[實用新型]電源的老化測試系統

有效

• 申請號: 201920976109.7
• 申請日: 2019-06-26
• 公開（公告）號: CN210270115U
• 公開（公告）日: 2020-04-07
• 發明（設計）人: 梁遠文;黃維;何富榮
• 申請（專利權）人: 深圳市鼎泰佳創科技有限公司
• 主分類號: G01R31/40
• 分類號: G01R31/40
• 代理公司: 深圳中細軟知識產權代理有限公司 44528
• 代理人: 安秀梅

1.一種電源的老化測試系統，其特征在于，包括測試裝置，所述測試裝置上設置有多個待測產品，每個所述待測產品包括至少兩路電源輸出；

所述多個待測產品按照行、列分布組成矩陣，所述矩陣中每一行的所述待測產品的一路電源輸出依次串聯后形成一路串聯輸出回路，所述矩陣中每一列的所述待測產品的一路電源輸出依次串聯后形成一路串聯輸出回路，每個所述一路串聯輸出回路分別與一個老化測試負載電連接，以形成對所述一路串聯輸出回路的老化測試。

2.根據權利要求1所述的系統，其特征在于，基于所述待測產品的電源輸出路數組成至少一個矩陣，每個所述矩陣中形成的每一路串聯輸出回路分別與一個老化測試負載電連接。

3.根據權利要求2所述的系統，其特征在于，所述待測產品包括第一路電源輸出和第二路電源輸出，基于所述待測產品的兩路電源輸出組成一個M行N列的M*N矩陣，其中M、N≥2；

所述M*N矩陣中每一行的所述待測產品的第一路電源輸出依次串聯，形成M路串聯輸出回路；所述M*N矩陣中每一列的所述待測產品的第二路電源輸出依次串聯，形成N路串聯輸出回路；基于所述待測產品的兩路電源輸出形成N+M路串聯輸出回路。

4.根據權利要求2所述的系統，其特征在于，所述待測產品包括第一路電源輸出、第二路電源輸出和第三路電源輸出，所述待測產品的第一路電源輸出與第二路電源輸出組成一個M行N列的M*N矩陣，所述待測產品的第三路電源輸出與所述M*N矩陣中的每一行或每一列組成一個p行q列的p*q矩陣，其中M、N≥2，p、q≥2，M/N＝p*q；

所述p*q矩陣中每一行的所述待測產品的電源輸出依次串聯，形成p路串聯輸出回路；所述p*q矩陣中每一列的所述待測產品的電源輸出依次串聯，形成q路串聯輸出回路；所述M*N矩陣中每一行的所述待測產品的電源輸出依次串聯，形成M路串聯輸出回路；基于所述待測產品的三路電源輸出形成M+N*(p+q)路串聯輸出回路。

5.根據權利要求2所述的系統，其特征在于，所述待測產品包括第一路電源輸出、第二路電源輸出、第三路電源輸出和第四路電源輸出；所述待測產品的第一路電源輸出與第二路電源輸出組成一個M行N列的M*N矩陣，所述待測產品的第三路電源輸出與所述M*N矩陣中的每一行組成一個m行n列的m*n矩陣，所述待測產品的第四路電源輸出與所述M*N矩陣中的每一列組成一個p行q列的p*q矩陣；

所述m*n矩陣中每一行的電源輸出依次串聯后形成m路串聯輸出回路，所述m*n矩陣中每一列的電源輸出依次串聯后形成n路串聯輸出回路，所述m*n矩陣共有M層；所述p*q矩陣中每一行的電源輸出依次串聯后形成p路串聯輸出回路，所述p*q矩陣中每一列的電源輸出依次串聯后形成q路串聯輸出回路，所述p*q矩陣共有N層；基于所述待測產品的四路電源輸出形成M*(m+n)+N*(p+q)路串聯輸出回路。

6.根據權利要求1-5任一項所述的系統，其特征在于，每個所述一路串聯輸出回路分別與不同的老化測試負載電連接。

7.根據權利要求1-5任一項所述的系統，其特征在于，同一個所述老化測試負載電連接的不同串聯輸出回路之間在電氣上隔離。