[實用新型]集成電路引線框架缺陷檢測裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201920654017.7
• 申請日: 2019-05-05
• 公開（公告）號: CN210221842U
• 公開（公告）日: 2020-03-31
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 王敕;李錫凡;陸城燕
• 申請（專利權(quán)）人: 蘇州艾科瑞思智能裝備股份有限公司
• 主分類號: G01N21/88
• 分類號: G01N21/88;G01N21/13
• 代理公司: 蘇州國誠專利代理有限公司 32293
• 代理人: 楊淑霞

1.一種集成電路引線框架缺陷檢測裝置，其特征在于，所述集成電路引線框架缺陷檢測裝置包括：兩個視覺檢測工位，其中任一視覺檢測工位包括：上料機構(gòu)、推料機構(gòu)、下料機構(gòu)、檢測機構(gòu)；

所述上料機構(gòu)位于所述檢測機構(gòu)的上料端，其包括：來料盒、隔紙盒、上料機械手，所述隔紙盒位于所述來料盒的一側(cè)，所述上料機械手包括：上料機械臂以及設(shè)置于所述上料機械臂上的若干上料頭，所述上料機械臂帶動其上的若干上料頭進行X方向以及Z方向的往復(fù)運動；

所述推料機構(gòu)位于所述檢測機構(gòu)的上料端，并位于所述上料機構(gòu)的一側(cè)，其包括：推料桿、推料平臺，所述推料桿設(shè)置于所述推料平臺的一側(cè)，并推動所述推料平臺自所述上料端至所述檢測機構(gòu)上；

所述檢測機構(gòu)包括：沿Y方向布置的直線電機以及設(shè)置于所述直線電機上方的多個檢測相機，所述多個檢測相機按照所述Y方向間隔設(shè)置；

所述下料機構(gòu)位于所述檢測機構(gòu)的下料端，其包括：良品盒、隔紙盒、不良品盒、下料機械手，所述良品盒、隔紙盒、不良品盒沿X方向并排設(shè)置，所述下料機械手包括：下料機械臂以及設(shè)置于所述下料機械臂上的若干下料頭，所述下料機械臂帶動其上的若干下料頭進行X方向以及Z方向的往復(fù)運動。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的集成電路引線框架缺陷檢測裝置，其特征在于，兩個視覺檢測工位集成設(shè)置于一個機臺上，且兩個視覺檢測工位中心對稱設(shè)置。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的集成電路引線框架缺陷檢測裝置，其特征在于，所述上料機構(gòu)還包括：上料輸送線，所述上料輸送線一端延伸至上料位，所述來料盒由所述上料輸送線送至所述上料端。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的集成電路引線框架缺陷檢測裝置，其特征在于，所述上料機械臂由一X方向布置的第一絲桿驅(qū)動進行X方向的往復(fù)運動，所述第一絲桿的絲桿座與Z方向布置的第一氣缸傳動連接進行Z方向的往復(fù)運動。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的集成電路引線框架缺陷檢測裝置，其特征在于，所述上料頭為兩個，兩個上料頭按照所述來料盒與隔紙盒之間的中心間距間隔排布于所述上料機械臂上。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的集成電路引線框架缺陷檢測裝置，其特征在于，所述推料桿與第三氣缸傳動連接，由第三氣缸驅(qū)動沿Y方向進行推料動作，所述推料平臺下方設(shè)置有輔助其滑動至檢測機構(gòu)上的軌道。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的集成電路引線框架缺陷檢測裝置，其特征在于，所述檢測機構(gòu)還包括設(shè)置于所述直線電機一側(cè)的輔助所述推料平臺運動的線軌。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的集成電路引線框架缺陷檢測裝置，其特征在于，所述良品盒分布于所述隔紙盒的一側(cè)，所述不良品盒分布于所述隔紙盒的另一側(cè)，所述良品盒與所述隔紙盒的中心間距與所述不良品盒與隔紙盒的中心間距保持一致，所述下料頭為兩個，兩個下料頭按照所述中心間距間隔排布于所述下料機械臂上。

9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的集成電路引線框架缺陷檢測裝置，其特征在于，所述下料機械臂由一X方向布置的第二絲桿驅(qū)動進行X方向的往復(fù)運動，所述第二絲桿的絲桿座與Z方向布置的第二氣缸傳動連接進行Z方向的往復(fù)運動。

10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的集成電路引線框架缺陷檢測裝置，其特征在于，所述上料機構(gòu)所在的底座的底部與一升降機構(gòu)相連接，所述升降機構(gòu)包括：步進電機、絲桿以及升降臺，所述絲桿一端與所述升降臺的底部固定連接，且所述絲桿與所述步進電機的電機軸通過斜螺紋進行配合。