[發(fā)明專利]一種液晶面板array圖像的線路提取方法及系統(tǒng)

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201911366102.4
• 申請(qǐng)日: 2019-12-26
• 公開（公告）號(hào): CN110967851B
• 公開（公告）日: 2022-06-21
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 不公告發(fā)明人
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 成都數(shù)之聯(lián)科技股份有限公司
• 主分類號(hào): G02F1/13
• 分類號(hào): G02F1/13
• 代理公司: 成都行之專利代理事務(wù)所(普通合伙) 51220
• 代理人: 熊曦

本發(fā)明公開了一種液晶面板array圖像的線路提取方法及系統(tǒng)，包括：根據(jù)每個(gè)產(chǎn)品的圖案分別制作其線路模板圖；獲得產(chǎn)品A對(duì)應(yīng)的輸入圖像X的特征點(diǎn)，獲取輸入圖像X的特征圖M；獲得產(chǎn)品A對(duì)應(yīng)的線路模板圖B的特征點(diǎn)，基于提取的特征點(diǎn)，獲取線路模板圖B的特征圖N；匹配特征圖M和特征圖N，基于匹配結(jié)果獲得M在N中的位置，基于特征圖M與特征圖N的相對(duì)位置，獲得輸入圖像X中所有線路的位置。本方法通過準(zhǔn)確判斷圖像線路位置，結(jié)合圖片缺陷位置，實(shí)現(xiàn)了線路的短路和斷路的準(zhǔn)確判定，提高了缺陷發(fā)現(xiàn)的準(zhǔn)確率及效率，降低了缺陷進(jìn)入下一個(gè)環(huán)節(jié)的風(fēng)險(xiǎn)，提升產(chǎn)線的產(chǎn)品良率，節(jié)約了判圖的人力成本。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及圖像處理領(lǐng)域，具體地，涉及一種液晶面板array圖像的線路提取方法及系統(tǒng)。

背景技術(shù)

液晶面板制造的前段Array制程是液晶面板制造過程中極其重要的制程之一，包括薄膜、黃光、蝕刻、剝膜四部分。

目前液晶面板的array制程會(huì)出現(xiàn)大量的缺陷，其中最重要也影響最大的兩類缺陷是相交缺陷和斷線缺陷，相交缺陷是指特定材質(zhì)的缺陷(如金屬殘留等)落在了兩條線路之間，導(dǎo)致線路短路；斷線缺陷是指特定類型的缺陷(如破洞等)落在線路上，導(dǎo)致線路斷路。這兩類缺陷將直接導(dǎo)致產(chǎn)品報(bào)廢，此類缺陷的準(zhǔn)確檢測(cè)可有效避免系統(tǒng)漏檢導(dǎo)致報(bào)廢產(chǎn)品流入下一個(gè)制程。現(xiàn)有的產(chǎn)線AOI檢測(cè)系統(tǒng)由于無法判斷圖像的線路位置而不能計(jì)算缺陷是否導(dǎo)致了線路相交或者斷線，只能通過人工方式判斷，效率低下且出錯(cuò)率高。

發(fā)明內(nèi)容

為了解決上述問題，本發(fā)明提出了一種液晶面板array圖像的線路提取方法及系統(tǒng)，能夠自動(dòng)計(jì)算AOI檢測(cè)設(shè)備拍攝到的產(chǎn)品圖像中各種線路的準(zhǔn)確位置，結(jié)合AOI設(shè)備的缺陷檢測(cè)結(jié)果，自動(dòng)計(jì)算相交或斷線缺陷，提高了缺陷發(fā)現(xiàn)的準(zhǔn)確率，極大縮短了缺陷發(fā)現(xiàn)的周期，降低了缺陷產(chǎn)品進(jìn)入下一個(gè)制程環(huán)節(jié)的風(fēng)險(xiǎn)，提升產(chǎn)線的產(chǎn)品良率，同時(shí)也減少了產(chǎn)線人員判圖的工作量。

為實(shí)現(xiàn)上述發(fā)明目的，本發(fā)明一方面提供了一種液晶面板array圖像的線路提取方法，所述方法包括：

根據(jù)每個(gè)產(chǎn)品的圖案分別制作其線路模板圖；

獲得產(chǎn)品A對(duì)應(yīng)的AOI設(shè)備的輸入圖像X，提取輸入圖像X的特征點(diǎn)，基于提取的特征點(diǎn)獲取輸入圖像X的特征圖M；

獲得產(chǎn)品A對(duì)應(yīng)的線路模板圖B，提取線路模板圖B的特征點(diǎn)，基于提取的特征點(diǎn)獲取線路模板圖B的特征圖N；

基于特征圖M和特征圖N的匹配結(jié)果得到特征圖M在特征圖N中的位置；基于特征圖M與特征圖N的相對(duì)位置，獲得輸入圖像X中所有線路的位置。

優(yōu)選的，所述方法還包括：從AOI設(shè)備獲取輸入圖像X中缺陷的類型和缺陷坐標(biāo)，基于缺陷的坐標(biāo)位置與線路位置的運(yùn)算結(jié)果判斷缺陷是否引起線路相交或線路斷線。

優(yōu)選的，缺陷的坐標(biāo)位置與線路位置的運(yùn)算包括：

步驟1：由輸入圖像X的缺陷位置坐標(biāo)P＝(x_i,y_i),i＝1,2,...n，獲得X的缺陷位置掩碼圖：

其中n為圖像X的寬度，m為圖像X的高度，a_jk∈{0,1}，對(duì)于M′中的每一個(gè)a_jk，對(duì)應(yīng)的坐標(biāo)如果在P組成的多邊形內(nèi)，則設(shè)置為1，否則置為0；

步驟2：基于輸入圖像X在N中的位置及線路模板圖得到線路位置掩碼圖N_i,i＝1,2,...,n；

步驟3：對(duì)缺陷位置掩碼圖M′和線路位置掩碼圖N_i，執(zhí)行下列運(yùn)算：

計(jì)算M′與N_i的像素與掩碼圖R_i,i＝1,2,...,n，