[實用新型]帶有全塑USB插頭的老化測試連接設備

有效

• 申請號: 201920245972.5
• 申請日: 2019-02-27
• 公開（公告）號: CN209707550U
• 公開（公告）日: 2019-11-29
• 發明（設計）人: 王志艷
• 申請（專利權）人: 深圳市金豐達電子有限公司
• 主分類號: G01R1/04
• 分類號: G01R1/04;H01R12/72;H01R13/02;H01R13/405;H01R13/504
• 代理公司: 44519 深圳余梅專利代理事務所(特殊普通合伙)
• 代理人: 井杰<國際申請>=<國際公布>=<進入國

1.帶有全塑USB插頭的老化測試連接設備，其特征在于，其包括基體及USB插頭，所述基體內設置一電路板，所述電路板正面的一側邊的中間位置設有觸點A1至A12，所述電路板背面的對應位置設有觸點B1至B12；所述觸點A1至A12及觸點B1至B12用于焊接并電連接USB插頭；所述電路板的中間設有兩排可插入銅柱的對稱的觸點孔，觸點孔電連接觸點A1至A12和觸點B1至B12，所述觸點孔貫穿電路板正面與背面并連通電路板正面與背面；第一排觸點孔依次序為CC1、S-、S+、Vbus、GND和CC2，第二排觸點孔依次為D+、D-、BNC+和BNC-；所述USB插頭包括一體注塑成型的塑膠外殼、端子組以及實心膠芯，所述外殼包括插頭殼和后殼，所述外殼內設有一方形階梯槽以及扁平通孔，所述階梯槽與通孔連通，所述階梯槽設在后殼中并且階梯槽開口設在后殼的后端，所述通孔貫穿插頭殼；所述端子組由兩組相互平行的金屬端子組成，每組金屬端子有若干個相互平行扁平的金屬端子，所述金屬端子的后段用于焊接于電路板上；所述膠芯前部插入到所述通孔中，膠芯后部置于階梯槽中；所述金屬端子分為三段：長條形的前段、板狀的中段和條形的后段，前段與中段連接的后半部分被夾在膠芯前部與所述通孔之間，前段的前半部分上設有觸點。

2.如權利要求1所述的老化測試連接設備，其特征在于，所述觸點孔CC1與觸點A5電連接，觸點孔S-分別與觸點A1和觸點孔BNC-電連接，觸點孔S+分別與觸點A4、觸點孔BNC+和觸點孔Vbus電連接，觸點孔Vbus分別與觸點A9、觸點孔BNC+和觸點孔S+電連接，觸點孔GND與觸點孔BNC-電連接，觸點孔CC2與觸點B5電連接，觸點孔D+與觸點A6電連接，觸點孔D-與觸點A7電連接；觸點A1穿過電路板并與觸點B12電連接，觸點A12穿過電路板并與觸點B1電連接。

3.如權利要求2所述的老化測試連接設備，其特征在于，觸點A1穿過電路板并通過電阻R107與觸點B12電連接，觸點A12穿過電路板并通過電阻R110與觸點B1電連接；所述觸點孔BNC-通過電阻R105與觸點孔GND電連接，所述觸點孔BNC-通過電阻R106與觸點孔S-電連接；所述觸點孔BNC+通過電阻R102與觸點孔S+電連接，所述觸點孔BNC+通過電阻R103與觸點孔Vbus電連接，所述觸點孔Vbus通過電阻R108與觸點孔S+電連接。

4.如權利要求1所述的老化測試連接設備，其特征在于，所述基體還包括蓋板和底板，所述電路板夾在蓋板與底板之間，電路板正面朝向于蓋板，電路板背面朝向于底板，所述電路板上插接的銅柱均貫穿蓋板并外露于蓋板之外。

5.如權利要求4所述的老化測試連接設備，其特征在于，所述蓋板上對應觸點A1至A12的位置上設有讓位槽；所述底板上對應觸點B1至B12的位置上同樣設有讓位槽。

6.如權利要求1所述的老化測試連接設備，其特征在于，第二排觸點孔下方中間的位置穿入一個主螺釘和一個等高銅套，所述主螺釘穿入等高銅套中，所述等高銅套貫穿蓋板、電路板和底板，所述主螺釘末端外露于底板之外。

7.如權利要求1所述的老化測試連接設備，其特征在于，所述USB插頭的通孔的上下內壁均設有第一凹槽，所述金屬端子的前段插入到第一凹槽中。

8.如權利要求1所述的老化測試連接設備，其特征在于，所述階梯槽與膠芯對應的部分設有第二凹槽，所述金屬端子的中段插入到第二凹槽中。

9.如權利要求8所述的老化測試連接設備，其特征在于，所述膠芯插入通孔的部分為板狀，膠芯置于階梯槽的部分設有凸臺，凸臺上設有若干第三凹槽，所述金屬端子的中段分別插入到第二凹槽和第三凹槽中。

10.如權利要求1所述的老化測試連接設備，其特征在于，所述金屬端子的中段與后段的連接處的過渡角為內凹的半圓。