[實用新型]XRF探測器及用于XRF探測器的標(biāo)樣校準(zhǔn)裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201920099087.0
• 申請日: 2019-01-21
• 公開（公告）號: CN209460170U
• 公開（公告）日: 2019-10-01
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 羅建文;李飛
• 申請（專利權(quán)）人: 長沙開元儀器有限公司
• 主分類號: G01N23/223
• 分類號: G01N23/223
• 代理公司: 北京集佳知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11227
• 代理人: 羅滿

本實用新型公開了一種XRF探測器及用于XRF探測器的標(biāo)樣校準(zhǔn)裝置。標(biāo)樣校準(zhǔn)裝置包括：第一驅(qū)動裝置，用于連接并驅(qū)動探測器本體運動；支撐盤，支撐盤設(shè)有若干個用于固定連接標(biāo)準(zhǔn)樣品的樣品安裝結(jié)構(gòu)；連接于支撐盤的第二驅(qū)動裝置，用于驅(qū)動支撐盤運動；信號連接第一驅(qū)動裝置與第二驅(qū)動裝置的控制器，用于控制第一驅(qū)動裝置與第二驅(qū)動裝置的啟停，以通過第一驅(qū)動裝置與第二驅(qū)動裝置的驅(qū)動使選定的標(biāo)準(zhǔn)樣品對準(zhǔn)探測器本體的測試位。通過該標(biāo)樣校準(zhǔn)裝置的使用，標(biāo)準(zhǔn)樣品可以均設(shè)置在支撐盤上，第一驅(qū)動裝置與第二驅(qū)動裝置的驅(qū)動即可使選定的標(biāo)準(zhǔn)樣品運動到測試位，無需像現(xiàn)有技術(shù)中逐一人工放置標(biāo)準(zhǔn)樣品于測試位，可以提高校準(zhǔn)工作的效率。

技術(shù)領(lǐng)域

本實用新型涉及應(yīng)用XRF技術(shù)的設(shè)備領(lǐng)域，特別涉及一種XRF探測器及用于XRF探測器的標(biāo)樣校準(zhǔn)裝置。

背景技術(shù)

目前XRF(X射線熒光光譜分析，X Ray Fluorescence)技術(shù)已經(jīng)被成功應(yīng)用到多個領(lǐng)域，如環(huán)境(土壤元素分析，燃燒灰元素分析)、食品(各種食物中元素分析，飼料中元素分析)、化學(xué)(涂料元素分析，石油元素分析)、金屬非金屬(各種礦石，貴金屬組成物)、電子電氣產(chǎn)品(電子電氣零部件有害物質(zhì)分析)等。

XRF技術(shù)基于物理學(xué)基礎(chǔ)，利用燈絲產(chǎn)生的高能電子束激發(fā)靶材產(chǎn)生的X射線照射樣品產(chǎn)生次級特征X射線，這些特征X射線的能量強度不同，其強度與元素為一一對應(yīng)關(guān)系，且其強度與元素的濃度呈正相關(guān)，因此，通過XRF技術(shù)可以對樣品進行定性和定量分析。

為了獲得好的重復(fù)性和準(zhǔn)確性，需要建立濃度和X射線強度的關(guān)系的標(biāo)準(zhǔn)曲線。目前，對于應(yīng)用XRF技術(shù)檢測樣品元素的XRF探測器，一般是內(nèi)置樣品曲線數(shù)據(jù)庫。

然而，隨著時間的推移，XRF探測器中接收器等電子電氣元件會發(fā)生老化，對儀器的穩(wěn)定性及儀器的分辨能力都會產(chǎn)生漂移，致使以內(nèi)置的標(biāo)準(zhǔn)曲線得到的測試結(jié)果與真實結(jié)果存在偏差，因而需要在XRF探測器使用一段時間后對標(biāo)準(zhǔn)曲線進行校準(zhǔn)。

目前一種典型的校準(zhǔn)方式為人工將樣品逐一放在XRF探測器上進行校準(zhǔn)工作，以生成校準(zhǔn)曲線，校準(zhǔn)工作耗費的時間較長、效率較低。

因此，如何提高校準(zhǔn)效率，是本領(lǐng)域技術(shù)人員目前需要解決的技術(shù)問題。

實用新型內(nèi)容

有鑒于此，本實用新型的目的是提供一種用于XRF探測器的標(biāo)樣校準(zhǔn)裝置，校準(zhǔn)工作的效率較高。本實用新型的另一目的是提供一種包括上述標(biāo)樣校準(zhǔn)裝置的XRF探測器，其校準(zhǔn)工作的效率較高。

為實現(xiàn)上述目的，本實用新型提供如下技術(shù)方案：

一種用于XRF探測器的標(biāo)樣校準(zhǔn)裝置，包括：

第一驅(qū)動裝置，用于連接并驅(qū)動探測器本體運動；

支撐盤，所述支撐盤設(shè)有若干個用于固定連接標(biāo)準(zhǔn)樣品的樣品安裝結(jié)構(gòu)；

連接于所述支撐盤的第二驅(qū)動裝置，用于驅(qū)動所述支撐盤運動；

信號連接所述第一驅(qū)動裝置與所述第二驅(qū)動裝置的控制器，用于控制所述第一驅(qū)動裝置與所述第二驅(qū)動裝置的啟停，以通過所述第一驅(qū)動裝置與所述第二驅(qū)動裝置的驅(qū)動使選定的標(biāo)準(zhǔn)樣品對準(zhǔn)探測器本體的測試位。

優(yōu)選地，還包括滑塊，所述滑塊滑動連接于直線導(dǎo)軌，所述滑塊上設(shè)有用于固定連接探測器本體的探測器連接結(jié)構(gòu)，所述第一驅(qū)動裝置連接于所述滑塊，以驅(qū)動所述滑塊在所述直線導(dǎo)軌上滑動。

優(yōu)選地，所述支撐盤與所述直線導(dǎo)軌平行設(shè)置，所述第二驅(qū)動裝置為旋轉(zhuǎn)驅(qū)動裝置，所述支撐盤的旋轉(zhuǎn)中心位置固定連接于所述第二驅(qū)動裝置的輸出軸，所述第二驅(qū)動裝置的輸出軸垂直于所述支撐盤，以通過所述第二驅(qū)動裝置驅(qū)動所述支撐盤轉(zhuǎn)動來調(diào)節(jié)標(biāo)準(zhǔn)樣品與所述直線導(dǎo)軌的垂直距離。

優(yōu)選地，所述支撐盤上設(shè)有用于檢測所述樣品安裝結(jié)構(gòu)的位置的樣品位置傳感器，所述樣品位置傳感器信號連接于所述控制器。