[實用新型]一種硅晶圓結(jié)構(gòu)有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201921088046.8 | 申請日: | 2019-07-11 |
| 公開(公告)號: | CN209929311U | 公開(公告)日: | 2020-01-10 |
| 發(fā)明(設計)人: | 徐建衛(wèi);徐艷;汪鵬 | 申請(專利權(quán))人: | 上海矽安光電科技有限公司 |
| 主分類號: | H01L29/06 | 分類號: | H01L29/06;H01L21/306;H01L21/308;B81C1/00 |
| 代理公司: | 31243 上海百一領(lǐng)御專利代理事務所(普通合伙) | 代理人: | 王奎宇;楊孟娟 |
| 地址: | 200233 上海市徐匯*** | 國省代碼: | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 硅晶圓 尖角 第二槽 第一槽 腐蝕 薄膜保護 腐蝕液 夾角處 抗腐蝕 有效地 薄膜 申請 背面 | ||
1.一種硅晶圓結(jié)構(gòu),其特征在于,所述硅晶圓結(jié)構(gòu)包括:硅晶圓主體,在所述硅晶圓主體上設有第一槽和第二槽,所述硅晶圓主體還形成有第一尖角或第二尖角,其中,所述第一尖角或所述第二尖角設置在所述第一槽和所述第二槽的連接處。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的硅晶圓結(jié)構(gòu),其特征在于,所述硅晶圓主體的背面、所述第一槽的表面以及所述第二槽的表面均鍍有抗腐蝕的薄膜。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的硅晶圓結(jié)構(gòu),其特征在于,所述硅晶圓主體的正面設有可圖形化的薄膜。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的硅晶圓結(jié)構(gòu),其特征在于,所述薄膜包括金屬薄膜和非金屬薄膜,其中,所述金屬薄膜包括鉻薄膜和金薄膜,所述非金屬薄膜包括氮化硅薄膜。
5.根據(jù)權(quán)利要求3或4所述的硅晶圓結(jié)構(gòu),其特征在于,所述薄膜的厚度為0.1~3um。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的硅晶圓結(jié)構(gòu),其特征在于,所述硅晶圓主體為(100)面型硅片。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L29-00 專門適用于整流、放大、振蕩或切換,并具有至少一個電位躍變勢壘或表面勢壘的半導體器件;具有至少一個電位躍變勢壘或表面勢壘,例如PN結(jié)耗盡層或載流子集結(jié)層的電容器或電阻器;半導體本體或其電極的零部件
H01L29-02 .按其半導體本體的特征區(qū)分的
H01L29-40 .按其電極特征區(qū)分的
H01L29-66 .按半導體器件的類型區(qū)分的
H01L29-68 ..只能通過對一個不通有待整流、放大或切換的電流的電極供給電流或施加電位方可進行控制的
H01L29-82 ..通過施加于器件的磁場變化可控的





