[實用新型]凹面陣列的石墨烯-金屬異質結光電探測器有效
| 申請號: | 201920946522.9 | 申請日: | 2019-06-21 |
| 公開(公告)號: | CN210272383U | 公開(公告)日: | 2020-04-07 |
| 發明(設計)人: | 李全福;張祺;朱小虎;彭慧玲;劉衛華;宋輝;李廷會;劉林生;汪海船;黃瑞 | 申請(專利權)人: | 廣西師范大學 |
| 主分類號: | H01L31/0236 | 分類號: | H01L31/0236;H01L31/11 |
| 代理公司: | 北京中濟緯天專利代理有限公司 11429 | 代理人: | 石燕妮 |
| 地址: | 541004 廣西壯*** | 國省代碼: | 廣西;45 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 凹面 陣列 石墨 金屬 異質結 光電 探測器 | ||
1.凹面陣列的石墨烯-金屬異質結光電探測器,其特征在于:包括襯底(1);所述襯底(1)上由下至上依次設置有絕緣層(2)、生長層(3)、石墨烯層(4);
所述襯底(1)上設置有一個或者陣列分布的向下凹陷的凹槽(11);所述絕緣層(2)上設置有向下凸起,且與凹槽(11)匹配的第一凸面(21);所述凹槽(11)與第一凸面(21)一一對應;
所述生長層(3)上設置有向下凸起,且與第一凸面(21)的內凹槽匹配的第二凸面(31);所述第一凸面(21)的內凹槽與第二凸面(31)一一對應;
所述石墨烯層(4)上設置有向下凸起,且與第二凸面(31)的內凹槽匹配的第三凸面(41);所述第二凸面(31)的內凹槽與第三凸面(41)一一對應;
所述石墨烯層(4)的第三凸面(41)的內凹槽內壁上設置有增透層(5);所述石墨烯層(4)上第三凸面(41)內凹槽的兩側分別設置有波浪形叉指的高功函電極(6)和低功函電極(7)。
2.根據權利要求1所述的凹面陣列的石墨烯-金屬異質結光電探測器,其特征在于:所述襯底(1)上設置有3X3陣列分布的向下凹陷的凹槽(11)。
3.根據權利要求1所述的凹面陣列的石墨烯-金屬異質結光電探測器,其特征在于:所述絕緣層(2)采用二氧化硅薄膜。
4.根據權利要求1所述的凹面陣列的石墨烯-金屬異質結光電探測器,其特征在于:所述凹槽(11)為半球形凹槽。
5.根據權利要求1所述的凹面陣列的石墨烯-金屬異質結光電探測器,其特征在于:所述生長層采用先沉積Cu或Au或Ag或Mo或Gr,厚度為30至70納米,再沉積Ni,厚度為30至70納米的生長層;或者所述生長層位直接沉積的一層30至70納米的三氧化二鋁。
6.根據權利要求5所述的凹面陣列的石墨烯-金屬異質結光電探測器,其特征在于:所述石墨烯層(4)采用CVD法在生長層(3)上直接生長的石墨烯薄膜;且石墨烯薄膜的層數為1~10層。
7.根據權利要求6所述的凹面陣列的石墨烯-金屬異質結光電探測器,其特征在于:所述增透層(5)采用厚度為30~100納米的二氧化硅薄膜。
8.根據權利要求7所述的凹面陣列的石墨烯-金屬異質結光電探測器,其特征在于:所述低功函電極(7)采用鈦(Ti)、鉑(Pt)、錳(Mn)、鋰(Li)、或鋁(Al);厚度為50~100納米。
9.根據權利要求8所述的凹面陣列的石墨烯-金屬異質結光電探測器,其特征在于:所述高功函電極(6)采用金(Au)、銀(Ag)、鎳(Ni)或鈀(Pd),厚度為50~100納米。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L31-00 對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專門適用于把這樣的輻射能轉換為電能的,或者專門適用于通過這樣的輻射進行電能控制的半導體器件;專門適用于制造或處理這些半導體器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個共用襯底內或其上形成的,一個或多個電光源,如場致發光光源在結構上相連的,并與其電光源在電氣上或光學上相耦合的





