[實用新型]一種在精密測長儀中測量高解析面板的標記結構

有效

• 申請號: 201920104675.9
• 申請日: 2019-01-22
• 公開（公告）號: CN209342051U
• 公開（公告）日: 2019-09-03
• 發明（設計）人: 不公告發明人
• 申請（專利權）人: 福建華佳彩有限公司
• 主分類號: G01B11/02
• 分類號: G01B11/02
• 代理公司: 福州市景弘專利代理事務所(普通合伙) 35219
• 代理人: 黃以琳;林祥翔

1.一種在精密測長儀中測量高解析面板的標記結構，其特征在于：包括多個最小標記單元，所述最小標記單元為正方形，多個最小標記單元聚集排列，每一個最小標記單元都至少與一個最小標記單元相鄰，相鄰的最小標記單元的相鄰的邊為重合狀態，所述最小標記單元的數量為一自然數的平方，多個最小標記單元的行數與該自然數相同，多個最小標記單元的首行數量和末行數量不相同。

2.根據權利要求1所述的一種在精密測長儀中測量高解析面板的標記結構，其特征在于：所述多個最小標記單元組成的圖形為左右對稱圖形。

3.根據權利要求1或2所述的一種在精密測長儀中測量高解析面板的標記結構，其特征在于：每一行的最小標記單元數量依次變大。

4.根據權利要求1所述的一種在精密測長儀中測量高解析面板的標記結構，其特征在于：所述自然數為4。

5.根據權利要求1所述的一種在精密測長儀中測量高解析面板的標記結構，其特征在于：所述最小標記單元的長寬都為5um。