[實用新型]超低頻介質損耗測試系統

有效

• 申請號: 201920919864.1
• 申請日: 2019-06-19
• 公開（公告）號: CN210199207U
• 公開（公告）日: 2020-03-27
• 發明（設計）人: 余月仙;邵建康;李素強
• 申請（專利權）人: 上海大帆電氣設備有限公司
• 主分類號: G01R27/26
• 分類號: G01R27/26
• 代理公司: 合肥方舟知識產權代理事務所(普通合伙) 34158
• 代理人: 宋萍

本實用新型公開了超低頻介質損耗測試系統，包括測試電路、升壓電路、相位差提取與測量系統、主控單元、介質電橋、電路檢測單元、數字屏蔽單元、信號調節單元、A/D采集單元、顯示模塊、CPU控制模塊、通訊模塊和打印模塊，此介質損耗測試系統在介質損耗角正切測試過零時間差原理的基礎上，針對超低頻電源頻率低的特點，通過測試電路設置的測量系統及電阻，使得測量的精度得到了提高，有效地消除了用電阻采樣電流時所帶來的誤差，數字屏蔽通訊單元作用是通過數字屏蔽電纜傳輸信號，具有很強的抗電磁干擾能力，使得試驗的結果更加準確可靠。

技術領域

本實用新型涉及電力損耗檢測技術領域，具體為超低頻介質損耗測試系統。

背景技術

目前，電氣設備的絕緣結構均由各種絕緣介質所構成，由于介質的電導，極性介質中偶極子轉動時的摩擦以及介質中的氣隙放電，使處在高電壓下的介質(或整個絕緣結構)是有損耗的，這種損耗稱為介質損耗，而在超低頻電壓下，對流對電纜介質的電流的采樣不能采用用電流互感器，而只能采用采樣電阻，但是采樣電阻的接入將會對介質損耗角正切的測試帶來誤差，且誤差較大，影響對介質損耗測量的結果，且抗干擾性差，容易受其他因素的影響，并不能進行模擬測量工作。

實用新型內容

本實用新型解決的技術問題在于克服現有技術的誤差較大和抗干擾性差等缺陷，提供超低頻介質損耗測試系統。所述超低頻介質損耗測試系統具有測量精準和抗干擾性強等特點。

為實現上述目的，本實用新型提供如下技術方案：超低頻介質損耗測試系統，包括測試電路、升壓電路、相位差提取與測量系統、主控單元和介質電橋，所述測試電路的輸出端設置有升壓電路，所述升壓電路由電流信號放大與處理電流與電壓信號放大與處理電流組成，且升壓電路的輸出端電性連接相位差提取與測量系統，所述相位差提取與測量系統與升壓電路之間設置有介質電橋，所述介質電橋包括電路檢測單元、數字屏蔽單元、信號調節單元和A/D采集單元，所述電路檢測單元作用是檢測試品的絕緣情況及各項參數，所述信號調節單元用于調節電信號的強度，從而得出不同信號強度下的數據，所述A/D采集單元作用是采集相應的電信號，然后傳輸到主控單元，所述相位差提取與測量系統的輸出端連接主控單元，所述主控單元包括顯示模塊、CPU控制模塊、通訊模塊和打印模塊，所述顯示模塊與顯示器電性連接，所述顯示模塊用于將試驗數據通過顯示器顯示出來，所述通訊模塊與CPU控制模塊連接，所述通訊模塊作用是將檢測數據通過電信號的形式傳輸到計算機，便于分析與處理。

優選的，所述測試電路由測試電源和三個電阻組成，兩個所述電阻之間串聯，另外一個所述電阻與測試電容連接，所述測試電容和兩個串聯電阻之間并聯，通過測試電路設置的測量系統及電阻，使得測量的精度得到了提高，有效地消除了用電阻采樣電流時所帶來的誤差。

優選的，所述CPU控制模塊與相位差提取與測量系統的輸出端信號連接，保障了此系統的正常進行。

優選的，所述數字屏蔽單元的輸入端電性連接測試電路，數字屏蔽單元作用是通過數字屏蔽電纜傳輸信號，具有很強的抗電磁干擾能力，使得試驗的結果更加準確可靠。

優選的，所述顯示模塊為LCD液晶顯示屏設置，顯示效果好。

與現有技術相比，本實用新型的有益效果是：

1、此介質損耗測試系統在介質損耗角正切測試過零時間差原理的基礎上，針對超低頻電源頻率低的特點，通過測試電路設置的測量系統及電阻，使得測量的精度得到了提高，有效地消除了用電阻采樣電流時所帶來的誤差，按照模塊開發的原則，設計了相應的介質損耗測試系統來提高測量精度，該介質損耗測試系統可直接用于頻率非0.1Hz的其它超低頻電源下的電纜介質損耗角正切的測量；

2、數字屏蔽通訊單元作用是通過數字屏蔽電纜傳輸信號，具有很強的抗電磁干擾能力，使得試驗的結果更加準確可靠，并且該介質損耗測試系統還可以通過信號調節單元的設置，用于調節電信號的強度，從而得出不同信號強度下的數據，使得測量結果變得更加豐富。