[實用新型]XRF探測器及用于XRF探測器的標樣校準裝置

有效

• 申請號: 201920099087.0
• 申請日: 2019-01-21
• 公開（公告）號: CN209460170U
• 公開（公告）日: 2019-10-01
• 發明（設計）人: 羅建文;李飛
• 申請（專利權）人: 長沙開元儀器有限公司
• 主分類號: G01N23/223
• 分類號: G01N23/223
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 羅滿

1.一種用于XRF探測器的標樣校準裝置，其特征在于，包括：

第一驅動裝置(19)，用于連接并驅動探測器本體(15)運動；

支撐盤(8)，所述支撐盤(8)設有若干個用于固定連接標準樣品(10)的樣品安裝結構(21)；

連接于所述支撐盤(8)的第二驅動裝置(16)，用于驅動所述支撐盤(8)運動；

信號連接所述第一驅動裝置(19)與所述第二驅動裝置(16)的控制器(20)，用于控制所述第一驅動裝置(19)與所述第二驅動裝置(16)的啟停，以通過所述第一驅動裝置(19)與所述第二驅動裝置(16)的驅動使選定的標準樣品(10)對準探測器本體(15)的測試位。

2.根據權利要求1所述的標樣校準裝置，其特征在于，還包括滑塊，所述滑塊滑動連接于直線導軌，所述滑塊上設有用于固定連接探測器本體(15)的探測器連接結構，所述第一驅動裝置(19)連接于所述滑塊，以驅動所述滑塊在所述直線導軌上滑動。

3.根據權利要求2所述的標樣校準裝置，其特征在于，所述支撐盤(8)與所述直線導軌平行設置，所述第二驅動裝置(16)為旋轉驅動裝置，所述支撐盤(8)的旋轉中心位置(9)固定連接于所述第二驅動裝置(16)的輸出軸，所述第二驅動裝置(16)的輸出軸垂直于所述支撐盤(8)，以通過所述第二驅動裝置(16)驅動所述支撐盤(8)轉動來調節標準樣品(10)與所述直線導軌的垂直距離。

4.根據權利要求3所述的標樣校準裝置，其特征在于，所述支撐盤(8)上設有用于檢測所述樣品安裝結構(21)的位置的樣品位置傳感器(17)，所述樣品位置傳感器(17)信號連接于所述控制器(20)。

5.根據權利要求4所述的標樣校準裝置，其特征在于，所有所述樣品安裝結構(21)分為若干個安裝結構組，每個所述安裝結構組中的所有所述樣品安裝結構(21)沿著以所述旋轉中心位置(9)為圓心的圓圈軌跡依次設置，各所述安裝結構組對應的所述圓圈軌跡的半徑不同，以使所有所述樣品安裝結構(21)以所述旋轉中心位置(9)為中心呈蛛網狀排布。

6.根據權利要求5所述的標樣校準裝置，其特征在于，所有所述樣品位置傳感器(17)依次設于一個以所述旋轉中心位置(9)為圓心的圓圈軌跡上；周向上每個位置的所述樣品安裝結構(21)均對應設有所述樣品位置傳感器(17)。

7.根據權利要求5所述的標樣校準裝置，其特征在于，所述直線導軌上設有用于對探測器本體(15)在所述直線導軌的延伸方向上的位置進行定位的探測器位置傳感器，所述探測器位置傳感器信號連接于所述控制器(20)；所述樣品安裝結構(21)與所述旋轉中心位置(9)的徑向距離為安裝距離，每個所述安裝距離下的所述樣品安裝結構(21)均對應設有所述探測器位置傳感器。

8.根據權利要求3至7任一項所述的標樣校準裝置，其特征在于，所述支撐盤(8)上還設有零位傳感器(18)，所述零位傳感器(18)信號連接于所述控制器(20)，所述控制器(20)能夠根據所述零位傳感器(18)的檢測確定所述支撐盤(8)是否旋轉一周。

9.根據權利要求3至7任一項所述的標樣校準裝置，其特征在于，兩個所述直線導軌平行設于所述支撐盤(8)的兩側，其中一個所述直線導軌上的所述滑塊用于固定連接探測器本體(15)的一端，另一個所述直線導軌上的所述滑塊用于固定連接探測器本體(15)的另一端。

10.一種XRF探測器，包括探測器本體(15)和測試室，其特征在于，還包括權利要求1至9任一項所述的標樣校準裝置，所述標樣校準裝置設于所述測試室中，所述測試室上設有測試窗口(12)，以使所述探測器本體(15)通過所述測試窗口(12)對待測產品進行測試。