[實用新型]一種微波基片自動檢測系統

有效

• 申請號: 201920109158.0
• 申請日: 2019-01-23
• 公開（公告）號: CN209690427U
• 公開（公告）日: 2019-11-26
• 發明（設計）人: 劉學觀;吳恒名;周鳴籟
• 申請（專利權）人: 蘇州大學
• 主分類號: G01R31/01
• 分類號: G01R31/01
• 代理公司: 32345 蘇州智品專利代理事務所(普通合伙)
• 代理人: 唐學青<國際申請>=<國際公布>=<進入

1.一種微波基片自動檢測系統，其特征在于，所述系統包括：

圖像采集模塊，獲取待檢測基片的樣本圖像；

圖像處理模塊，對所述樣本圖像進行預處理，獲取所述樣本圖像的中心點位置；

控制模塊，將所述中心點位置轉換成用于控制機械臂移動的機械臂坐標，控制機械臂將所述待檢測基片置于諧振環上；

數據分析模塊，依據諧振環在覆蓋待檢測基片前后S散射矩陣的S參數的四個相位的變化計算所述待檢測基片的損耗角正切和相對介電常數并將分析的信息傳輸至判斷模塊，所述判斷模塊接收并響應所述數據分析模塊分析的信息，其中判斷模塊，根據所述損耗角正切和相對介電常數判斷所述待檢測基片是否合格。

2.根據權利要求1所述微波基片自動檢測系統，其特征在于，所述圖像采集模塊包括工業攝像頭。

3.根據權利要求2所述微波基片自動檢測系統，其特征在于，所述工業攝像頭包含采用USB2.0工業攝像頭，傳動帶包含微型傳送帶，其中工業攝像頭用于拍攝待檢測基片，獲取待檢測基片的樣本圖像，所述傳送帶將待檢測基片運到制定位置，所述工業攝像頭拍攝待檢測基片的圖像，獲取待檢測基片的樣本圖像。

4.根據權利要求1所述微波基片自動檢測系統，其特征在于，所述諧振環的諧振頻率為1575MHz，介電常數為4.4，損耗角正切值為0.02，厚度為1.6mm的FR4板材制成。

5.根據權利要求4所述微波基片自動檢測系統，其特征在于，所述諧振環包含微帶折疊諧振環，其具有兩端微帶傳輸線和一個H型環。

6.根據權利要求5所述微波基片自動檢測系統，其特征在于，微帶折疊諧振環為對稱結構，其采用兩端微帶線饋電結構。

7.根據權利要求5所述微波基片自動檢測系統，其特征在于，所述H型環包含微帶傳輸線和多個半圓環。

8.根據權利要求1所述微波基片自動檢測系統，其特征在于，還包含同軸線其一端連接諧振環，另一端連接矢量網絡分析儀，用以提供計算機與矢量網絡分析儀間局域網的發送/接收數據。

9.根據權利要求1所述微波基片自動檢測系統，其特征在于，

所述機械臂包含與其活動連接的末端吸盤，其依據所述圖像處理模塊預估的基片的中心點位置將待檢測基片置于諧振環上。

10.根據權利要求9所述微波基片自動檢測系統，其特征在于，所述吸盤通過管路連接氣泵，在抓取基片時抽真空形式吸附所述基片。