[發(fā)明專利]一種產(chǎn)品缺陷檢測方法、裝置與系統(tǒng)在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201911401998.5 | 申請日： | 2019-12-30 |
| 公開（公告）號： | CN111179253A | 公開（公告）日： | 2020-05-19 |
| 發(fā)明（設計）人： | 劉杰;田繼鋒;張文超;張一凡 | 申請（專利權(quán)）人： | 歌爾股份有限公司 |
| 主分類號： | G06T7/00 | 分類號： | G06T7/00;G06T7/10;G06T3/40 |
| 代理公司： | 北京市隆安律師事務所 11323 | 代理人： | 權(quán)鮮枝 |
| 地址： | 261031 山東省濰*** | 國省代碼： | 山東;37 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 產(chǎn)品 缺陷 檢測 方法 裝置 系統(tǒng) | ||
1.一種產(chǎn)品缺陷檢測方法，其特征在于，包括：
構(gòu)建缺陷檢測框架，所述缺陷檢測框架包括分割網(wǎng)絡、拼接網(wǎng)絡和分類網(wǎng)絡，并根據(jù)產(chǎn)品缺陷類型設置所述分割網(wǎng)絡的數(shù)量，每個分割網(wǎng)絡對應一種缺陷類型；
利用包含不同缺陷類型的產(chǎn)品的樣本圖像分別對所述分割網(wǎng)絡進行訓練，得到能夠定位每種缺陷所在位置的掩碼圖像的分割網(wǎng)絡；
利用所述拼接網(wǎng)絡將所述樣本圖像與每個分割網(wǎng)絡輸出的掩碼圖像進行拼接，得到拼接圖像；
利用所述拼接圖像對所述分類網(wǎng)絡進行訓練，得到能夠正確識別出產(chǎn)品缺陷與缺陷類型的分類網(wǎng)絡；
在進行產(chǎn)品缺陷檢測時，將采集到的產(chǎn)品圖像輸入所述缺陷檢測框架，利用所述分割網(wǎng)絡、拼接網(wǎng)絡和分類網(wǎng)絡，檢測出產(chǎn)品中存在的缺陷及缺陷類型。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述利用包含不同缺陷類型的產(chǎn)品的樣本圖像分別對所述分割網(wǎng)絡進行訓練，包括：
將多個包含不同缺陷類型的樣本圖像分別輸入至多個分割網(wǎng)絡；
利用由多個分割網(wǎng)絡組成的并行結(jié)構(gòu)對所述樣本圖像中每種缺陷進行分割處理，得到能夠定位每種缺陷所在位置的掩碼圖像。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述利用由多個分割網(wǎng)絡組成的并行結(jié)構(gòu)對所述樣本圖像中每種缺陷進行分割處理，得到能夠定位每種缺陷所在位置的掩碼圖像，包括：
利用每個分割網(wǎng)絡的卷積部分對所述樣本圖像進行特征提取與降維處理，得到關聯(lián)一種缺陷類型的特征圖像；
利用每個分割網(wǎng)絡的上采樣部分對所述特征圖像進行升維處理，得到所述樣本圖像中一種缺陷所在位置的所述掩碼圖像。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，利用包含不同缺陷類型的產(chǎn)品的樣本圖像分別對所述分割網(wǎng)絡進行訓練，得到能夠定位每種缺陷所在位置的掩碼圖像的分割網(wǎng)絡，還包括：
根據(jù)所述產(chǎn)品缺陷的形態(tài)特征設置所述樣本圖像的尺寸為第一預設尺寸，利用具有第一預設尺寸的所述樣本圖像對所述分割網(wǎng)絡進行訓練，所述分割網(wǎng)絡輸出的所述掩碼圖像具有第一預設尺寸；
利用所述拼接網(wǎng)絡將所述樣本圖像與每個分割網(wǎng)絡輸出的掩碼圖像進行拼接，得到拼接圖像，包括：
根據(jù)所述分類網(wǎng)絡的分類性能設置所述樣本圖像與所述掩碼圖像的尺寸為第二預設尺寸，將具有第二預設尺寸的樣本圖像與具有第二預設尺寸的掩碼圖像進行拼接；其中所述第一預設尺寸大于第二預設尺寸。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述利用所述拼接網(wǎng)絡將所述樣本圖像與每個分割網(wǎng)絡輸出的掩碼圖像進行拼接，得到拼接圖像，包括：
保持所述樣本圖像與所述掩碼圖像的尺寸不變，將所述樣本圖像的通道逐一與每個掩碼圖像的通道進行拼接，使得拼接圖像的通道數(shù)量為所述樣本圖像的通道數(shù)量與全部掩碼圖像的通道數(shù)量的和。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述分類網(wǎng)絡的構(gòu)建方法包括：
構(gòu)建所述分類網(wǎng)絡包括用于特征提取的殘差單元、用于將特征圖尺寸調(diào)小的池化層、用于將多維度特征圖降維為行向量的平推層、用于將行向量調(diào)整為列向量的全連接層和用于邏輯判斷的邏輯回歸層；
其中，設置預定數(shù)量的串行連接的殘差單元，每個殘差單元后連接池化層，最后一個殘差單元連接的池化層為全局均值池化層；設置平推層的輸入連接所述全局均值池化層的輸出；設置全連接層的輸入連接所述平推層的輸出；以及設置邏輯回歸層的輸入連接所述全連接層的輸出。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法，其特征在于，所述設置預定數(shù)量的串行連接的殘差單元，包括：
設置每個卷積層包括第一路徑和第二路徑；
設置第二路徑包括一個卷積核，以及設置第一路徑包括串行的三個卷積核，第一路徑中第一個卷積核的輸出連接第一激活函數(shù)，第一激活函數(shù)的輸出連接第二個卷積核，第二個卷積核的輸出連接第二激活函數(shù)，第二激活函數(shù)的輸出連接第三個卷積核，第三個卷積核的輸出與所述第二路徑中的卷積核的輸出相疊加后連接第三激活函數(shù)；
設置第三激活函數(shù)與該殘差單元相應的池化層連接。
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