[實(shí)用新型]一種半導(dǎo)體器件有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201920283086.1 | 申請(qǐng)日: | 2019-03-06 |
| 公開(公告)號(hào): | CN209747453U | 公開(公告)日: | 2019-12-06 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 郝茂盛;袁根如;張楠;馬艷紅;陳朋 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 上海芯元基半導(dǎo)體科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L21/02 | 分類號(hào): | H01L21/02;H01L33/00 |
| 代理公司: | 31219 上海光華專利事務(wù)所(普通合伙) | 代理人: | 余明偉<國(guó)際申請(qǐng)>=<國(guó)際公布>=<進(jìn)入 |
| 地址: | 201209 上海市浦*** | 國(guó)省代碼: | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 襯底 保護(hù)層 生長(zhǎng) 金屬氧化物層 半導(dǎo)體器件 凸起結(jié)構(gòu) 金屬層 復(fù)合 半導(dǎo)體器件結(jié)構(gòu) 干法刻蝕工藝 半導(dǎo)體介質(zhì) 本實(shí)用新型 襯底上表面 周期性間隔 襯底接觸 刻蝕氣體 生長(zhǎng)窗口 外延晶體 聚合物 膜層 制備 平整 污染 保證 | ||
本實(shí)用新型提供一種復(fù)合襯底及半導(dǎo)體器件結(jié)構(gòu),所述復(fù)合襯底包括:生長(zhǎng)襯底;凸起結(jié)構(gòu),呈周期性間隔分布于所述生長(zhǎng)襯底上表面;其中,所述凸起結(jié)構(gòu)包括金屬層或金屬氧化物層保護(hù)層以及位于保護(hù)層之上的半導(dǎo)體介質(zhì)膜層。在復(fù)合襯底中,加入與生長(zhǎng)襯底接觸的金屬層或金屬氧化物層保護(hù)層,保護(hù)層能夠保護(hù)生長(zhǎng)襯底,使得襯底晶體不會(huì)受到干法刻蝕工藝中刻蝕氣體或聚合物的污染,保證生長(zhǎng)襯底的干凈且平整,為后續(xù)外延晶體的生長(zhǎng)及半導(dǎo)體器件的制備提供一個(gè)無污染的生長(zhǎng)窗口,可提高半導(dǎo)體器件的各項(xiàng)性能。
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及半導(dǎo)體技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種半導(dǎo)體器件的結(jié)構(gòu)。
背景技術(shù)
半導(dǎo)體照明作為新型高效固體光源,具有壽命長(zhǎng)、節(jié)能、環(huán)保、安全等優(yōu)點(diǎn),其應(yīng)用領(lǐng)域正在迅速擴(kuò)大。尤其近幾年,隨著研發(fā)力度的加大和資金的投入,LED發(fā)光效率和品質(zhì)得到大幅度的提升,LED更是得到深入的應(yīng)用。
LED產(chǎn)業(yè)經(jīng)過多年的研究和發(fā)展,一致認(rèn)為生長(zhǎng)襯底技術(shù)是GaN基材料及器件的核心。目前主流的襯底技術(shù)路線是藍(lán)寶石技術(shù)路線、Si襯底技術(shù)路線、SiC襯底技術(shù)路線、GaN同質(zhì)襯底技術(shù),以及最新突破的復(fù)合襯底技術(shù)路線,幾種技術(shù)中以藍(lán)寶石技術(shù)路線最為成熟,且?guī)追N技術(shù)路線中各有優(yōu)劣和有些還存在技術(shù)難點(diǎn),其目的都是為了提高LED發(fā)光效率和品質(zhì)。
最新的圖形化襯底有以下幾種方法:方法一是在藍(lán)寶石襯底表面或其他常規(guī)襯底表面制作SiO2膜層結(jié)構(gòu)形成微觀圖形;方法二是在藍(lán)寶石襯底表面或其他常規(guī)襯底表面制作DBR 膜層結(jié)構(gòu)形成微觀圖形;方法三是首先在生長(zhǎng)襯底上面沉積外延緩沖層,之后在緩沖層上制作SiO2、Si3N4或DBR膜層結(jié)構(gòu)形成微觀圖形。方法一、方法二都存在一個(gè)共同的問題,那就是后續(xù)外延生長(zhǎng)困難,如果低溫生長(zhǎng)的話,SiO2膜層或DBR膜層表面會(huì)沉積多晶,外延晶體質(zhì)量差,如果高溫生長(zhǎng)的話,藍(lán)寶石襯底表面沉積不了GaN或多晶,這樣導(dǎo)致外延生長(zhǎng)工藝條件及其苛刻,沒法量產(chǎn)。方法三也有些難度:首先是SiO2膜層結(jié)構(gòu)微觀圖形的制作,如果用濕法刻蝕SiO2圖形,其圖形尺寸會(huì)受到限制,只能做大,不能做小,否則不能夠批量生產(chǎn);更別說做到納米級(jí);如果用干法刻蝕SiO2圖形,緩沖層的表面會(huì)受到刻蝕氣體的污染,造成后續(xù)外延生長(zhǎng)困難,甚至沉積不了,條件苛刻,外延層晶體質(zhì)量也提高不大,其次是單純的SiO2膜層結(jié)構(gòu)對(duì)光的反射效果有限,對(duì)亮度提升有限。
對(duì)于LED更高應(yīng)用的要求,襯底技術(shù)還需提升和挖掘。因此,不斷的挖掘襯底技術(shù)來有效提高GaN基外延層及LED外延結(jié)構(gòu)晶體質(zhì)量,改善LED各項(xiàng)性能指標(biāo)實(shí)屬必要。
發(fā)明內(nèi)容
鑒于以上所述現(xiàn)有技術(shù)的缺點(diǎn),本實(shí)用新型的目的在于提供一種半導(dǎo)體器件,用于解決現(xiàn)有技術(shù)中的LED外延窗口受到污染,外延層晶體質(zhì)量不高以及各項(xiàng)性能有待改善的問題。
為實(shí)現(xiàn)上述目的及其他相關(guān)目的,本實(shí)用新型提供一種復(fù)合襯底,所述復(fù)合襯底包括:
生長(zhǎng)襯底;
凸起結(jié)構(gòu),呈周期性間隔分布于所述生長(zhǎng)襯底上表面;
其中,所述凸起結(jié)構(gòu)包括與所述生長(zhǎng)襯底接觸的金屬層或金屬氧化物層保護(hù)層以及位于保護(hù)層之上的半導(dǎo)體介質(zhì)膜層。
可選地,所述金屬層或金屬氧化物層保護(hù)層的材料包括鎳(Ni)、鈦(Ti)、鈦的氧化物(TiOx) 或銦錫氧化物(ITO)。
可選地,所述金屬層或金屬層氧化物層保護(hù)層的厚度為
可選地,所述生長(zhǎng)襯底的材料包括Al2O3、SiC、Si、ZnO、GaN。
可選地,所述凸起結(jié)構(gòu)的形狀包括圓柱、方柱、圓錐或蒙古包。
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- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





