[發明專利]一種用于層狀砂礫巖儲層的電成像圖像刻度方法及系統

有效

• 申請號: 201911375261.0
• 申請日: 2019-12-27
• 公開（公告）號: CN111042808B
• 公開（公告）日: 2021-03-16
• 發明（設計）人: 張偉;蔡軍;李振苓;王建功;李思;趙懿;鞠江慧;高淑梅;陳輝;張娜;李鵬濤;黃益;郭常偉;孫宇晗
• 申請（專利權）人: 中國石油天然氣集團有限公司;中國石油集團測井有限公司;中國石油集團測井有限公司華北分公司
• 主分類號: E21B49/00
• 分類號: E21B49/00;E21B47/00
• 代理公司: 北京聿華聯合知識產權代理有限公司 11611
• 代理人: 張文娟

1.一種用于層狀砂礫巖儲層的電成像圖像刻度方法，其特征在于，包括：

矩陣電阻率生成步驟、獲取通過電成像測井技術得到的關于砂礫巖儲層的圖像，構建所述圖像的電阻率矩陣，以及根據所述電阻率矩陣中各元素的電阻率，并結合所述圖像的層狀紋理特征，計算當前圖像的矩陣電阻率，其中，包括：首先，建立關于所述圖像的電導率矩陣；其次，將所述電導率矩陣轉換為相應的所述電阻率矩陣；最后，將所述電阻率矩陣中同一列的元素進行串聯運算，計算相應列的列電阻率，并將每列的列電阻率進行并聯運算，得到當前圖像的所述矩陣電阻率；

圖像刻度系數生成步驟、從預設的當前井筒對應的陣列感應測井沖洗帶電阻率曲線中篩選出與所述圖像的中心點深度位置相符的沖洗帶電阻率，將所述矩陣電阻率與所述沖洗帶電阻率進行比值運算，得到針對當前圖像的圖像刻度系數；

刻度結果生成步驟、將所述電阻率矩陣與所述圖像刻度系數相乘，得到針對當前圖像的刻度處理結果。

2.根據權利要求1所述的電成像圖像刻度方法，其特征在于，所述方法，還包括：

利用電成像測井技術，采集砂礫巖儲層圖像；

按照預設的窗口和深度步長，對所述儲層圖像進行窗口掃描；

分別利用所述矩陣電阻率生成步驟、所述圖像刻度系數生成步驟、以及所述刻度結果生成步驟得到關于掃描窗口的所述刻度處理結果，在完成掃描后，獲取所有掃描窗口的所述刻度處理結果，并生成針對整個砂礫巖儲層圖像的刻度處理結果。

3.根據權利要求1或2所述的電成像圖像刻度方法，其特征在于，在所述圖像刻度系數生成步驟中，進一步，

對當前儲層對應的待研究井進行陣列感應電阻率測井施工，得到基于井筒深度變化的沖洗帶電阻率初始曲線；

按照電成像測井技術的深度采樣間隔，將所述沖洗帶電阻率初始曲線進行線性插值處理，得到處理后的當前井筒對應的所述陣列感應測井沖洗帶電阻率曲線。

4.一種用于層狀砂礫巖儲層的電成像圖像刻度系統，其特征在于，包括：

矩陣電阻率生成模塊，其配置為獲取通過電成像測井技術得到的關于砂礫巖儲層的圖像，構建所述圖像的電阻率矩陣，以及根據所述電阻率矩陣中各元素的電阻率，并結合所述圖像的層狀紋理特征，計算當前圖像的矩陣電阻率；

圖像刻度系數生成模塊，其配置為從預設的當前井筒對應的陣列感應測井沖洗帶電阻率曲線中篩選出與所述圖像的中心點深度位置相符的沖洗帶電阻率，將所述矩陣電阻率與所述沖洗帶電阻率進行比值運算，得到針對當前圖像的圖像刻度系數；

刻度結果生成模塊，其配置為將所述電阻率矩陣與所述圖像刻度系數相乘，得到針對當前圖像的刻度處理結果，其中，在所述矩陣電阻率生成模塊中，包括：

電導率矩陣生成單元，其配置為建立關于所述圖像的電導率矩陣；

電阻率矩陣生成單元，其配置為將所述電導率矩陣轉換為相應的所述電阻率矩陣；

矩陣電阻率值生成單元，其配置為將所述電阻率矩陣中同一列的元素進行串聯運算，計算相應列的列電阻率，并將每列的列電阻率進行并聯運算，得到當前圖像的所述矩陣電阻率。

5.根據權利要求4所述的電成像圖像刻度系統，其特征在于，所述系統，還包括：

圖像獲取模塊，其配置為利用電成像測井技術，采集砂礫巖儲層圖像；

圖像掃描模塊，其配置為按照預設的窗口和深度步長，對所述儲層圖像進行窗口掃描；

圖像刻度結果獲取模塊，其配置為分別利用所述矩陣電阻率生成模塊、所述圖像刻度系數生成模塊、以及所述刻度結果生成模塊得到關于掃描窗口的所述刻度處理結果，在完成掃描后，獲取所有掃描窗口的所述刻度處理結果，并生成針對整個砂礫巖儲層圖像的刻度處理結果。

6.根據權利要求4或5所述的電成像圖像刻度系統，其特征在于，在所述圖像刻度系數生成模塊中，包括：

沖洗帶電阻率初始曲線生成單元，其配置為對當前儲層對應的待研究井進行陣列感應電阻率測井施工，得到基于井筒深度變化的沖洗帶電阻率初始曲線；

沖洗帶電阻率插值曲線生成單元，其配置為按照電成像測井技術的深度采樣間隔，將所述沖洗帶電阻率初始曲線進行線性插值處理，得到處理后的當前井筒對應的所述陣列感應測井沖洗帶電阻率曲線。