[實用新型]GaN基半導體器件結構有效
| 申請號: | 201920305794.0 | 申請日: | 2019-03-11 |
| 公開(公告)號: | CN209691720U | 公開(公告)日: | 2019-11-26 |
| 發明(設計)人: | 郝茂盛;張楠;陳朋;袁根如 | 申請(專利權)人: | 上海芯元基半導體科技有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/02 | 分類號: | H01L21/02;H01L21/283 |
| 代理公司: | 31219 上海光華專利事務所(普通合伙) | 代理人: | 余明偉<國際申請>=<國際公布>=<進入 |
| 地址: | 201209 上海市浦*** | 國省代碼: | 上海;31 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 凸起 器件結構 本實用新型 絕緣層覆蓋 絕緣層 載流子 顯露 芯片 平坦化處理 漏電 后續電極 間隔排布 電絕緣 電連接 擊穿 絕緣 | ||
本實用新型提供一種GaN基半導體器件結構,GaN基半導體器件結構包括:GaN層,GaN層包括多個間隔排布的GaN凸起,相鄰的GaN凸起之間包括凹槽;絕緣層,絕緣層覆蓋凹槽的表面,且顯露GaN凸起的頂部。本實用新型通過絕緣層覆蓋凹槽的表面,減少載流子對器件的影響,實現芯片的電絕緣,減少電擊穿或因絕緣不良導致的芯片漏電;通過顯露的GaN凸起的頂部,可實現GaN基半導體器件結構與后續電極層的電連接,從而避免對GaN凸起的平坦化處理,以進一步的提高GaN基半導體器件結構的可靠性。
技術領域
本實用新型屬于半導體技術領域,涉及一種GaN基半導體器件結構。
背景技術
隨著半導體行業的快速發展,第三代半導體材料主要以碳化硅(SiC)、氮化鎵(GaN)、氧化鋅(ZnO)、金剛石、氮化鋁(AlN)為代表的寬禁帶半導體材料,由于具有高的擊穿電場、高的熱導率、高的電子飽和速率及高的抗輻射能力,因而更適合于制作高溫、高頻、抗輻射及大功率器件,因此備受關注。
作為第三代半導體材料的代表,以氮化鎵(GaN)為代表的Ⅲ族氮化物,由于具有禁帶寬度大,耐高溫等諸多優異性能,因此具有獨特的光電屬性。GaN半導體器件在光顯示、光存儲、激光打印,白光照明以及醫療和軍事等領域都具有廣闊應用,其中,最引人注目的是利用GaN基發光二極管(LED)加上熒光粉合成白光,以實現白光照明的應用。然而,藍寶石襯底和GaN材料的晶格常數存在較大的失配(16%),導致在藍寶石襯底上生長GaN晶體時,形成較高的位錯密度(109~1012cm-2),以至于造成載流子的泄漏和非輻射復合中心增多等不良影響,使得器件內量子效率下降,同時,也會影響器件的穩定性。
因此,提供一種GaN基半導體器件結構,以有效提升GaN基半導體器件的工作特性,實現芯片的電絕緣,減少電擊穿或因絕緣不良導致的芯片漏電,提升產品的良品率,實屬必要。
實用新型內容
鑒于以上所述現有技術的缺點,本實用新型的目的在于提供一種GaN基半導體器件結構,用于解決現有技術中在應用GaN材料時,由于晶格常數失配,所造成的上述一系列產品質量的問題。
為實現上述目的及其他相關目的,本實用新型提供一種GaN基半導體器件結構,所述GaN基半導體器件結構包括:
GaN層,所述GaN層包括多個間隔排布的GaN凸起,相鄰的所述GaN凸起之間包括凹槽;
絕緣層,所述絕緣層覆蓋所述凹槽的表面,且顯露所述GaN凸起的頂部。
可選地,所述絕緣層包括氧化硅層、氮化硅層、氧化鈦層、氧化鋁層及絕緣膠水層中的一種或組合。
可選地,所述絕緣層填滿所述凹槽,且所述絕緣層的上表面與所述GaN凸起的頂部齊平。
可選地,所述GaN凸起的橫截面形貌包括矩形、正方形、三角形及梯形中的一種或組合。
可選地,所述凹槽的橫截面形貌包括“U”字形、“V”字形、矩形、正方形及梯形中的一種或組合。
可選地,還包括與所述GaN凸起的頂部電連接的電極層。
可選地,還包括歐姆接觸層,所述歐姆接觸層覆蓋所述GaN凸起的頂部。
可選地,所述歐姆接觸層包括鉻金屬層、鎳金屬層及鈦金屬層中的一種或組合。
可選地,還包括鍵合襯底,所述鍵合襯底包括導電鍵合襯底。
如上所述,本實用新型的GaN基半導體器件結構,通過絕緣層覆蓋凹槽的表面,減少載流子對器件的影響,實現芯片的電絕緣,減少電擊穿或因絕緣不良導致的芯片漏電;通過顯露的GaN凸起的頂部,可實現GaN基半導體器件結構與后續電極層的電連接,從而避免對GaN凸起的平坦化處理,以進一步的提高GaN基半導體器件結構的可靠性。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于上海芯元基半導體科技有限公司,未經上海芯元基半導體科技有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201920305794.0/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:磁控管用漸變螺距直熱式陰極
- 下一篇:半導體封裝模具及半導體元件
- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





