[發明專利]一種液晶面板array圖像的線路提取方法及系統

有效

• 申請號: 201911366102.4
• 申請日: 2019-12-26
• 公開（公告）號: CN110967851B
• 公開（公告）日: 2022-06-21
• 發明（設計）人: 不公告發明人
• 申請（專利權）人: 成都數之聯科技股份有限公司
• 主分類號: G02F1/13
• 分類號: G02F1/13
• 代理公司: 成都行之專利代理事務所(普通合伙) 51220
• 代理人: 熊曦

1.一種液晶面板array圖像的線路提取方法，其特征在于，所述方法包括：

根據每個產品的圖案分別制作其線路模板圖；

獲得產品A對應的AOI設備的輸入圖像X，提取輸入圖像X的特征點，基于提取的特征點獲取輸入圖像X的特征圖M；

獲得產品A對應的線路模板圖B，提取線路模板圖B的特征點，基于提取的特征點獲取線路模板圖B的特征圖N；

基于特征圖M與特征圖N的匹配結果得到特征圖M在特征圖N中的位置；基于特征圖M與特征圖N的相對位置，獲得輸入圖像X中所有線路的位置；

所述方法還包括：從AOI設備獲取輸入圖像X中缺陷的類型和缺陷的坐標，基于缺陷的坐標位置與線路位置的運算結果判斷缺陷是否引起線路相交或線路斷線；

缺陷的坐標位置與線路位置的運算包括：

步驟1：由輸入圖像X的缺陷位置坐標P＝(x_i,y_i),i＝1,2,...n，獲得X的缺陷位置掩碼圖：

其中n為圖像X的寬度，m為圖像X的高度，a_jk∈{0,1}，對于M′中的每一個a_jk，對應的坐標如果在P組成的多邊形內，則設置為1，否則置為0；

步驟2：基于輸入圖像X在N中的位置及線路模板圖得到線路位置掩碼圖

步驟3：對缺陷位置掩碼圖M′和線路位置掩碼圖N_i，執行下列運算：

計算M′與N_i的像素與掩碼圖

R_i＝M′N_i

即對每一個a_jk∈M′，n_jk∈N_i，r_jk∈R_i，執行r_jk＝a_jkn_jk；

步驟4：根據R_i和M′判斷線路是否相交或斷線：

a)判斷R_i與M′是否相交

構造如果R_i中存在像素為1的點，則f_i設置為1，否則為0；

計算f：

如果f≥2，則判斷線路相交；

b)判斷R_i與M′是否斷線

構造c_i，且其中c_i為R_i中連通區域的個數；

計算c：

如果c≥1，則判斷線路斷線。

2.根據權利要求1所述的一種液晶面板array圖像的線路提取方法，其特征在于，產品的線路模板圖制作方式為：

采集產品對應的AOI設備產生的圖片作為模板制作的參考圖；

擴展參考圖獲得模板圖。

3.根據權利要求1所述的一種液晶面板array圖像的線路提取方法，其特征在于，模板圖的特征圖獲得方式為：基于模板圖中線路的位置，獲得模板圖的線路二值圖；基于模板圖的線路二值圖，獲得模板圖的特征信息；基于模板圖的特征信息，獲得模板圖的特征圖。