[實(shí)用新型]一種熱電參數(shù)測試裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201920641925.2 | 申請日： | 2019-05-07 |
| 公開（公告）號： | CN209878636U | 公開（公告）日： | 2019-12-31 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 邾根祥;朱沫浥;王亞東;李超 | 申請（專利權(quán)）人： | 合肥科晶材料技術(shù)有限公司 |
| 主分類號： | G01N25/00 | 分類號： | G01N25/00;G01N27/04 |
| 代理公司： | 34155 合肥東邦滋原專利代理事務(wù)所(普通合伙) | 代理人： | 張海燕 |
| 地址： | 230000 安徽省*** | 國省代碼： | 安徽;34 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 測試樣品 上導(dǎo)熱塊 上下表面 本實(shí)用新型 下導(dǎo)熱塊 溫差 測量 熱電偶測量 賽貝克系數(shù) 測試裝置 熱電參數(shù) 上陶瓷片 四探針法 樣品測量 真空腔體 電阻率 恒定的 加熱片 檢測線 制冷管 插接 插設(shè) 上蓋 四芯 探針 穿過 | ||
1.一種熱電參數(shù)測試裝置，其特征在于：包括真空腔體(1)，所述真空腔體(1)內(nèi)設(shè)有相對的上導(dǎo)熱塊(2)和下導(dǎo)熱塊(3)，所述上導(dǎo)熱塊(2)和下導(dǎo)熱塊(3)之間設(shè)有相對的上陶瓷片(4)和下陶瓷片(5)，所述上陶瓷片(4)和下陶瓷片(5)之間形成放置待測試樣品的樣品臺(6)；
所述上導(dǎo)熱塊(2)上方連接有空心的上支柱(7)，所述上支柱(7)穿過真空腔體(1)的上蓋連接有接線板(8)，所述上支柱(7)內(nèi)部設(shè)有四芯探針(11)，所述四芯探針(11)一端連接接線板(8)，另一端依次穿過上導(dǎo)熱塊(2)和上陶瓷片(4)，與待測試樣品接觸；
所述上導(dǎo)熱塊(2)和下導(dǎo)熱塊(3)上均設(shè)有一個(gè)插槽和兩個(gè)相對的插孔，所述上導(dǎo)熱塊(2)和下導(dǎo)熱塊(3)上的插孔內(nèi)均插接有熱電偶(12)，所述上導(dǎo)熱塊(2)上的插槽內(nèi)插接有加熱片(13)，所述下導(dǎo)熱塊(3)的插槽內(nèi)插接有制冷管(14)；
所述下導(dǎo)熱塊(3)通過保溫層(15)連接真空腔體(1)的底座，所述樣品臺(6)一側(cè)設(shè)有Seeback檢測線(16)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種熱電參數(shù)測試裝置，其特征在于：所述真空腔體(1)的上蓋上設(shè)有卡箍(9)，所述上支柱(7)插入卡箍(9)內(nèi)與卡箍(9)活動連接，并通過安裝在卡箍(9)一側(cè)的鎖緊螺栓(10)固定。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種熱電參數(shù)測試裝置，其特征在于：所述上導(dǎo)熱塊(2)和上陶瓷片(4)中部均設(shè)有探針通孔。
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