[實用新型]電源的老化測試系統

有效

• 申請號: 201920976109.7
• 申請日: 2019-06-26
• 公開（公告）號: CN210270115U
• 公開（公告）日: 2020-04-07
• 發明（設計）人: 梁遠文;黃維;何富榮
• 申請（專利權）人: 深圳市鼎泰佳創科技有限公司
• 主分類號: G01R31/40
• 分類號: G01R31/40
• 代理公司: 深圳中細軟知識產權代理有限公司 44528
• 代理人: 安秀梅

本申請公開了一種電源的老化測試系統，該系統包括測試裝置，所述測試裝置上設置有多個待測產品，每個所述待測產品包括至少兩路電源輸出；所述多個待測產品按照行、列分布組成矩陣，所述矩陣中每一行的所述待測產品的一路電源輸出依次串聯后形成一路串聯輸出回路，所述矩陣中每一列的所述待測產品的一路電源輸出依次串聯后形成一路串聯輸出回路，每個所述一路串聯輸出回路分別與一個老化測試負載電連接，以形成對所述一路串聯輸出回路的老化測試。通過上述電源的老化測試系統，能夠提升電源的老化測試的測試效率，并且降低成本。

技術領域

本實用新型涉及產品老化測試領域，尤其涉及一種電源的老化測試系統。

背景技術

老化測試是指產品在現實使用條件中涉及到的各種因素對產品產生老化的情況進行相應條件加強實驗的過程，例如通過仿真出高溫、高惡劣條件下的測試環境對電源進行長時間燒機，以提高產品安全性、穩定性和可靠性。

在通過老化測試柜或老化測試房對待測產品進行批量老化測試時，針對不同數量的多路輸出(大于或等于兩路輸出)的電源，傳統的老化測試系統如圖一和圖二所示。其中，圖一所示的老化測試系統對多個電源的輸出采用并聯的連接方式，產品的每一路輸出配置一個升壓模塊，將每一路輸出的升壓至一個指定電壓，然后通過逆變器將電壓回饋至電網。圖二所示的老化測試系統對多個電源的輸出采用串聯的連接方式，將多個電源中功率較大的一路輸出串聯，由于串聯起來后每路輸出的負極是不同的，因此其余輸出只能采用隔離式電子負載或電阻負載來進行老化測試。

但是，圖一所示的老化測試系統中的每一個輸出均需要一路升壓模塊，成本較高，而且升壓至指定電壓的效率較低，配線比較復雜；圖二所示的老化測試系統中，只有主路輸出才能串聯起來，其余的輸出只能采用隔離式模塊進行老化測試，同樣存在效率低的問題，并且需要的隔離模塊較多，成本較高。

實用新型內容

本實用新型實施例提供一種電源的老化測試系統，能夠提升電源的老化測試的測試效率，并且降低成本。

一種電源的老化測試系統，包括測試裝置，所述測試裝置上設置有多個待測產品，每個所述待測產品包括至少兩路電源輸出；

所述多個待測產品按照行、列分布組成矩陣，所述矩陣中每一行的所述待測產品的一路電源輸出依次串聯后形成一路串聯輸出回路，所述矩陣中每一列的所述待測產品的一路電源輸出依次串聯后形成一路串聯輸出回路，每個所述一路串聯輸出回路分別與一個老化測試負載電連接，以形成對所述一路串聯輸出回路的老化測試。

可選的，在其中一個實施例中，基于所述待測產品的電源輸出路數組成至少一個矩陣，每個所述矩陣中形成的每一路串聯輸出回路分別與一個老化測試負載電連接。

可選的，在其中一個實施例中，所述待測產品包括第一路電源輸出和第二路電源輸出，基于所述待測產品的兩路電源輸出組成一個M行N列的M*N矩陣，其中M、N≥2；

所述M*N矩陣中每一行的所述待測產品的第一路電源輸出依次串聯，形成M路串聯輸出回路；所述M*N矩陣中每一列的所述待測產品的第二路電源輸出依次串聯，形成N路串聯輸出回路；基于所述待測產品的兩路電源輸出形成N+M路串聯輸出回路。

可選的，在其中一個實施例中，所述待測產品包括第一路電源輸出、第二路電源輸出和第三路電源輸出，所述待測產品的第一路電源輸出與第二路電源輸出組成一個M行N列的M*N矩陣，所述待測產品的第三路電源輸出與所述M*N矩陣中的每一行或每一列組成一個p行q列的p*q矩陣；其中M、N≥2，p、q≥2，M/N＝p*q；

所述p*q矩陣中每一行的所述待測產品的電源輸出依次串聯，形成p路串聯輸出回路；所述p*q矩陣中每一列的所述待測產品的電源輸出依次串聯，形成q路串聯輸出回路；所述M*N矩陣中每一行的所述待測產品的電源輸出依次串聯，形成M路串聯輸出回路；基于所述待測產品的三路電源輸出形成M+N*(p+q)路串聯輸出回路。