[實(shí)用新型]基于MPPC陣列的α、β和γ表面污染儀探測(cè)器有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201920745114.7 | 申請(qǐng)日： | 2019-05-23 |
| 公開(kāi)（公告）號(hào)： | CN210294539U | 公開(kāi)（公告）日： | 2020-04-10 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 張志勇;劉思平;李晨 | 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人： | 上海仁機(jī)儀器儀表有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào)： | G01T1/167 | 分類(lèi)號(hào)： | G01T1/167;G01T1/20 |
| 代理公司： | 上海領(lǐng)洋專(zhuān)利代理事務(wù)所(普通合伙) 31292 | 代理人： | 羅曉鵬 |
| 地址： | 200124 上海市崇明區(qū)橫沙鄉(xiāng)富*** | 國(guó)省代碼： | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書(shū)： | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū)： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 基于 mppc 陣列 表面 污染 探測(cè)器 | ||
1.一種基于MPPC陣列的α、β和γ表面污染儀探測(cè)器，其特征在于：該探測(cè)器包括：
雙閃探測(cè)器，探測(cè)粒子所產(chǎn)生的光子；
反射碗(1)，用于將所述雙閃探測(cè)器探測(cè)到的光子進(jìn)行反射；
硅光電倍增器，用于接收所述反射碗反射的光子并將光信號(hào)轉(zhuǎn)換成電荷信號(hào)；
信號(hào)處理電路，用于對(duì)所述硅光電倍增器形成的電荷信號(hào)進(jìn)行活度測(cè)量。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于MPPC陣列的α、β和γ表面污染儀探測(cè)器，其特征在于：所述信號(hào)處理電路包括依次串聯(lián)的運(yùn)算放大器、比較器和計(jì)數(shù)器。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的基于MPPC陣列的α、β和γ表面污染儀探測(cè)器，其特征在于：還包括設(shè)置于所述雙閃探測(cè)器光子探測(cè)面的避光膜。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的基于MPPC陣列的α、β和γ表面污染儀探測(cè)器，其特征在于：還包括貼靠所述避光膜設(shè)置的保護(hù)網(wǎng)(2)。
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