[實用新型]集成電路引線框架缺陷檢測裝置

有效

• 申請號: 201920654017.7
• 申請日: 2019-05-05
• 公開（公告）號: CN210221842U
• 公開（公告）日: 2020-03-31
• 發明（設計）人: 王敕;李錫凡;陸城燕
• 申請（專利權）人: 蘇州艾科瑞思智能裝備股份有限公司
• 主分類號: G01N21/88
• 分類號: G01N21/88;G01N21/13
• 代理公司: 蘇州國誠專利代理有限公司 32293
• 代理人: 楊淑霞

本實用新型提供一種集成電路引線框架缺陷檢測裝置，其包括：兩個視覺檢測工位，其中任一視覺檢測工位包括：上料機構、推料機構、下料機構、檢測機構。本實用新型的集成電路引線框架缺陷檢測裝置能夠實現線框的自動上料、檢測、下料以及分揀，其有利于線框的快速、精確檢測，充分滿足了現代化工業生產的實際需求，有利于保障后續與集成電路芯片的良好配合。

技術領域

本實用新型涉及線框質量檢測技術領域，尤其涉及一種集成電路引線框架缺陷檢測裝置。

背景技術

引線框架作為集成電路的芯片載體，是一種借助于鍵合金絲實現芯片內部電路引出端與外引線的電氣連接，形成電氣回路的關鍵結構件，它起到了和外部導線連接的橋梁作用，絕大部分的半導體集成塊中都需要使用引線框架，是電子信息產業中重要的基礎材料。引線框架主要用模具沖壓法和化學刻蝕法進行生產，因此如何針對生產的引線框架的質量進行檢測，以保證與集成電路的芯片進行良好的配合，有必要提出進一步地解決方案。

實用新型內容

本實用新型旨在提供一種，以克服現有技術中存在的不足。

為解決上述技術問題，本實用新型的技術方案是：

一種集成電路引線框架缺陷檢測裝置，其包括：兩個視覺檢測工位，其中任一視覺檢測工位包括：上料機構、推料機構、下料機構、檢測機構；

所述上料機構位于所述檢測機構的上料端，其包括：來料盒、隔紙盒、上料機械手，所述隔紙盒位于所述來料盒的一側，所述上料機械手包括：上料機械臂以及設置于所述上料機械臂上的若干上料頭，所述上料機械臂帶動其上的若干上料頭進行X方向以及Z方向的往復運動；

所述推料機構位于所述檢測機構的上料端，并位于所述上料機構的一側，其包括：推料桿、推料平臺，所述推料桿設置于所述推料平臺的一側，并推動所述推料平臺自所述上料端至所述檢測機構上；

所述檢測機構包括：沿Y方向布置的直線電機以及設置于所述直線電機上方的多個檢測相機，所述多個檢測相機按照所述Y方向間隔設置；

所述下料機構位于所述檢測機構的下料端，其包括：良品盒、隔紙盒、不良品盒、下料機械手，所述良品盒、隔紙盒、不良品盒沿X方向并排設置，所述下料機械手包括：下料機械臂以及設置于所述下料機械臂上的若干下料頭，所述下料機械臂帶動其上的若干下料頭進行X方向以及Z方向的往復運動。

作為本實用新型的集成電路引線框架缺陷檢測裝置改進，兩個視覺檢測工位集成設置于一個機臺上，且兩個視覺檢測工位中心對稱設置。

作為本實用新型的集成電路引線框架缺陷檢測裝置改進，所述上料機構還包括：上料輸送線，所述上料輸送線一端延伸至上料位，所述來料盒由所述上料輸送線送至所述上料端。

作為本實用新型的集成電路引線框架缺陷檢測裝置改進，所述上料機械臂由一X方向布置的第一絲桿驅動進行X方向的往復運動，所述第一絲桿的絲桿座與Z方向布置的第一氣缸傳動連接進行Z方向的往復運動。

作為本實用新型的集成電路引線框架缺陷檢測裝置改進，所述上料頭為兩個，兩個上料頭按照所述來料盒與隔紙盒之間的中心間距間隔排布于所述上料機械臂上。

作為本實用新型的集成電路引線框架缺陷檢測裝置改進，所述推料桿與第三氣缸傳動連接，由第三氣缸驅動沿Y方向進行推料動作，所述推料平臺下方設置有輔助其滑動至檢測機構上的軌道。

作為本實用新型的集成電路引線框架缺陷檢測裝置改進，所述檢測機構還包括設置于所述直線電機一側的輔助所述推料平臺運動的線軌。

作為本實用新型的集成電路引線框架缺陷檢測裝置改進，所述良品盒分布于所述隔紙盒的一側，所述不良品盒分布于所述隔紙盒的另一側，所述良品盒與所述隔紙盒的中心間距與所述不良品盒與隔紙盒的中心間距保持一致，所述下料頭為兩個，兩個下料頭按照所述中心間距間隔排布于所述下料機械臂上。