[實用新型]一種帶限位結構的芯片測試裝置

有效

• 申請號: 201920222282.8
• 申請日: 2019-02-22
• 公開（公告）號: CN209606573U
• 公開（公告）日: 2019-11-08
• 發明（設計）人: 彭朝亮
• 申請（專利權）人: 華芯智造微電子（重慶）股份有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G01R1/04
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種帶限位結構的芯片測試裝置，包括設置在頂板（2）的下端的芯片測試探針（1），其特征在于，所述芯片測試探針（1）的上端側壁與頂板（2）的下端側壁固定連接，所述頂板（2）的下方設有底板（3），所述頂板（2）與底板（3）之間通過支撐板（4）固定連接，所述芯片測試探針（1）的下方設有測試板（5），所述測試板（5）的上端側壁上設有放置槽（6），所述底板（3）上設有升降機構，所述測試板（5）上設有限位機構。

2.根據權利要求1所述的一種帶限位結構的芯片測試裝置，其特征在于，所述升降機構包括設置在底板（3）的上端側壁上的裝置槽（7），所述裝置槽（7）的內壁上固定連接有電動推桿（8），所述電動推桿（8）的輸出端與測試板（5）的下端側壁固定連接。

3.根據權利要求2所述的一種帶限位結構的芯片測試裝置，其特征在于，所述測試板（5）靠近支撐板（4）一端的側壁上固定連接有T形滑塊（9），所述支撐板（4）的側壁上設有與T形滑塊（9）位置相對應的T形滑槽（10），所述T形滑塊（9）與T形滑槽（10）的內壁滑動連接，所述測試板（5）的側壁與支撐板（4）的側壁滑動連接。

4.根據權利要求1所述的一種帶限位結構的芯片測試裝置，其特征在于，所述限位機構包括設置在測試板（5）的兩側側壁上的螺紋桿（11），兩個所述螺紋桿（11）均貫穿測試板（5）的側壁并與其螺紋連接，所兩個所述螺紋桿（11）位于放置槽（6）內的一端均轉動連接有限位板（12）。

5.根據權利要求4所述的一種帶限位結構的芯片測試裝置，其特征在于，所述限位板（12）的側壁與放置槽（6）的內壁滑動連接且相抵，所述限位板（12）遠離螺紋桿（11）的一端固定連接有橡膠墊片（13）。

6.根據權利要求4所述的一種帶限位結構的芯片測試裝置，其特征在于，兩個所述螺紋桿（11）遠離放置槽（6）的一端均固定連接有旋鈕（14）。