[實用新型]超低頻介質損耗測試系統

有效

• 申請號: 201920919864.1
• 申請日: 2019-06-19
• 公開（公告）號: CN210199207U
• 公開（公告）日: 2020-03-27
• 發明（設計）人: 余月仙;邵建康;李素強
• 申請（專利權）人: 上海大帆電氣設備有限公司
• 主分類號: G01R27/26
• 分類號: G01R27/26
• 代理公司: 合肥方舟知識產權代理事務所(普通合伙) 34158
• 代理人: 宋萍

1.超低頻介質損耗測試系統，包括測試電路(1)、升壓電路(2)、相位差提取與測量系統(3)、主控單元(4)和介質電橋(5)，其特征在于：所述測試電路(1)的輸出端設置有升壓電路(2)，所述升壓電路(2)由電流信號放大與處理電路與電壓信號放大與處理電路組成，且升壓電路(2)的輸出端電性連接相位差提取與測量系統(3)，所述相位差提取與測量系統(3)與升壓電路(2)之間設置有介質電橋(5)，所述介質電橋(5)包括電路檢測單元(51)、數字屏蔽單元(52)、信號調節單元(53)和A/D采集單元(54)，所述電路檢測單元(51)作用是檢測試品的絕緣情況及各項參數，所述信號調節單元(53)用于調節電信號的強度，從而得出不同信號強度下的數據，所述A/D采集單元(54)作用是采集相應的電信號，然后傳輸到主控單元(4)，所述相位差提取與測量系統(3)的輸出端連接主控單元(4)，所述主控單元(4)包括顯示模塊(41)、CPU控制模塊(42)、通訊模塊(43)和打印模塊(44)，所述顯示模塊(41)與顯示器電性連接，所述顯示模塊(41)用于將試驗數據通過顯示器顯示出來，所述通訊模塊(43)與CPU控制模塊(42)連接，所述通訊模塊(43)作用是將檢測數據通過電信號的形式傳輸到計算機，便于分析與處理。

2.根據權利要求1所述的超低頻介質損耗測試系統，其特征在于：所述測試電路(1)由測試電源和三個電阻組成，兩個所述電阻之間串聯，另外一個所述電阻與測試電容連接，所述測試電容和兩個串聯電阻之間并聯。

3.根據權利要求1所述的超低頻介質損耗測試系統，其特征在于：所述CPU控制模塊(42)與相位差提取與測量系統(3)的輸出端信號連接。

4.根據權利要求1所述的超低頻介質損耗測試系統，其特征在于：所述數字屏蔽單元(52)的輸入端電性連接測試電路(1)。

5.根據權利要求1所述的超低頻介質損耗測試系統，其特征在于：所述顯示模塊(41)為LCD液晶顯示屏設置。