[發明專利]DDR芯片測試方法、裝置、設備和計算機可讀存儲介質

在審

• 申請號: 201911405312.X
• 申請日: 2019-12-30
• 公開（公告）號: CN111210864A
• 公開（公告）日: 2020-05-29
• 發明（設計）人: 劉沖;李振華
• 申請（專利權）人: 深圳佰維存儲科技股份有限公司
• 主分類號: G11C29/08
• 分類號: G11C29/08;G11C29/56
• 代理公司: 深圳市華勤知識產權代理事務所(普通合伙) 44426
• 代理人: 隆毅

1.一種DDR芯片測試方法，其特征在于，包括：

在檢測到啟動測試指令的情況下，向所述啟動測試指令中的目標測試終端發送測試指令，以使安裝有DDR芯片的所述目標測試終端根據所述測試指令執行上電及測試操作；

獲取所述目標測試終端在指定時間內的反饋信號，根據所述目標測試終端的反饋信號確定測試結果；

按照預設通訊協議發送所述測試結果，所述測試結果用以指示所述DDR芯片的異常情況。

2.根據權利要求1所述的DDR芯片測試方法，其特征在于，所述獲取所述目標測試終端在指定時間內的反饋信號，根據所述目標測試終端的反饋信號確定測試結果包括：

若在指定時間內未接收到所述目標測試終端反饋的第一串口信號，或僅接收到所述目標測試終端反饋的第一串口信號未接收到第二串口信號，則判定所述DDR芯片的測試結果為異常；

若在指定時間內接收到所述目標測試終端反饋的第一串口信號和第二串口信號，則對所述第二串口信號進行解析并得到測試結果。

3.根據權利要求1所述的DDR芯片測試方法，其特征在于，所述指定時間包括第一指定時間和第二指定時間，則所述獲取所述目標測試終端在指定時間內的反饋信號，根據所述目標測試終端的反饋信號確定測試結果包括：

若在第一指定時間內未接收到所述目標測試終端反饋的第一串口信號，則判定所述DDR芯片的測試結果為異常；

若在第一指定時間內接收到所述目標測試終端反饋的第一串口信號，則繼續檢測在第二時間內所述目標測試終端的反饋情況；

若在第二指定時間內未接收到所述目標測試終端反饋的第二串口信號，則判定所述DDR芯片的測試結果為異常；

若在第二指定時間內接收到所述目標測試終端反饋的第二串口信號，則對所述第二串口信號進行解析并得到測試結果。

4.根據權利要求2或3所述的DDR芯片測試方法，其特征在于，所述對所述第二串口信號進行解析并得到測試結果包括：

對所述第二串口信號的尾數進行解析；

若所述尾數為指定數值，則判定所述DDR芯片測試結果為正常；

若所述尾數非指定數值，則判定所述DDR芯片測試結果為異常。

5.根據權利要求1所述的DDR芯片測試方法，其特征在于，還包括：

分別對正常和異常的測試結果進行統計；

當同一目標測試終端出現異常的測試結果超過預設次數時，發出對所述目標測試終端進行檢測的警報信息。

6.根據權利要求1所述的DDR芯片測試方法，其特征在于，所述根據所述目標測試終端的反饋信號確定測試結果之后，還包括：

發送停止檢測指令給所述目標測試終端，以使所述目標測試終端執行斷電操作。

7.一種DDR芯片測試裝置，其特征在于，包括：

啟動測試模塊，用于在檢測到啟動測試指令的情況下，向所述啟動測試指令中的目標測試終端發送測試指令，以使安裝有DDR芯片的所述目標測試終端根據所述測試指令執行上電及測試操作；

結果判定模塊，用于獲取所述目標測試終端在指定時間內的反饋信號，根據所述目標測試終端的反饋信號確定測試結果；

結果輸出模塊，用于按照預設通訊協議發送所述測試結果，所述測試結果用以指示所述DDR芯片的異常情況。

8.根據權利要求7所述的DDR芯片測試裝置，其特征在于，所述結果判定模塊包括：

異常結果判定單元，用于當在指定時間內未接收到所述目標測試終端反饋的第一串口信號，或僅接收到所述目標測試終端反饋的第一串口信號未接收到第二串口信號時，判定所述DDR芯片的測試結果為異常；

信號解析單元，用于當在指定時間內接收到所述目標測試終端反饋的第一串口信號和第二串口信號時，對所述第二串口信號進行解析并得到測試結果。

9.一種DDR芯片測試設備，其特征在于，包括：

存儲器，用于存儲計算機程序；

處理器，用于執行所述計算機程序時實現如權利要求1至6中任一項所述DDR芯片測試方法的步驟。

10.一種計算機可讀存儲介質，其特征在于，所述計算機可讀存儲介質上存儲有計算機程序，所述計算機程序被處理器執行時實現如權利要求1至6中任一項所述DDR芯片測試方法的步驟。