[實用新型]一種抗干擾經顱多普勒探頭

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201920079877.2
• 申請日: 2019-01-18
• 公開（公告）號: CN210582509U
• 公開（公告）日: 2020-05-22
• 發(fā)明（設計）人: 沈晨瑞;張耀耀;劉東旭;鄧吉;劉占凱;滑劭寧
• 申請（專利權）人: 奧聲（上海）電子科技有限公司
• 主分類號: A61B8/00
• 分類號: A61B8/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種抗干擾經顱多普勒探頭，其特征在于:壓電層的上表面通過磁控濺射鍍有負電極層，壓電層的下表面通過磁控濺射鍍有正電極層，負電極層的上表面通過環(huán)氧粘接背襯塊，正電極層的下表面通過環(huán)氧粘接匹配層，屏蔽銅箔通過環(huán)氧粘結到匹配層和銅內襯套表面，負極引線焊接在負電極層上，正極引線焊接在正電極層上，同軸電纜包括同軸電纜屏蔽線、同軸電纜芯線和外絕緣層、內絕緣層，同軸電纜通過焊點焊接在銅蓋板上，所述的正極引線接入到同軸電纜屏蔽線上，所述的負極引線接入到同軸電纜芯線上，所述的同軸電纜外屏蔽焊接在銅蓋板上，銅蓋板焊接到銅內襯套上，銅內襯套通過灌封膠固定在外殼上。

2.根據權利要求1所述的一種抗干擾經顱多普勒探頭，其特征在于：所述的壓電層為壓電陶瓷晶片，厚度為0.2-2毫米。

3.根據權利要求1所述的一種抗干擾經顱多普勒探頭，其特征在于：所述的匹配層厚度0.1-0.6毫米。

4.根據權利要求1所述的一種抗干擾經顱多普勒探頭，其特征在于：所述的背襯塊厚度為3-15毫米。

5.根據權利要求1所述的一種抗干擾經顱多普勒探頭，其特征在于：所述的壓電層，匹配層，背襯塊疊層放入銅內襯套中。

6.根據權利要求1所述的一種抗干擾經顱多普勒探頭，其特征在于：所述的匹配層上包裹一層屏蔽鋁箔，厚度0.003-0.02毫米。