[實用新型]一種熱電參數測試裝置

有效

• 申請號: 201920641925.2
• 申請日: 2019-05-07
• 公開（公告）號: CN209878636U
• 公開（公告）日: 2019-12-31
• 發明（設計）人: 邾根祥;朱沫浥;王亞東;李超
• 申請（專利權）人: 合肥科晶材料技術有限公司
• 主分類號: G01N25/00
• 分類號: G01N25/00;G01N27/04
• 代理公司: 34155 合肥東邦滋原專利代理事務所(普通合伙)
• 代理人: 張海燕

本實用新型公開了一種熱電參數測試裝置，分別在上導熱塊和下導熱塊上插設加熱片以及制冷管，在待測試樣品上下表面產生變動的或恒定的溫差，并通過插接在上導熱塊和下導熱塊內的熱電偶測量出待測試樣品上下表面的溫差，通過Seebeck檢測線測量樣品上下表面的電壓，從而有效的計算出待測試樣品的賽貝克系數，且利用四芯探針穿過真空腔體的上蓋、上導熱塊和上陶瓷片頂在待測試樣品上，采用四探針法測量待測試樣品的電阻率，本實用新型結構簡單，可有效提高樣品測量數據的準確性和穩定性。

技術領域

本實用新型屬于熱電測試技術領域，尤其涉及一種用于熱電塞貝克系數和電阻率參數測試的裝置。

背景技術

熱電材料在溫差發電和電制冷領域有廣泛的用途，熱電參數測試儀用于對熱電材料的塞貝克系數和電阻率進行實時測量，但是現有技術中沒有高低溫連續檢測樣品的裝置用于熱電參數測試。

實用新型內容

本實用新型的目的在于提供結構簡單、操作方便、穩定性好熱電參數測試裝置，實現高低溫連續檢測樣品。

本實用新型的目的可以通過以下技術方案實現：

一種熱電參數測試裝置，包括真空腔體，所述真空腔體內設有相對的上導熱塊和下導熱塊，所述上導熱塊和下導熱塊之間設有相對的上陶瓷片和下陶瓷片，所述上陶瓷片和下陶瓷片之間形成放置待測試樣品的樣品臺；

所述上導熱塊上方連接有空心的上支柱，所述上支柱穿過真空腔體的上蓋連接有接線板，所述上支柱內部設有四芯探針，所述四芯探針一端連接接線板，另一端依次穿過上導熱塊和上陶瓷片，與待測試樣品接觸；

所述上導熱塊和下導熱塊上均設有一個插槽和兩個相對的插孔，所述上導熱塊和下導熱塊上的插孔內均插接有熱電偶，所述上導熱塊上的插槽內插接有加熱片，所述下導熱塊的插槽內插接有制冷管。

所述下導熱塊通過保溫層連接真空腔體的底座，所述樣品臺一側設有 Seeback檢測線。

進一步地，所述真空腔體的上蓋上設有卡箍，所述上支柱插入卡箍內與卡箍活動連接，并通過安裝在卡箍一側的鎖緊螺栓固定。

進一步地，所述上導熱塊和上陶瓷片中部均設有探針通孔。

本實用新型的有益效果：本實用新型提供的熱電參數測試裝置，分別在上導熱塊和下導熱塊上插設加熱片以及制冷管，在待測試樣品上下表面產生變動的或恒定的溫差，并通過插接在上導熱塊和下導熱塊內的熱電偶測量出待測試樣品上下表面的溫差，通過Seebeck檢測線測量樣品上下表面的電壓，從而有效的計算出待測試樣品的賽貝克系數，且利用四芯探針穿過真空腔體的上蓋、上導熱塊和上陶瓷片頂在待測試樣品上，采用四探針法測量待測試樣品的電阻率，本實用新型結構簡單，可有效提高樣品測量數據的準確性和穩定性。

附圖說明

下面結合附圖和具體實施例對本實用新型作進一步詳細描述。

圖1是本實用新型的結構示意圖。

具體實施方式

下面將結合本實用新型實施例中的附圖，對本實用新型實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本實用新型一部分實施例，而不是全部的實施例。基于本實用新型中的實施例，本領域普通技術人員在沒有作出創造性勞動前提下所獲得的所有其它實施例，都屬于本實用新型保護的范圍。

在本實用新型的描述中，需要理解的是，術語“開孔”、“上”、“下”、“厚度”、“頂”、“中”、“長度”、“內”、“四周”等指示方位或位置關系，僅是為了便于描述本實用新型和簡化描述，而不是指示或暗示所指的組件或元件必須具有特定的方位，以特定的方位構造和操作，因此不能理解為對本實用新型的限制。