[實用新型]一種共聚焦拉曼-光電流測試系統(tǒng)

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201920884061.7
• 申請日: 2019-06-12
• 公開（公告）號: CN210198964U
• 公開（公告）日: 2020-03-27
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 文煜;王勤生;許晨旭;楊永強(qiáng);趙衛(wèi)芳;程小豹
• 申請（專利權(quán)）人: 江蘇省特種設(shè)備安全監(jiān)督檢驗研究院
• 主分類號: G01N21/65
• 分類號: G01N21/65;G01N23/227
• 代理公司: 無錫華源專利商標(biāo)事務(wù)所(普通合伙) 32228
• 代理人: 聶啟新

1.一種共聚焦拉曼-光電流測試系統(tǒng)，包括待測試樣品，其特征在于，所述共聚焦拉曼-光電流測試系統(tǒng)包括主控設(shè)備、測試臺、激光器、分光器、顯微物鏡、光譜儀、電學(xué)探針以及鎖相放大器；所述待測試樣品放置在所述測試臺上，所述顯微物鏡正對所述測試臺上的所述待測試樣品，所述激光器發(fā)出的激光信號經(jīng)所述分光器分光后被所述顯微物鏡聚焦于所述待測試樣品上，所述待測試樣品產(chǎn)生的拉曼信號被所述顯微物鏡收集并耦合到所述光譜儀，所述光譜儀電性連接所述主控設(shè)備；所述測試臺上接有所述電學(xué)探針，所述電學(xué)探針與所述待測試樣品的電極相接觸，所述電學(xué)探針連接所述鎖相放大器，所述鎖相放大器連接至所述主控設(shè)備，所述主控設(shè)備分別或同時對所述待測試樣品進(jìn)行拉曼測試和光電流測試。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的共聚焦拉曼-光電流測試系統(tǒng)，其特征在于，所述電學(xué)探針通過源表連接所述鎖相放大器，所述源表用于通過所述電學(xué)探針對所述待測試樣品施加零偏壓并測量自驅(qū)動樣品的光電響應(yīng)，或者，所述源表用于通過所述電學(xué)探針對所述待測試樣品施加非零偏壓并測量非自驅(qū)動樣品的光電響應(yīng)。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的共聚焦拉曼-光電流測試系統(tǒng)，其特征在于，所述測試臺為電動測試臺，所述測試臺包括第一位移驅(qū)動裝置和第二位移驅(qū)動裝置，所述主控設(shè)備連接并驅(qū)動所述第一位移驅(qū)動裝置和第二位移驅(qū)動裝置，所述第一位移驅(qū)動裝置和第二位移驅(qū)動裝置分別用于驅(qū)動所述測試臺在水平面相垂直的兩個方向移動，所述測試臺帶動所述待測試樣品相對所述顯微物鏡和所述電學(xué)探針移動。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的共聚焦拉曼-光電流測試系統(tǒng)，其特征在于，所述激光器為多點線激光模組。