[發(fā)明專利]一種激光點膠精度檢測模塊及檢測方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201911413025.3
• 申請日: 2019-12-31
• 公開（公告）號: CN110966948B
• 公開（公告）日: 2022-06-07
• 發(fā)明（設計）人: 徐庶;石存牛
• 申請（專利權）人: 深圳市軸心自控技術有限公司
• 主分類號: G01B11/06
• 分類號: G01B11/06
• 代理公司: 深圳眾邦專利代理有限公司 44545
• 代理人: 王紅

本發(fā)明涉及一種激光點膠精度檢測模塊及檢測方法，本發(fā)明通過計算機軟件控制三軸移動模組帶動激光源移動，合格激光源先對兩種檢測模塊的各臺階面進行高度檢測，以產生兩組標準測試數(shù)值，再通過待測激光源對兩種檢測模塊的各臺階面進行高度檢測，以產生兩組試驗測試數(shù)值，最后通過兩組標準測試數(shù)值分別對應與兩組試驗測試數(shù)值相減，以得到兩組激光測試偏差數(shù)值，如兩組激光測試偏差數(shù)值均在偏差允許范圍以內，則判定待測激光源合格，若至少一組激光測試偏差數(shù)值在偏差允許范圍以外，則判定待測激光源不合格，NG掉，從而代替激光干涉儀來測量激光源是否合格作業(yè)，降低了投入成本，提高了檢測效率和結果，具有良好的市場應用價值。

技術領域

本發(fā)明涉及到激光探測高度技術領域，尤其涉及到一種激光點膠精度檢測模塊及檢測方式。

背景技術

目前在激光點膠技術領域中，待點膠的產品尺寸越來越小，點膠精度要求也越來越高，相應的對點膠高度要求也非常高，而在大范圍使用激光的過程中，經常出現(xiàn)激光補償不準，或者激光探測數(shù)值不對，從而導致生產異常。目前用來檢測激光精度的設備如激光干涉儀價格非常昂貴，不經濟，而且非常耗費時間，都是等生產出現(xiàn)問題后才會去檢測，而且激光在長時間使用后，也會導致精度下降；因此，現(xiàn)有技術存在缺陷，需要改進。

發(fā)明內容

本發(fā)明提供一種激光點膠精度檢測模塊,解決的上述問題。

為解決上述問題，本發(fā)明提供的技術方案如下：

一種激光點膠精度檢測模塊，包括檢測模塊，檢測模塊的底部為平面，檢測模塊的上部為傾斜面；在檢測模塊的上部傾斜面上預設多個臺階面，多個臺階面的高度成階梯式依次升高，相鄰兩個臺階面的高度差為定值。

優(yōu)選的，檢測模塊為合金金屬塊。

優(yōu)選的，臺階面的數(shù)量為至少四個。

優(yōu)選的，相鄰兩個臺階面的高度差為0.5mm。

優(yōu)選的，檢測模塊的底部設有多個固定螺栓和多個磁環(huán)安裝位。

優(yōu)選的，相鄰兩個臺階面之間還開設有凹槽，多個凹槽的深度值相同。

優(yōu)選的，一種激光點膠精度檢測方法，

S1、將兩種檢測模塊沿X軸或Y軸向排列固定在檢測平臺上；

S2、將合格激光源固定在三軸移動模組上，調整好合格激光源的探測高度；

S3、用計算機軟件控制三軸移動模組按照設定程序移動，并檢測軟件與合格激光源的激光通訊是否正常；

S4、合格激光源對兩種檢測模塊進行高度檢測，以得出兩組標準高差數(shù)值；

S5、取下合格激光源，將待測激光源固定在三軸移動模組上，調整好待測激光源的探測高度；

S6、用計算機軟件控制三軸移動模組按照設定程序移動，并檢測軟件與待測激光源的激光通訊是否正常；

S7、待測激光源對兩種檢測模塊進行高度檢測，以得出兩組試驗高差數(shù)值；

S8、將兩組試驗高差數(shù)值分別對應與兩組標準高差數(shù)值進行比對，進而計算出待測激光源相對合格激光源的兩組激光測試偏差；

S9、若兩組激光測試偏差均在偏差允許范圍內，則判定待測激光源OK，若至少一組激光測試偏差在偏差允許范圍外，則判定待測激光源NG。

優(yōu)選的，兩種檢測模塊分別為第一金屬塊和第二金屬塊。