光源模塊、邁克爾遜干涉儀模塊、線光譜儀模塊和計算機,所述鎢鹵素燈光源模塊包括鎢鹵素燈光源(1)和凸透鏡(2),鎢鹵素燈光源(1)發出的光經凸透鏡(2)準直為平行光束,所述邁克爾遜干涉儀模塊包括第一柱透鏡(3)、分光鏡(4)和參考鏡(5),第一柱透鏡(3)將平行光束聚焦為焦線,分光鏡(4)將光束分束為強度相等的兩束光線,一束作為參考光匯聚于參考鏡(5),另一束作為檢測光匯聚于待測樣品(8)表面,兩束光經反射后重合發生干涉,所述線光譜儀模塊包括第二柱透鏡(10)、反射鏡(11)、反射式光柵(12)、第三柱透鏡(13)和面陣相機(14),干涉光束經第二柱透鏡(10)匯聚和反射鏡(11)反射后入射到反射式光柵(12)上,反射式光柵(12)將入射光按波長在空間分光后由柱透鏡匯聚成干涉譜線,由面陣相機采集二維干涉條紋圖像信號,所述計算機與面陣相機連接,以接收、存儲、處理面陣相機傳輸來的條紋圖像信號;所述縱向坐標標定裝置包括可調狹縫結構(9)和用于驅動可調狹縫結構進行位移的狹縫位移平臺,所述可調狹縫結構(9)設于分光鏡(4)與待測樣品(8)之間的檢測光路上,狹縫寬度可調。
2.根據權利要求1所述的一種線域頻域光學相干層析檢測及縱向坐標標定裝置,其特征在于,所述狹縫位移平臺包括橫向線性位移機構(7)和縱向線性位移機構(6),所述可調狹縫結構安裝于縱向線性位移機構(6)上,以在其帶動下進行縱向位移,所述縱向線性位移機構(6)設置于橫向線性位移機構(7)上,以在其帶動下進行橫向位移。
3.根據權利要求2所述的一種線域頻域光學相干層析檢測及縱向坐標標定裝置,其特征在于,所述橫向線性位移機構(7)和縱向線性位移機構(6)均為絲桿螺母副機構,分別由步進電機驅動工作。
4.根據權利要求1所述的一種線域頻域光學相干層析檢測及縱向坐標標定裝置,其特征在于,所述縱向坐標標定裝置為可拆結構,裝置縱向坐標標定完成后,縱向坐標標定裝置的可調狹縫結構和狹縫位移平臺可拆除。
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