[發(fā)明專利]顯示面板的檢測(cè)方法、裝置、控制器和存儲(chǔ)介質(zhì)

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201911375461.6
• 申請(qǐng)日: 2019-12-27
• 公開（公告）號(hào): CN110969972B
• 公開（公告）日: 2022-09-09
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 劉旺
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: TCL華星光電技術(shù)有限公司
• 主分類號(hào): G09G3/00
• 分類號(hào): G09G3/00
• 代理公司: 深圳紫藤知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44570
• 代理人: 呂姝娟

本發(fā)明提供一種顯示面板的檢測(cè)方法、裝置、控制器和存儲(chǔ)介質(zhì)。該方法用于檢測(cè)待測(cè)顯示面板中目標(biāo)引腳是否受靜電擊傷，其包括：獲取參考顯示面板中多個(gè)預(yù)設(shè)引腳對(duì)應(yīng)的多個(gè)第一阻抗值，多個(gè)預(yù)設(shè)引腳經(jīng)靜電擊傷后具有不同大小的第一阻抗值，預(yù)設(shè)引腳與目標(biāo)引腳為相同類型的引腳；根據(jù)多個(gè)第一阻抗值，得到阻抗下限值；根據(jù)阻抗下限值，對(duì)參考顯示面板的可靠性進(jìn)行檢測(cè)；如果阻抗下限值通過可靠性檢測(cè)，則獲取待測(cè)顯示面板中目標(biāo)引腳的第二阻抗值；根據(jù)阻抗下限值和第二阻抗值，確定目標(biāo)引腳是否受到靜電擊傷。該方案通過對(duì)參考顯示面板進(jìn)行可靠性檢測(cè)，提高了阻抗下限值的準(zhǔn)確性，進(jìn)一步提高了顯示面板檢測(cè)的準(zhǔn)確性。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及顯示技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種顯示面板的檢測(cè)方法、裝置、控制器和存儲(chǔ)介質(zhì)。

背景技術(shù)

LCM(Liquid crystal display module，液晶顯示面板模組)在生產(chǎn)過程中易受ESD(Electro-Static discharge，靜電阻抗器)損傷。

為了檢測(cè)LCM是否受到ESD損傷，可以在高溫條件下使LCM老化2小時(shí)，再進(jìn)行點(diǎn)燈檢查。然而，2小時(shí)的老化時(shí)長(zhǎng)，不一定會(huì)導(dǎo)致LCM的顯示屏不能正常顯示。即點(diǎn)燈檢查只有在足夠長(zhǎng)的老化時(shí)間下，才能保持一定的準(zhǔn)確率。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的在于提供一種顯示面板的檢測(cè)方法、裝置、控制器和存儲(chǔ)介質(zhì)，可以提高顯示面板檢測(cè)的準(zhǔn)確性。

本發(fā)明實(shí)施例提供了一種顯示面板的檢測(cè)方法，用于檢測(cè)所述顯示面板中目標(biāo)引腳是否受靜電擊傷，其包括：

獲取參考顯示面板中多個(gè)預(yù)設(shè)引腳對(duì)應(yīng)的多個(gè)第一阻抗值，所述多個(gè)預(yù)設(shè)引腳經(jīng)靜電擊傷后具有不同大小的第一阻抗值，所述預(yù)設(shè)引腳與所述目標(biāo)引腳為相同類型的引腳；

根據(jù)所述多個(gè)第一阻抗值，得到阻抗下限值；

根據(jù)所述阻抗下限值，對(duì)所述參考顯示面板的可靠性進(jìn)行檢測(cè)；

如果所述參考顯示面板通過可靠性檢測(cè)，則獲取所述顯示面板中所述目標(biāo)引腳的第二阻抗值；

根據(jù)所述阻抗下限值和所述第二阻抗值，確定所述目標(biāo)引腳是否受到靜電擊傷。

在一實(shí)施例中，所述參考顯示面板包括多個(gè)顯示面板，所述獲取參考顯示面板中多個(gè)預(yù)設(shè)引腳對(duì)應(yīng)的多個(gè)第一阻抗值步驟，包括：

獲取每個(gè)預(yù)設(shè)引腳對(duì)應(yīng)的阻抗衰減曲線，以及所述預(yù)設(shè)引腳對(duì)應(yīng)的目標(biāo)顯示面板的性能下降曲線，其中，所述阻抗衰減曲線包括所述預(yù)設(shè)引腳在不同靜電擊傷時(shí)長(zhǎng)下對(duì)應(yīng)的衰減阻抗，所述性能下降曲線包括所述目標(biāo)顯示面板在不同靜電擊傷時(shí)長(zhǎng)下對(duì)應(yīng)的性能衰減值；

從所述阻抗衰減曲線中，獲取所述性能下降曲線中預(yù)設(shè)性能衰減值對(duì)應(yīng)的目標(biāo)衰減阻抗；

將所述目標(biāo)衰減阻抗設(shè)置為所述第一阻抗值。

在一實(shí)施例中，所述將所述目標(biāo)衰減阻抗設(shè)置為所述第一阻抗值步驟，包括：

獲取所述目標(biāo)衰減阻抗對(duì)應(yīng)的阻抗衰減曲線的阻抗衰減度，所述阻抗衰減度為所述預(yù)設(shè)引腳在預(yù)設(shè)時(shí)間段內(nèi)的平均阻抗下降值；

判斷所述阻抗衰減度是否處于預(yù)設(shè)衰減度范圍內(nèi)；

如果在預(yù)設(shè)衰減度范圍內(nèi)，則將所述目標(biāo)衰減阻抗設(shè)為所述第一阻抗值。

在一實(shí)施例中，所述根據(jù)所述阻抗下限值，對(duì)所述參考顯示面板的可靠性進(jìn)行檢測(cè)步驟，包括：

根據(jù)所述阻抗下限值，獲取所述參考顯示面板對(duì)應(yīng)的制程能力指數(shù)和過程能力指數(shù)；

判斷所述制程能力指數(shù)是否不小于第一預(yù)設(shè)值，以及所述過程能力指數(shù)是否不小于第二預(yù)設(shè)值；