[實用新型]帶有全塑USB插頭的老化測試連接設備

有效

• 申請號: 201920245972.5
• 申請日: 2019-02-27
• 公開（公告）號: CN209707550U
• 公開（公告）日: 2019-11-29
• 發明（設計）人: 王志艷
• 申請（專利權）人: 深圳市金豐達電子有限公司
• 主分類號: G01R1/04
• 分類號: G01R1/04;H01R12/72;H01R13/02;H01R13/405;H01R13/504
• 代理公司: 44519 深圳余梅專利代理事務所(特殊普通合伙)
• 代理人: 井杰<國際申請>=<國際公布>=<進入國

本實用新型涉及帶有全塑USB插頭的老化測試連接設備。包括基體及USB插頭，基體內電路板正面的一側邊的中間位置設有觸點A1至A12，電路板背面的對應位置設有觸點B1至B12；電路板中間設有兩排可插入銅柱的對稱觸點孔，觸點孔電連接觸點A1至A12和觸點B1至B12。USB插頭外殼內有一方形階梯槽以及扁平通孔，端子組由兩組相互平行的金屬端子組成，金屬端子前段與中段連接的后半部分被夾在膠芯前部與通孔之間，前段的前半部分上設有觸點。采用電路板中放置更合理的接觸點布局形式，解決了繁雜的布線問題，簡化了延伸到二級系統線路。整體成型的外殼加上實心的膠芯，膠芯與通孔內壁之間為金屬端子的前段，增加了支點，減小力臂，增強夾持力。

技術領域

本實用新型涉及老化測試設備，尤其涉及一種帶有全塑USB插頭的老化測試連接設備。

背景技術

測試連接設備常見于對電子設備，如手機、平板電腦等，進行性能測試時的場景。老化測試連接設備是常見的一種類型。老化測試連接設備用于對電子設備的老化程度進行測試，從而得出電子設備抗老化能力以及老化之后設備運行性能。通常的老化測試連接設備中都是通過繁雜的布線來進行連接，布局不佳、結構復雜。USB插頭老化測試連接設備中一個部件，其中的金屬端子是用于傳輸數據或者電能的關鍵部件。在對電子智能設備進行性能測試時，需要對USB插頭進行多次連續反復插拔。現有的USB插頭通常需要插入一個中空芯套內，然后再將芯套裝入插頭中。結構相對復雜，并且夾持力較低。

實用新型內容

本實用新型的目的在于為克服現有技術的以上缺陷，而提供一種帶有全塑USB插頭的老化測試連接設備。

為實現上述目的，本實用新型采用以下技術方案：帶有全塑USB插頭的老化測試連接設備，其包括基體及USB插頭，基體內設置一電路板，電路板正面的一側邊的中間位置設有觸點A1至A12，電路板背面的對應位置設有觸點B1至B12；觸點A1至A12及觸點B1至B12用于焊接并電連接USB插頭；電路板的中間設有兩排可插入銅柱的對稱的觸點孔，觸點孔電連接觸點A1至A12和觸點B1至B12，觸點孔貫穿電路板正面與背面并連通電路板正面與背面；第一排觸點孔依次序為CC1、S-、S+、Vbus、GND和CC2，第二排觸點孔依次為D+、D-、BNC+和BNC-；USB插頭包括一體注塑成型的塑膠外殼、端子組以及實心膠芯，外殼包括插頭殼和后殼，外殼內設有一方形階梯槽以及扁平通孔，階梯槽與通孔連通，階梯槽設在后殼中并且階梯槽開口設在后殼的后端，通孔貫穿插頭殼；端子組由兩組相互平行的金屬端子組成，每組金屬端子有若干個相互平行扁平的金屬端子，金屬端子的后段用于焊接于電路板上；膠芯前部插入到通孔中，膠芯后部置于階梯槽中；金屬端子分為三段：長條形的前段、板狀的中段和條形的后段，前段與中段連接的后半部分被夾在膠芯前部與通孔之間，前段的前半部分上設有觸點。

進一步地，觸點孔CC1與觸點A5電連接，觸點孔S-分別與觸點A1和觸點孔BNC-電連接，觸點孔S+分別與觸點A4、觸點孔BNC+和觸點孔Vbus電連接，觸點孔Vbus分別與觸點A9、觸點孔BNC+和觸點孔S+電連接，觸點孔GND與觸點孔BNC-電連接，觸點孔CC2與觸點B5電連接，觸點孔D+與觸點A6電連接，觸點孔D-與觸點A7電連接；觸點A1穿過電路板并與觸點B12電連接，觸點A12穿過電路板并與觸點B1電連接。

進一步地，觸點A1穿過電路板并通過電阻R107與觸點B12電連接，觸點A12穿過電路板并通過電阻R110與觸點B1電連接；觸點孔BNC-通過電阻R105與觸點孔GND電連接，觸點孔BNC-通過電阻R106與觸點孔S-電連接；觸點孔BNC+通過電阻R102與觸點孔S+電連接，觸點孔BNC+通過電阻R103與觸點孔Vbus電連接，觸點孔Vbus通過電阻R108與觸點孔S+電連接。

進一步地，基體還包括蓋板和底板，電路板夾在蓋板與底板之間，電路板正面朝向于蓋板，電路板背面朝向于底板，電路板上插接的銅柱均貫穿蓋板并外露于蓋板之外。蓋板上對應觸點A1至A12的位置上設有讓位槽；底板上對應觸點B1至B12的位置上同樣設有讓位槽。