[發明專利]一種適用于ATE測試的皮安級小電流測試電路在審
| 申請號： | 201911423784.8 | 申請日： | 2019-12-31 |
| 公開（公告）號： | CN110895290A | 公開（公告）日： | 2020-03-20 |
| 發明（設計）人： | 湯偉芳;戴銳青;桑一梅;裴忠誠;李海;王成 | 申請（專利權）人： | 蘇州經貿職業技術學院 |
| 主分類號： | G01R19/00 | 分類號： | G01R19/00 |
| 代理公司： | 上海漢聲知識產權代理有限公司 31236 | 代理人： | 黃超宇;胡晶 |
| 地址： | 215009 江蘇省蘇*** | 國省代碼： | 江蘇;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 適用于 ate 測試 皮安級小 電流 電路 | ||
1.一種適用于ATE測試的皮安級小電流測試電路，其特征在于，包括差分電壓測試電路和等電勢保護電路，其中：
所述差分電壓測試電路包括第一運算放大器、串聯電阻和待測芯片，所述第一運算放大器的正極輸入端連接外部ATE差分電壓測試設備的正極，負極輸入端連接所述串聯電阻的右端，所述第一運算放大器的輸出端分別連接外部ATE差分電壓測試設備的負極和所述串聯電阻的左端，所述串聯電阻的右端連接所述待測芯片；
所述等電勢保護電路包括第二運算放大器，所述第二運算放大器的正極輸入端連接外部ATE差分電壓測試設備的正極，負極輸入端分別連接所述第二運算放大器的輸出端和所述待測芯片。
2.根據權利要求1所述的一種適用于ATE測試的皮安級小電流測試電路，其特征在于，所述串聯電阻的阻值選擇在百兆歐姆數量級。
3.根據權利要求2所述的一種適用于ATE測試的皮安級小電流測試電路，其特征在于，所述串聯電阻的阻值為100兆-200兆歐姆。
4.根據權利要求1所述的一種適用于ATE測試的皮安級小電流測試電路，其特征在于，所述串聯電阻的右端電壓值高于所述串聯電阻的左端電壓值。
5.根據權利要求1所述的一種適用于ATE測試的皮安級小電流測試電路，其特征在于，所述串聯電阻上的負載電流與所述待測芯片的漏電流相同。
6.根據權利要求5所述的一種適用于ATE測試的皮安級小電流測試電路，其特征在于，所述待測芯片的漏電流為I＝U/R，其中，U為所述串聯電阻的分壓，R為所述串聯電阻的阻值。
7.根據權利要求1所述的一種適用于ATE測試的皮安級小電流測試電路，其特征在于，所述第一運算放大器的正極輸入端的輸入電壓為所述待測芯片管腳的測試電壓。
8.根據權利要求1所述的一種適用于ATE測試的皮安級小電流測試電路，其特征在于，所述第一運算放大器的正極輸入端和負極輸入端的輸入電壓相同。
9.根據權利要求1所述的一種適用于ATE測試的皮安級小電流測試電路，其特征在于，所述第二運算放大器的正極輸入端的輸入電壓為所述待測芯片管腳的測試電壓。
10.根據權利要求1所述的一種適用于ATE測試的皮安級小電流測試電路，其特征在于，所述第二運算放大器的正極輸入端和負極輸入端的輸入電壓相同。
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