[實(shí)用新型]基于MPPC陣列的α、β和γ表面污染儀探測(cè)器

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201920745114.7
• 申請(qǐng)日: 2019-05-23
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN210294539U
• 公開(kāi)（公告）日: 2020-04-10
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 張志勇;劉思平;李晨
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 上海仁機(jī)儀器儀表有限公司
• 主分類(lèi)號(hào): G01T1/167
• 分類(lèi)號(hào): G01T1/167;G01T1/20
• 代理公司: 上海領(lǐng)洋專(zhuān)利代理事務(wù)所(普通合伙) 31292
• 代理人: 羅曉鵬

本實(shí)用新型公開(kāi)了一種基于MPPC陣列的α、β和γ表面污染儀探測(cè)器，該探測(cè)器包括探測(cè)粒子所產(chǎn)生的光子的雙閃探測(cè)器，用于將所述雙閃探測(cè)器探測(cè)到的光子進(jìn)行反射的反射碗(1)，用于接收所述反射碗反射的光子并將光信號(hào)轉(zhuǎn)換成電荷信號(hào)的硅光電倍增器，以及用于對(duì)所述硅光電倍增器形成的電荷信號(hào)進(jìn)行活度測(cè)量的信號(hào)處理電路。本實(shí)用新型提供的探測(cè)器利用硅光電倍增器實(shí)現(xiàn)光信號(hào)與電荷信號(hào)之間的轉(zhuǎn)換硅光電倍增器電壓低、體積小、可陣列使用，解決了探測(cè)面的位置響應(yīng)差的問(wèn)題。

技術(shù)領(lǐng)域

本實(shí)用新型涉及一種基于MPPC陣列的α、β和γ表面污染儀探測(cè)器。

背景技術(shù)

目前的表面污染儀，一般采用雙閃探測(cè)器作為α、β和γ探測(cè)器，通過(guò)光電倍增管(PMT)作為光電轉(zhuǎn)換器件把光子轉(zhuǎn)換為電子，再配合運(yùn)放和比較器輸出核脈沖，從而完成整個(gè)測(cè)量過(guò)程。

現(xiàn)有的α、β和γ表面污染儀，由于使用PMT作為光電轉(zhuǎn)換器件，其體積大、需要幾百甚至上千伏的高壓才能工作、而且探測(cè)面的位置響應(yīng)一致性比較差。

實(shí)用新型內(nèi)容

為了解決現(xiàn)有技術(shù)中所存在的問(wèn)題，本實(shí)用新型的目的在于提供一種體積小，能夠解決探測(cè)面的位置相應(yīng)差的問(wèn)題的基于MPPC陣列的α、β和γ表面污染儀探測(cè)器。

為實(shí)現(xiàn)本實(shí)用新型的目的，在此提供基于MPPC陣列的α、β和γ表面污染儀探測(cè)器包括：

雙閃探測(cè)器，探測(cè)粒子所產(chǎn)生的光子；

反射碗，用于將所述雙閃探測(cè)器探測(cè)到的光子進(jìn)行反射；

硅光電倍增器，用于接收所述反射碗反射的光子并將光信號(hào)轉(zhuǎn)換成電荷信號(hào)；

信號(hào)處理電路，用于對(duì)所述硅光電倍增器形成的電荷信號(hào)進(jìn)行活度測(cè)量。

進(jìn)一步的，所述信號(hào)處理電路包括依次串聯(lián)的運(yùn)算放大器、比較器和計(jì)數(shù)器。

進(jìn)一步的，本實(shí)用新型提供的探測(cè)器還包括設(shè)置于所述雙閃探測(cè)器光子探測(cè)面的避光膜。

進(jìn)一步的，本實(shí)用新型所提供的探測(cè)器還包括貼靠所述避光膜設(shè)置的保護(hù)網(wǎng)。

本實(shí)用新型的有有益效果是：本實(shí)用新型提供的探測(cè)器利用硅光電倍增器實(shí)現(xiàn)光信號(hào)與電荷信號(hào)之間的轉(zhuǎn)換硅光電倍增器電壓低、體積小、可陣列使用，解決了探測(cè)面的位置響應(yīng)差的問(wèn)題。

附圖說(shuō)明

圖1為本實(shí)用新型所提供的基于MPPC陣列的α、β和γ表面污染儀探測(cè)器的結(jié)構(gòu)圖；

圖2為本實(shí)用新型所提供的基于MPPC陣列的α、β和γ表面污染儀探測(cè)器的原理框圖；

圖中：1-反射碗，2-保護(hù)網(wǎng)，3-雙閃探測(cè)器支架，4-第一PCB板，5-第二PCB板，6-避光膜支架，7-螺絲。

具體實(shí)施方式

在此詳細(xì)地對(duì)示例性實(shí)施例進(jìn)行說(shuō)明，該示例在附圖中，下面的描述涉及附圖時(shí)，除非另有說(shuō)明，不同附圖中的相同數(shù)字表示相同或相似的要素。

為了解決現(xiàn)有表面污染儀存在體積大、探測(cè)面的位置響應(yīng)一致性比較差問(wèn)題，本實(shí)用新型提供一種基于MPPC陣列的α、β和γ表面污染儀探測(cè)器，該探測(cè)器包括：

雙閃探測(cè)器，探測(cè)粒子所產(chǎn)生的光子；

反射碗1，用于將雙閃探測(cè)器探測(cè)到的光子進(jìn)行反射；

硅光電倍增器，用于接收反射碗反射的光子并將光信號(hào)轉(zhuǎn)換成電荷信號(hào)；

信號(hào)處理電路，用于對(duì)硅光電倍增器形成的電荷信號(hào)進(jìn)行活度測(cè)量。