[實用新型]一種帶限位結構的芯片測試裝置

有效

• 申請號: 201920222282.8
• 申請日: 2019-02-22
• 公開（公告）號: CN209606573U
• 公開（公告）日: 2019-11-08
• 發明（設計）人: 彭朝亮
• 申請（專利權）人: 華芯智造微電子（重慶）股份有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G01R1/04
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本實用新型公開了一種帶限位結構的芯片測試裝置，包括設置在頂板的下端的芯片測試探針，所述芯片測試探針的上端側壁與頂板的下端側壁固定連接，所述頂板的下方設有底板，所述頂板與底板之間通過支撐板固定連接，所述芯片測試探針的下方設有測試板，所述測試板的上端側壁上設有放置槽，所述底板上設有升降機構，所述測試板上設有限位機構。本實用新型具有限位機構，可調節控制芯片的位置，使得芯片測試探針可探到芯片中不同的測試點，結構簡單，操作簡便，可調節測試板的高度，從而調節待測試的芯片的高度，便于對芯片進行測試。

技術領域

本實用新型涉及芯片測試設備技術領域，尤其涉及一種帶限位結構的芯片測試裝置。

背景技術

芯片是一種將電路制造在半導體芯片表面上的集成電路，集成電路芯片的測試分類包括：晶圓測試、芯片測試和封裝測試，芯片測試是在晶圓經過切割、減薄工序，成為一片片獨立的片之后的測試，其一般是將芯片放在測試平臺上，用探針探到芯片中事先確定的測試點，探針上可以通過直流電流和交流信號，可以對其進行各種電氣參數測試。

現有的芯片測試裝置不具備限位機構，且測試板的高度一般是固定的，從而不方便調節控制芯片的位置，不便于對芯片進行測試，為此我們提出了一種帶限位結構的芯片測試裝置，用來解決上述問題。

實用新型內容

本實用新型的目的是為了解決現有技術中存在的缺點，而提出的一種帶限位結構的芯片測試裝置，其具有限位機構，可調節控制芯片的位置，使得芯片測試探針可探到芯片中不同的測試點，結構簡單，操作簡便，可調節測試板的高度，從而調節待測試的芯片的高度，便于對芯片進行測試。

為了實現上述目的，本實用新型采用了如下技術方案：

一種帶限位結構的芯片測試裝置，包括設置在頂板的下端的芯片測試探針，所述芯片測試探針的上端側壁與頂板的下端側壁固定連接，所述頂板的下方設有底板，所述頂板與底板之間通過支撐板固定連接，所述芯片測試探針的下方設有測試板，所述測試板的上端側壁上設有放置槽，所述底板上設有升降機構，所述測試板上設有限位機構。

優選地，所述升降機構包括設置在底板的上端側壁上的裝置槽，所述裝置槽的內壁上固定連接有電動推桿，所述電動推桿的輸出端與測試板的下端側壁固定連接。

優選地，所述測試板靠近支撐板一端的側壁上固定連接有T形滑塊，所述支撐板的側壁上設有與T形滑塊位置相對應的T形滑槽，所述T形滑塊與T形滑槽的內壁滑動連接，所述測試板的側壁與支撐板的側壁滑動連接。

優選地，所述限位機構包括設置在測試板的兩側側壁上的螺紋桿，兩個所述螺紋桿均貫穿測試板的側壁并與其螺紋連接，所兩個所述螺紋桿位于放置槽內的一端均轉動連接有限位板。

優選地，所述限位板的側壁與放置槽的內壁滑動連接且相抵，所述限位板遠離螺紋桿的一端固定連接有橡膠墊片。

優選地，兩個所述螺紋桿遠離放置槽的一端均固定連接有旋鈕。

本實用新型具有以下有益效果：

1、通過設置限位機構，通過手動旋轉旋鈕，旋鈕可帶動螺紋桿轉動，因螺紋桿與測試板螺紋連接，所以螺紋桿可在測試板上左右移動，從而帶動限位板在放置槽內左右移動，從而帶動待測試的芯片在放置槽內左右移動，從而使得芯片測試探針可探到待測試的芯片中其他的測試點，結構簡單，操作簡便，橡膠墊片具有彈性，可避免在對芯片進行限位調節時損壞芯片；

2、通過設置升降機構，將待測試的芯片放置與測試板上的放置槽中，此時啟動電動推桿，電動推桿可帶動測試板向上移動，在此過程中，T形滑塊沿T形滑槽滑動，使得測試板滑動的更加平穩，當測試板與芯片測試探針的間距適合測試時，停止電動推桿，芯片測試探針便可對待測試的芯片進行檢測，可調節測試板的高度，從而調節待測試的芯片的高度，便于對芯片進行測試。

附圖說明