[發(fā)明專(zhuān)利]一種閃斷SSD硬盤(pán)電源的自動(dòng)化測(cè)試方法及裝置

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201911349771.0
• 申請(qǐng)日: 2019-12-24
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN111104275A
• 公開(kāi)（公告）日: 2020-05-05
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 李家敏
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 湖南國(guó)科微電子股份有限公司
• 主分類(lèi)號(hào): G06F11/22
• 分類(lèi)號(hào): G06F11/22
• 代理公司: 北京弘權(quán)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11363
• 代理人: 逯長(zhǎng)明;許偉群

本申請(qǐng)公開(kāi)了一種閃斷SSD硬盤(pán)電源的自動(dòng)化測(cè)試方法及裝置，所述方法包括：搭建自動(dòng)測(cè)試環(huán)境；檢查自動(dòng)測(cè)試環(huán)境，并獲取自動(dòng)測(cè)試環(huán)境下的被測(cè)SSD硬盤(pán)數(shù)據(jù)；在自動(dòng)測(cè)試環(huán)境下，對(duì)被測(cè)SSD硬盤(pán)進(jìn)行閃斷、重啟操作；檢測(cè)被測(cè)SSD硬盤(pán)閃斷前后的數(shù)據(jù)一致性。本申請(qǐng)通過(guò)搭建自動(dòng)測(cè)試環(huán)境進(jìn)行硬盤(pán)測(cè)試任務(wù)，實(shí)現(xiàn)了自動(dòng)控制被測(cè)SSD硬盤(pán)電源閃斷及對(duì)硬盤(pán)狀態(tài)的監(jiān)控，驗(yàn)證了SSD硬盤(pán)掉電保護(hù)機(jī)制是否正常，且測(cè)試操作簡(jiǎn)單，減少了人力，避免誤操作，提高了測(cè)試效率，保證了產(chǎn)品質(zhì)量。

技術(shù)領(lǐng)域

本申請(qǐng)涉及SSD測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種閃斷SSD硬盤(pán)電源的自動(dòng)化測(cè)試方法及裝置。

背景技術(shù)

SSD(solid-state storage device，固態(tài)硬盤(pán))是一種主要以非易失性閃存作為永久性存儲(chǔ)器的計(jì)算機(jī)存儲(chǔ)設(shè)備，隨著計(jì)算機(jī)的發(fā)展，對(duì)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)要求高速度、低時(shí)延、低功耗、防抗震等，SSD具有所有這些優(yōu)勢(shì)，必將取代HDD(hard disk drive，硬盤(pán)驅(qū)動(dòng)器)作為大數(shù)據(jù)時(shí)代的主角。

SSD硬盤(pán)架構(gòu)中也存在CPU、SDRAM(synchronous dynamic random-accessmemory，同步動(dòng)態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)內(nèi)存)、Buffer等，并實(shí)時(shí)運(yùn)算來(lái)自主機(jī)的IO和SSD內(nèi)部管理IO，因?yàn)镈RAM(dynamic random access memory，動(dòng)態(tài)隨機(jī)存取存儲(chǔ)器)和Buffer主要用于臨時(shí)存儲(chǔ)運(yùn)算，需要靠外界電力維持其記憶，當(dāng)外界電源突然中斷時(shí)，需要靠應(yīng)急電池來(lái)進(jìn)入掉電保護(hù)機(jī)制。在一些特殊行業(yè)和軍工項(xiàng)目中，對(duì)數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)十分重視，不能有任何意外造成數(shù)據(jù)丟失，所以在異常掉電后為了驗(yàn)證數(shù)據(jù)的完整性非常重要。傳統(tǒng)閃斷測(cè)試中，測(cè)試步驟依次是：a，配置環(huán)境；b，觀察硬盤(pán)狀態(tài)；c，觸發(fā)硬盤(pán)IO業(yè)務(wù)運(yùn)行；d，待策略規(guī)定時(shí)間后，手動(dòng)拔插硬盤(pán)電源線；e，再次檢查硬盤(pán)狀態(tài)；f，重復(fù)步驟a-e。

但是，在傳統(tǒng)閃斷測(cè)試中，每一步驟都需要人為操作，容易導(dǎo)致出錯(cuò)、誤操作，不可重復(fù)運(yùn)行等問(wèn)題。

發(fā)明內(nèi)容

本申請(qǐng)?zhí)峁┝艘环N閃斷SSD硬盤(pán)電源的自動(dòng)化測(cè)試方法及裝置，以解決傳統(tǒng)閃斷測(cè)試操作復(fù)雜，容易導(dǎo)致出錯(cuò)、誤操作、不可重復(fù)運(yùn)行等問(wèn)題。

為了解決上述技術(shù)問(wèn)題，本申請(qǐng)實(shí)施例公開(kāi)了如下技術(shù)方案：

第一方面，本申請(qǐng)實(shí)施例公開(kāi)了一種閃斷SSD硬盤(pán)電源的自動(dòng)化測(cè)試方法，所述方法包括：

搭建自動(dòng)測(cè)試環(huán)境；

檢查所述自動(dòng)測(cè)試環(huán)境，并獲取所述自動(dòng)測(cè)試環(huán)境下的被測(cè)SSD硬盤(pán)數(shù)據(jù)；

在所述自動(dòng)測(cè)試環(huán)境下，對(duì)所述被測(cè)SSD硬盤(pán)進(jìn)行閃斷、重啟操作；

檢測(cè)所述被測(cè)SSD硬盤(pán)閃斷前后的數(shù)據(jù)一致性。

可選的，搭建自動(dòng)測(cè)試環(huán)境包括：

分別搭建測(cè)試主機(jī)、執(zhí)行主機(jī)、PDU電源控制器；

將所述測(cè)試主機(jī)與所述執(zhí)行主機(jī)分別與所述PDU電源控制器連接；

將被測(cè)SSD硬盤(pán)分別與測(cè)試主機(jī)、電源連接，并將所述被測(cè)SSD硬盤(pán)放入溫箱中。

可選的，搭建自動(dòng)測(cè)試環(huán)境，還包括：

預(yù)定義識(shí)別所述被測(cè)SSD硬盤(pán)的唯一標(biāo)識(shí)；

預(yù)定義所述被測(cè)SSD硬盤(pán)的盤(pán)片數(shù)量；

預(yù)定義所述被測(cè)主機(jī)的IP信息；

預(yù)定義所述溫箱的IP信息與所述溫箱配置的參數(shù)；

預(yù)定義所述PDU電源控制器的IP信息；

預(yù)定義掉電上電的PDU電源控制器的slot號(hào)；

預(yù)定于測(cè)試次數(shù)與測(cè)試時(shí)間。