[發明專利]標定方法及裝置、處理器、電子設備、存儲介質

有效

• 申請號: 201911420020.3
• 申請日: 2019-12-31
• 公開（公告）號: CN111060138B
• 公開（公告）日: 2022-01-28
• 發明（設計）人: 慕翔;陳丹鵬
• 申請（專利權）人: 上海商湯智能科技有限公司
• 主分類號: G01C25/00
• 分類號: G01C25/00
• 代理公司: 廣州三環專利商標代理有限公司 44202
• 代理人: 熊永強;董文俊

本申請公開了一種標定方法及裝置、處理器、電子設備、存儲介質。該方法包括：獲取成像設備的至少兩個位姿和慣性傳感器的至少兩個第一采樣數據；對所述至少兩個位姿進行樣條擬合處理得到第一樣條曲線，對所述至少兩個第一采樣數據進行樣條擬合處理得到第二樣條曲線；依據所述第一樣條曲線與所述第二樣條曲線，得到所述成像設備與所述慣性傳感器之間的時空偏差，所述時空偏差包括位姿轉換關系、采樣時間偏移量中的至少一個。

技術領域

本申請涉及計算機技術領域，尤其涉及一種標定方法及裝置、處理器、電子設備、存儲介質。

背景技術

基于成像設備采集到的數據與慣性傳感器采集到的數據可實現多種特定功能。由于成像設備與慣性傳感器之間存在位姿偏差，或成像設備與慣性傳感器之間存在的采樣時間偏差，導致基于成像設備與慣性傳感器實現的特定功能的效果不佳。因此如何確定成像設備與慣性傳感器之間的時空偏差(包括位姿偏差、采樣時間偏差中的至少一個)具有非常重要的意義。

發明內容

本申請提供一種標定方法及裝置、處理器、電子設備、存儲介質。

第一方面，提供了一種標定方法，所述方法包括：

獲取成像設備的至少兩個位姿和慣性傳感器的至少兩個第一采樣數據；

對所述至少兩個位姿進行樣條擬合處理得到第一樣條曲線，對所述至少兩個第一采樣數據進行樣條擬合處理得到第二樣條曲線；

依據所述第一樣條曲線與所述第二樣條曲線，得到所述成像設備與所述慣性傳感器之間的時空偏差，所述時空偏差包括位姿轉換關系、采樣時間偏移量中的至少一個。

在該方面中，通過對成像設備的至少兩個位姿進行樣條擬合處理得到第一樣條曲線，以及慣性傳感器的第一采樣數據進行樣條擬合處理得到第二樣條曲線。依據第一樣條曲線與第二樣條曲線之間確定成像設備與慣性傳感器之間的位姿轉換關系和/或采樣時間偏移量，可提高獲得的成像設備與慣性傳感器之間的位姿轉換關系和/或采樣時間偏移量的精度。

結合本申請任一實施方式，所述時空偏差包括位姿轉換關系；

在所述依據所述第一樣條曲線與所述第二樣條曲線，得到所述成像設備與所述慣性傳感器之間的時空偏差之前，所述方法還包括：

獲取預設的參考位姿轉換關系；

依據所述參考位姿轉換關系對所述第二樣條曲線進行轉換，得到第三樣條曲線；

所述依據所述第一樣條曲線與所述第二樣條曲線，得到所述成像設備與所述慣性傳感器之間的時空偏差，包括：

依據所述第一樣條曲線與所述第三樣條曲線，得到第一差異；

在所述第一差異小于或等于第一閾值的情況下，確定所述參考位姿轉換關系為所述成像設備與所述慣性傳感器之間的位姿轉換關系。

通過對成像設備的位姿進行樣條擬合處理得到第一樣條曲線，以及對慣性傳感器的第一采樣數據進行樣條擬合處理得到第二樣條曲線。基于參考位姿轉換關系對第一樣條曲線轉化得到第三樣條曲線。由于第一樣條曲線與第三樣條曲線均為連續函數曲線，依據第一樣條曲線與第三樣條曲線之間的差異確定參考位姿轉換關系是否為成像設備與慣性傳感器之間的位姿轉換關系，可提高獲得的成像設備與慣性傳感器之間的位姿轉換關系的精度。

結合本申請任一實施方式，所述時空偏差還包括采樣時間偏移量；所述第一樣條曲線中的點均攜帶時間戳信息；

所述在所述第一差異小于或等于第一閾值的情況下，確定所述參考位姿轉換關系為所述成像設備與所述慣性傳感器之間的位姿轉換關系之前，所述方法還包括：

獲取預設的第一時間偏移量；

將所述第三樣條曲線中的點的時間戳與所述第一時間偏移量相加，得到第四樣條曲線；