[實用新型]一種半導體開短路測試設備

有效

• 申請號: 201920841309.1
• 申請日: 2019-06-05
• 公開（公告）號: CN210136293U
• 公開（公告）日: 2020-03-10
• 發明（設計）人: 邢小亮
• 申請（專利權）人: 無錫世百德微電子有限公司
• 主分類號: G01R31/52
• 分類號: G01R31/52;G01R31/54;G01R31/26;G01R1/04
• 代理公司: 南京禾易知識產權代理有限公司 32320
• 代理人: 李海霞

本實用新型公開了一種半導體開短路測試設備，包括測試設備本體，所述測試設備本體的頂部轉動連接有支撐柱，所述支撐柱的一側固定連接有卡塊，所述卡塊上滑動插設有卡桿，所述測試設備本體的頂部環繞設有與卡桿對應的多個卡槽，所述卡桿靠近測試設備本體的一端固定套接有卡套，所述卡桿遠離卡套的一端固定連接有拉桿，所述支撐柱遠離卡塊的一側設有滑槽，所述滑槽內轉動連接有螺桿，所述螺桿上螺紋套接有支撐板，所述螺桿的一端貫穿滑槽的內頂部并向上延伸，所述螺桿延伸的一端固定連接有旋鈕。本實用新型通過多處調節機構的設置，使裝置可以很好的對半導體進行固定調節，從而提升了測試設備的檢測效率。

技術領域

本實用新型涉及技術領域，具體涉及一種半導體開短路測試設備。

背景技術

在測試驗證階段，對集成電路的測試驗證是一項復雜繁瑣又極需耐心和細心的工作，需要測試人員利用性能優良的儀器設備對集成電路進行細致嚴謹的測試驗證，只有嚴格的測試驗證才能保證集成電路的質量和生命力。集成電路的測試，特別是包含高速數字控制、高壓、大電流、多通道輸出和曲線變化快的等離子掃描半導體芯片，半導體芯片測試是一項復雜的工作。

但是現有的半導體開短路測試設備的外部構造較為簡單，測試設備上缺少對半導體進行夾持和固定的機構，從而影響半導體的測試效率。

實用新型內容

(一)要解決的技術問題

為了克服現有技術不足，現提出一種半導體開短路測試設備，使測試設備上可以很好的對半導體進行夾持和固定。

(二)技術方案

本實用新型通過如下技術方案實現：本實用新型提出了一種半導體開短路測試設備，包括測試設備本體，所述測試設備本體的頂部轉動連接有支撐柱，所述支撐柱的一側固定連接有卡塊，所述卡塊上滑動插設有卡桿，所述測試設備本體的頂部環繞設有與卡桿對應的多個卡槽，所述卡桿靠近測試設備本體的一端固定套接有卡套，所述卡桿遠離卡套的一端固定連接有拉桿，所述支撐柱遠離卡塊的一側設有滑槽，所述滑槽內轉動連接有螺桿，所述螺桿上螺紋套接有支撐板，所述螺桿的一端貫穿滑槽的內頂部并向上延伸，所述螺桿延伸的一端固定連接有旋鈕，所述支撐板遠離螺桿的一端設有通口，所述通口內固定連接有滑桿，所述滑桿上滑動套接有相對設置的兩個夾持板，兩個所述夾持板的頂部通過花籃螺絲連接。

進一步的，所述卡桿上套設有彈簧，所述彈簧的兩端分別與卡套和卡塊固定連接。

進一步的，所述夾持板上設有與滑桿對應的滑口，所述滑口內滑動連接有多個滾珠，所述滾珠的邊緣與滑桿相接觸。

進一步的，兩個所述夾持板相對一側的底部均固定連接有緩沖墊。

進一步的，所述測試設備本體的頂部固定連接有與通口位置對應的置物臺。

進一步的，所述旋鈕上的外壁上固定套接有橡膠墊。

(三)有益效果

本實用新型相對于現有技術，具有以下有益效果：

1)先將半導體放置在兩個夾持板之間，然后轉動花籃螺絲帶動夾持板固定住半導體，然后轉動旋鈕帶動螺桿轉動，從而帶動支撐板上下移動，調節半導體的高度，然后轉動支撐柱調節半導體的方向，然后利用卡桿固定住支撐柱，本實用新型通過多處調節機構的設置，使裝置可以很好的對半導體進行固定調節，從而提升了測試設備的檢測效率；

2)當夾持板移動時，滾珠可以進行夾持板與滑桿之間的摩擦力，同時緩沖墊可以對半導體起到一定的彈性緩沖作用，同時彈簧可以對卡桿提到一定的彈性支撐作用。

附圖說明

圖1是本實用新型的正視結構示意圖。

圖2是本實用新型支撐板處的俯視結構示意圖。