[實用新型]一種半導體開短路測試設備

有效

• 申請號: 201920841309.1
• 申請日: 2019-06-05
• 公開（公告）號: CN210136293U
• 公開（公告）日: 2020-03-10
• 發明（設計）人: 邢小亮
• 申請（專利權）人: 無錫世百德微電子有限公司
• 主分類號: G01R31/52
• 分類號: G01R31/52;G01R31/54;G01R31/26;G01R1/04
• 代理公司: 南京禾易知識產權代理有限公司 32320
• 代理人: 李海霞

1.一種半導體開短路測試設備，包括測試設備本體(1)，其特征在于，所述測試設備本體(1)的頂部轉動連接有支撐柱(2)，所述支撐柱(2)的一側固定連接有卡塊(3)，所述卡塊(3)上滑動插設有卡桿(4)，所述測試設備本體(1)的頂部環繞設有與卡桿(4)對應的多個卡槽，所述卡桿(4)靠近測試設備本體(1)的一端固定套接有卡套(5)，所述卡桿(4)遠離卡套(5)的一端固定連接有拉桿(6)，所述支撐柱(2)遠離卡塊(3)的一側設有滑槽，所述滑槽內轉動連接有螺桿(7)，所述螺桿(7)上螺紋套接有支撐板(8)，所述螺桿(7)的一端貫穿滑槽的內頂部并向上延伸，所述螺桿(7)延伸的一端固定連接有旋鈕(9)，所述支撐板(8)遠離螺桿(7)的一端設有通口，所述通口內固定連接有滑桿(10)，所述滑桿(10)上滑動套接有相對設置的兩個夾持板(11)，兩個所述夾持板(11)的頂部通過花籃螺絲(12)連接。

2.根據權利要求1所述的一種半導體開短路測試設備，其特征在于：所述卡桿(4)上套設有彈簧(13)，所述彈簧(13)的兩端分別與卡套(5)和卡塊(3)固定連接。

3.根據權利要求1所述的一種半導體開短路測試設備，其特征在于：所述夾持板(11)上設有與滑桿(10)對應的滑口，所述滑口內滑動連接有多個滾珠(14)，所述滾珠(14)的邊緣與滑桿(10)相接觸。

4.根據權利要求1所述的一種半導體開短路測試設備，其特征在于：兩個所述夾持板(11)相對一側的底部均固定連接有緩沖墊。

5.根據權利要求1所述的一種半導體開短路測試設備，其特征在于：所述測試設備本體(1)的頂部固定連接有與通口位置對應的置物臺(15)。

6.根據權利要求1所述的一種半導體開短路測試設備，其特征在于：所述旋鈕(9)上的外壁上固定套接有橡膠墊。