[發(fā)明專利]一種閃斷SSD硬盤電源的自動(dòng)化測(cè)試方法及裝置

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• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201911349771.0
• 申請(qǐng)日: 2019-12-24
• 公開（公告）號(hào): CN111104275A
• 公開（公告）日: 2020-05-05
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 李家敏
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 湖南國(guó)科微電子股份有限公司
• 主分類號(hào): G06F11/22
• 分類號(hào): G06F11/22
• 代理公司: 北京弘權(quán)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11363
• 代理人: 逯長(zhǎng)明;許偉群

1.一種閃斷SSD硬盤電源的自動(dòng)化測(cè)試方法，其特征在于，所述方法包括：

搭建自動(dòng)測(cè)試環(huán)境；

檢查所述自動(dòng)測(cè)試環(huán)境，并獲取所述自動(dòng)測(cè)試環(huán)境下的被測(cè)SSD硬盤數(shù)據(jù)；

在所述自動(dòng)測(cè)試環(huán)境下，對(duì)所述被測(cè)SSD硬盤進(jìn)行閃斷、重啟操作；

檢測(cè)所述被測(cè)SSD硬盤閃斷前后的數(shù)據(jù)一致性。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，搭建自動(dòng)測(cè)試環(huán)境包括：

分別搭建測(cè)試主機(jī)、執(zhí)行主機(jī)、PDU電源控制器；

將所述測(cè)試主機(jī)與所述執(zhí)行主機(jī)分別與所述PDU電源控制器連接；

將被測(cè)SSD硬盤分別與測(cè)試主機(jī)、電源連接，并將所述被測(cè)SSD硬盤放入溫箱中。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，搭建自動(dòng)測(cè)試環(huán)境，還包括：

預(yù)定義識(shí)別所述被測(cè)SSD硬盤的唯一標(biāo)識(shí)；

預(yù)定義所述被測(cè)SSD硬盤的盤片數(shù)量；

預(yù)定義所述被測(cè)主機(jī)的IP信息；

預(yù)定義所述溫箱的IP信息與所述溫箱配置的參數(shù)；

預(yù)定義所述PDU電源控制器的IP信息；

預(yù)定義掉電上電的PDU電源控制器的slot號(hào)；

預(yù)定于測(cè)試次數(shù)與測(cè)試時(shí)間。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于，檢查所述自動(dòng)測(cè)試環(huán)境，包括：

檢查所述測(cè)試主機(jī)、所述執(zhí)行主機(jī)、所述PDU電源控制器、所述被測(cè)SSD硬盤、與所述電源之間的連接是否正常；

檢查預(yù)配置的測(cè)試參數(shù)是否在正常范圍內(nèi)；

檢查所有被測(cè)SSD硬盤是否能找到；

檢查所述PDU電源控制器掉電上電是否正常；

若檢查有異常，則收集異常日志，發(fā)送異常報(bào)告并停止測(cè)試。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法，其特征在于，獲取所述自動(dòng)測(cè)試環(huán)境下的被測(cè)SSD硬盤數(shù)據(jù)，包括：

查找所述被測(cè)SSD硬盤的盤符號(hào)，讀取所述SSD硬盤的初始狀態(tài)信息；

檢查掉電上電日志記錄與所述被測(cè)SSD硬盤初始連接的信息，檢查所述被測(cè)SSD硬盤狀態(tài)；

判斷當(dāng)前測(cè)試次數(shù)與測(cè)試時(shí)間是否小于預(yù)設(shè)值；

若當(dāng)前測(cè)試次數(shù)與測(cè)試時(shí)間小于預(yù)設(shè)值，則配置所述溫箱溫度；

控制所述溫箱內(nèi)的被測(cè)SSD硬盤下發(fā)IO業(yè)務(wù)，保存所述被測(cè)SSD硬盤寫入數(shù)據(jù)。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，在所述自動(dòng)測(cè)試環(huán)境下，對(duì)被測(cè)SSD硬盤進(jìn)行閃斷、重啟操作，包括：

通過(guò)所述PDU電源控制器控制所述電源閃斷，以控制所述被測(cè)SSD硬盤掉電；

閃斷多次后，通過(guò)所述PDU電源控制器控制打開所述電源。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法，其特征在于，檢測(cè)所述被測(cè)SSD硬盤閃斷前后的數(shù)據(jù)一致性，包括：

查找所述被測(cè)SSD硬盤的盤符號(hào)，讀取所述SSD硬盤的狀態(tài)信息；

檢查當(dāng)前掉電上電日志記錄與所述被測(cè)SSD硬盤連接的信息，檢查所述被測(cè)SSD硬盤狀態(tài)；

配置溫箱溫度；

讀取所述溫箱內(nèi)所述被測(cè)SSD硬盤閃斷后的測(cè)試數(shù)據(jù)；

判斷所述被測(cè)SSD硬盤閃斷前后的測(cè)試數(shù)據(jù)是否一致。

8.一種閃斷SSD硬盤電源的自動(dòng)化測(cè)試裝置，其特征在于，包括：

環(huán)境搭建模塊，用于搭建自動(dòng)測(cè)試環(huán)境；

檢查模塊，用于檢查所述自動(dòng)測(cè)試環(huán)境，并獲取所述自動(dòng)測(cè)試環(huán)境下的被測(cè)SSD硬盤數(shù)據(jù)；

閃斷重啟模塊，用于在所述自動(dòng)測(cè)試環(huán)境下，對(duì)所述被測(cè)SSD硬盤進(jìn)行閃斷、重啟操作；

檢測(cè)模塊，用于檢測(cè)所述被測(cè)SSD硬盤閃斷前后的數(shù)據(jù)一致性。

9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的裝置，其特征在于，所述檢查模塊包括：

第一檢查子單元，用于檢查所述自動(dòng)測(cè)試環(huán)境是否正常；

獲取單元，用于在所述自動(dòng)測(cè)試環(huán)境下控制所述被測(cè)SSD硬盤下發(fā)IO業(yè)務(wù)，保存所述SSD硬盤寫入數(shù)據(jù)。

10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的裝置，其特征在于，所述檢測(cè)模塊包括：

第二檢查子單元，用于檢查閃斷后自動(dòng)測(cè)試環(huán)境是否正常；

讀取單元，用于讀取所述被測(cè)SSD硬盤閃斷后的測(cè)試數(shù)據(jù)；

檢測(cè)單元，用于判斷所述被測(cè)SSD硬盤閃斷前后的測(cè)試數(shù)據(jù)是否一致。