[實用新型]光掃描裝置和激光雷達

有效

• 申請號: 201920424820.1
• 申請日: 2019-04-01
• 公開（公告）號: CN210038328U
• 公開（公告）日: 2020-02-07
• 發明（設計）人: 魏威;譚斌
• 申請（專利權）人: 深圳市速騰聚創科技有限公司
• 主分類號: G02B26/10
• 分類號: G02B26/10;G02B26/08;G01S7/481
• 代理公司: 44224 廣州華進聯合專利商標代理有限公司
• 代理人: 陳小娜;景懷宇

本申請涉及一種光掃描裝置和激光雷達，所述裝置包括反射鏡、連接橋、反射鏡基底和消光件；所述反射鏡通過所述連接橋安裝在所述反射鏡基底上，所述消光件置于所述反射鏡基底前方；所述反射鏡,用于對入射光線進行反射；所述消光件,用于減少所述入射光線在所述反射鏡基底上產生的散射光。該裝置能夠使得激光雷達內部的散射光大大減少，減少了雜散光造成的探測盲區，使得激光雷達的接收探測能力大大提高。

技術領域

本申請涉及光學技術領域，特別是涉及一種光掃描裝置和激光雷達。

背景技術

隨著激光雷達技術的發展，人們對激光雷達的探測性能要求越來越高。

固態激光雷達中，通常使用微機電系統作為掃描的核心器件。然而，由于微機電系統自身對激光光束具有反射特性和散射特性，因此會在激光雷達的內部產生無序的雜散光；而激光雷達的接收探測器敏感度極高，對這些雜散光產生響應，導致近處的返回光信號淹沒于內部雜散光產生的信號中，產生較大的探測盲區。

實用新型內容

基于此，有必要針對上述技術問題，提供一種能夠減小探測盲區的光掃描裝置和激光雷達。

第一方面，本申請實施例提供一種一種光掃描裝置，所述裝置包括：反射鏡、連接橋、反射鏡基底和消光件；所述反射鏡通過所述連接橋安裝在所述反射鏡基底上，所述消光件置于所述反射鏡基底前方；

所述反射鏡,用于對入射光線進行反射；

所述消光件,用于減少所述入射光線在所述反射鏡基底上產生的散射光。

在其中一個實施例中，所述消光件為光闌，所述光闌設置在所述反射鏡的正面，所述光闌的通光孔對準所述反射鏡。

在其中一個實施例中，所述光闌的通光孔的面積大于或等于所述反射鏡的面積。

在其中一個實施例中，所述光闌按照預先的設定高度設置在所述反射鏡的正面；所述設定高度是根據所述入射光線的最大入射角、以及所述光闌與所述反射鏡的半徑差所確定的高度。

在其中一個實施例中，所述光闌的表面散射系數低于所述反射鏡基底正面的散射系數。

在其中一個實施例中，所述光闌上附著吸光膜或反光膜。

在其中一個實施例中，所述光闌的厚度小于預設的厚度閾值，所述厚度閾值通過不遮擋所述反射鏡反射的入射光線確定。

在其中一個實施例中，所述反射鏡基底的正面附有消光層，所述消光層用于減少所述反射鏡基底對所述入射光線的散射。

在其中一個實施例中，所述消光層為反光層或吸光層。

第二方面，本申請實施例提供一種激光雷達，所述激光雷達包括上述實施例中任一項所述的光掃描裝置。

上述光掃描裝置和激光雷達，光掃描裝置包括反射鏡、連接橋、反射鏡基底和消光件，其中，反射鏡通過連接橋安裝在反射鏡基底上，且反射鏡用于對入射光線進行反射；另外由于消光件置于反射鏡基底前方，且消光件能夠通過減少落在反射鏡基底上的入射光線，從而減少入射光線在反射鏡基底上產生的散射光；同時消光件表面的散射系數低于反射鏡基底正面的散射系統，進而使得激光雷達內部的散射光大大減少，減少了雜散光造成的探測盲區，使得激光雷達的接收探測能力大大提高。

附圖說明

圖1為一個實施例提供的光掃描裝置的結構示意圖；

圖2為一個激光雷達中主要光信號的產生路徑；

圖3為一個實施例中入射光斑超出反射鏡的示意圖；

圖4為預先的設定高度確定的示意圖。

附圖標記說明：