[發明專利]一種用于層狀砂礫巖儲層的電成像圖像刻度方法及系統

有效

• 申請號: 201911375261.0
• 申請日: 2019-12-27
• 公開（公告）號: CN111042808B
• 公開（公告）日: 2021-03-16
• 發明（設計）人: 張偉;蔡軍;李振苓;王建功;李思;趙懿;鞠江慧;高淑梅;陳輝;張娜;李鵬濤;黃益;郭常偉;孫宇晗
• 申請（專利權）人: 中國石油天然氣集團有限公司;中國石油集團測井有限公司;中國石油集團測井有限公司華北分公司
• 主分類號: E21B49/00
• 分類號: E21B49/00;E21B47/00
• 代理公司: 北京聿華聯合知識產權代理有限公司 11611
• 代理人: 張文娟

本發明公開了用于層狀砂礫巖儲層的電成像圖像刻度方法及系統，包括：獲取通過電成像測井技術得到的關于砂礫巖儲層的圖像，構建圖像的電阻率矩陣，根據電阻率矩陣中各元素的電阻率，并結合圖像的層狀紋理特征，計算當前圖像的矩陣電阻率值；從預設的陣列感應測井沖洗帶電阻率曲線中篩選出與當前圖像的中心點深度位置相符的沖洗帶電阻率，將矩陣電阻率值與沖洗帶電阻率進行比值運算，得到圖像刻度系數；將電阻率矩陣與圖像刻度系數相乘，得到針對當前圖像的刻度處理結果。本發明為層狀砂礫巖儲層提供了高精度的電成像圖像刻度方法，實現區域上多井間的電成像圖像對比，對基于電成像測井的砂礫巖巖性進行精準解釋評價。

技術領域

本發明涉及石油測井工程領域，尤其是涉及一種用于層狀砂礫巖儲層的電成像圖像電阻率刻度方法及系統。

背景技術

近些年，隨著我國油氣勘探開發領域的不斷拓展，層狀砂礫巖油氣藏成為了深入勘探的對象之一。電成像測井以能夠采集到井筒周圍地層直觀的、清晰的、分辨率高的儲層圖像為特點，在層狀砂礫巖的勘探以及非均質性儲層評價等方面得到廣泛應用，其電成像圖像包含了地層中豐富的巖性、巖石結構等地質信息。在砂礫巖儲層段，電成像圖像能清晰地反映儲層的層狀結構特征。電成像圖像處理的技術，關系著電成像測井地質解釋的精度和準確性，其中，電成像圖像刻度是決定在區域上能否進行砂礫巖圖像對比、巖性精準解釋評價的關鍵部分。

層狀砂礫巖儲層具有復雜的母巖礦物成分和巖石紋理結構，導致電成像的圖像電阻率與陣列感應測井得到的沖洗帶電阻率的對應關系非常復雜。前人在電成像圖像電阻率刻度方面做了大量研究，主要有“分段線性刻度法”和“逐點刻度法”，這些方法均通過對圖像電阻率(或電導率)求平均值來建立與沖洗帶電阻率的對應關系，但是，由于層狀砂礫巖的巖性成分和結構的復雜性，這些方法對該類儲層的適用性較差。因此，現有技術迫切需要建立一種針對層狀砂礫巖儲層的高精度的圖像電阻率刻度方法，以滿足后續巖性準確解釋評價的需求。

發明內容

為了解決上述技術問題，本發明實施例提供了一種用于層狀砂礫巖儲層的電成像圖像刻度方法，包括：矩陣電阻率生成步驟、獲取通過電成像測井技術得到的關于砂礫巖儲層的圖像，構建所述圖像的電阻率矩陣，以及根據所述電阻率矩陣中各元素的電阻率，并結合所述圖像的層狀紋理特征，計算當前圖像的矩陣電阻率；圖像刻度系數生成步驟、從預設的當前井筒對應的陣列感應測井沖洗帶電阻率曲線中篩選出與所述圖像的中心點深度位置相符的沖洗帶電阻率，將所述矩陣電阻率與所述沖洗帶電阻率進行比值運算，得到針對當前圖像的圖像刻度系數；刻度結果生成步驟、將所述電阻率矩陣與所述圖像刻度系數相乘，得到針對當前圖像的刻度處理結果。

優選地，在所述矩陣電阻率生成步驟中，包括：建立關于所述圖像的電導率矩陣；將所述電導率矩陣轉換為相應的所述電阻率矩陣；計算所述電阻率矩陣中每列的列電阻率，并將每列的列電阻率進行并聯運算，得到所述當前圖像的所述矩陣電阻率。

優選地，進一步，將所述電阻率矩陣中同一列的元素進行串聯運算，計算相應列的所述列電阻率。

優選地，所述方法，還包括：利用電成像測井技術，采集砂礫巖儲層圖像；按照預設的窗口和深度步長，對所述儲層圖像進行窗口掃描；分別利用所述矩陣電阻率生成步驟、所述圖像刻度系數生成步驟、以及所述刻度結果生成步驟得到關于掃描窗口的所述刻度處理結果，在完成掃描后，獲取所有掃描窗口的所述刻度處理結果，并生成針對整個砂礫巖儲層圖像的刻度處理結果。

優選地，在所述圖像刻度系數生成步驟中，進一步，對當前儲層對應的待研究井進行陣列感應電阻率測井施工，得到基于井筒深度變化的沖洗帶電阻率初始曲線；按照電成像測井技術的深度采樣間隔，將所述沖洗帶電阻率初始曲線進行線性插值處理，得到處理后的當前井筒對應的所述陣列感應測井沖洗帶電阻率曲線。