[發(fā)明專利]顯示面板的檢測(cè)方法、裝置、控制器和存儲(chǔ)介質(zhì)

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201911375461.6
• 申請(qǐng)日: 2019-12-27
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN110969972B
• 公開(kāi)（公告）日: 2022-09-09
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 劉旺
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: TCL華星光電技術(shù)有限公司
• 主分類號(hào): G09G3/00
• 分類號(hào): G09G3/00
• 代理公司: 深圳紫藤知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44570
• 代理人: 呂姝娟

1.一種顯示面板的檢測(cè)方法，用于檢測(cè)待測(cè)顯示面板中目標(biāo)引腳是否受靜電擊傷，其特征在于，包括：

獲取參考顯示面板中多個(gè)預(yù)設(shè)引腳對(duì)應(yīng)的多個(gè)第一阻抗值，所述多個(gè)預(yù)設(shè)引腳經(jīng)靜電擊傷后具有不同大小的第一阻抗值，所述預(yù)設(shè)引腳與所述目標(biāo)引腳為相同類型的引腳；

根據(jù)所述多個(gè)第一阻抗值，得到阻抗下限值；

根據(jù)所述阻抗下限值，對(duì)所述參考顯示面板的可靠性進(jìn)行檢測(cè)；

如果所述參考顯示面板通過(guò)可靠性檢測(cè)，則獲取所述待測(cè)顯示面板中所述目標(biāo)引腳的第二阻抗值；

根據(jù)所述阻抗下限值和所述第二阻抗值，確定所述目標(biāo)引腳是否受到靜電擊傷；

其中，所述參考顯示面板包括多個(gè)顯示面板，所述獲取參考顯示面板中多個(gè)預(yù)設(shè)引腳對(duì)應(yīng)的多個(gè)第一阻抗值步驟，包括：

獲取每個(gè)預(yù)設(shè)引腳對(duì)應(yīng)的阻抗衰減曲線，以及所述預(yù)設(shè)引腳對(duì)應(yīng)的目標(biāo)顯示面板的性能下降曲線，其中，所述阻抗衰減曲線包括所述預(yù)設(shè)引腳在不同靜電擊傷時(shí)長(zhǎng)下對(duì)應(yīng)的衰減阻抗，所述性能下降曲線包括所述目標(biāo)顯示面板在不同靜電擊傷時(shí)長(zhǎng)下對(duì)應(yīng)的性能衰減值；

從所述阻抗衰減曲線中，獲取所述性能下降曲線中預(yù)設(shè)性能衰減值對(duì)應(yīng)的目標(biāo)衰減阻抗；

將所述目標(biāo)衰減阻抗設(shè)置為所述第一阻抗值。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯示面板的檢測(cè)方法，其特征在于，所述將所述目標(biāo)衰減阻抗設(shè)置為所述第一阻抗值步驟，包括：

獲取所述目標(biāo)衰減阻抗對(duì)應(yīng)的阻抗衰減曲線的阻抗衰減度，所述阻抗衰減度為所述預(yù)設(shè)引腳在預(yù)設(shè)時(shí)間段內(nèi)的平均阻抗下降值；

判斷所述阻抗衰減度是否處于預(yù)設(shè)衰減度范圍內(nèi)；

如果在預(yù)設(shè)衰減度范圍內(nèi)，則將所述目標(biāo)衰減阻抗設(shè)為所述第一阻抗值。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯示面板的檢測(cè)方法，其特征在于，所述根據(jù)所述阻抗下限值，對(duì)所述參考顯示面板的可靠性進(jìn)行檢測(cè)步驟，包括：

根據(jù)所述阻抗下限值，獲取所述參考顯示面板對(duì)應(yīng)的制程能力指數(shù)和過(guò)程能力指數(shù)；

判斷所述制程能力指數(shù)是否不小于第一預(yù)設(shè)值，以及所述過(guò)程能力指數(shù)是否不小于第二預(yù)設(shè)值；

如果制程能力指數(shù)不小于所述第一預(yù)設(shè)值，且所述過(guò)程能力指數(shù)不小于所述第二預(yù)設(shè)值，則確定所述參考顯示面板通過(guò)可靠性測(cè)試。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯示面板的檢測(cè)方法，其特征在于，所述根據(jù)所述阻抗下限值和所述第二阻抗值，確定所述目標(biāo)引腳是否受到靜電擊傷步驟，包括：

判斷所述第二阻抗值是否小于所述阻抗下限值；

如果所述第二阻抗值小于或等于所述阻抗下限值，則確定所述目標(biāo)引腳受到靜電擊傷；

如果所述第二阻抗值大于所述阻抗下限值，則確定所述目標(biāo)引腳未受到靜電擊傷。

5.一種顯示面板的檢測(cè)裝置，用于檢測(cè)待測(cè)顯示面板中目標(biāo)引腳是否受靜電擊傷，其特征在于，包括：

第一獲取模塊，用于獲取參考顯示面板中多個(gè)預(yù)設(shè)引腳對(duì)應(yīng)的多個(gè)第一阻抗值，所述多個(gè)預(yù)設(shè)引腳經(jīng)靜電擊傷后具有不同大小的第一阻抗值，所述預(yù)設(shè)引腳與所述目標(biāo)引腳為相同類型的引腳；

得到模塊，用于根據(jù)所述多個(gè)第一阻抗值，得到阻抗下限值；

檢測(cè)模塊，用于根據(jù)所述阻抗下限值，對(duì)所述參考顯示面板的可靠性進(jìn)行檢測(cè)；

第二獲取模塊，用于在所述參考顯示面板通過(guò)可靠性檢測(cè)候，獲取所述待測(cè)顯示面板中所述目標(biāo)引腳的第二阻抗值；

確定模塊，用于根據(jù)所述阻抗下限值和所述第二阻抗值，確定所述目標(biāo)引腳是否受到靜電擊傷；

其中，所述參考顯示面板包括多個(gè)顯示面板，所述第一獲取模塊包括：

第一獲取子模塊，用于獲取每個(gè)預(yù)設(shè)引腳對(duì)應(yīng)的阻抗衰減曲線，以及所述預(yù)設(shè)引腳對(duì)應(yīng)的目標(biāo)顯示面板的性能下降曲線，其中，所述阻抗衰減曲線包括所述預(yù)設(shè)引腳在不同靜電擊傷時(shí)長(zhǎng)下對(duì)應(yīng)的衰減阻抗，所述性能下降曲線包括所述目標(biāo)顯示面板在不同靜電擊傷時(shí)長(zhǎng)下對(duì)應(yīng)的性能衰減值；

第二獲取子模塊，用于從所述阻抗衰減曲線中，獲取所述性能下降曲線中預(yù)設(shè)性能衰減值對(duì)應(yīng)的目標(biāo)衰減阻抗；

設(shè)置子模塊，用于將所述目標(biāo)衰減阻抗設(shè)置為所述第一阻抗值。