[發(fā)明專(zhuān)利]Mura校正系統(tǒng)

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201911336522.8
• 申請(qǐng)日: 2019-12-23
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN111383566A
• 公開(kāi)（公告）日: 2020-07-07
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 金起澤;樸俊泳;張斗華;劉承完;金斗淵
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 硅工廠(chǎng)股份有限公司
• 主分類(lèi)號(hào): G09G3/00
• 分類(lèi)號(hào): G09G3/00;G09G3/20
• 代理公司: 北京英賽嘉華知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11204
• 代理人: 王達(dá)佐;王艷春

Mura校正系統(tǒng)，其對(duì)通過(guò)拍攝顯示面板而獲得的檢測(cè)圖像中的Mura像素執(zhí)行校正。Mura校正系統(tǒng)可以檢測(cè)單個(gè)Mura像素并實(shí)現(xiàn)對(duì)所檢測(cè)的一個(gè)Mura像素的校正，并且可以實(shí)現(xiàn)對(duì)Mura塊的某一區(qū)域的Mura像素的基于塊的校正。

技術(shù)領(lǐng)域

各種實(shí)施方式總體涉及Mura校正系統(tǒng)，并且更具體地，涉及一種對(duì)通過(guò)拍攝顯示面板獲得的檢測(cè)圖像中的Mura像素進(jìn)行校正的Mura校正系統(tǒng)。

背景技術(shù)

近來(lái)，LCD面板和OLED面板已被廣泛用作顯示面板。

由于制造過(guò)程中的誤差等，可能在顯示面板中出現(xiàn)亮度不均勻(Mura)。Mura表示顯示圖像在像素或某個(gè)區(qū)域處具有斑點(diǎn)形式的不均勻亮度。出現(xiàn)Mura的缺陷稱(chēng)為Mura缺陷。

需要對(duì)Mura缺陷進(jìn)行檢測(cè)和校正，以允許顯示面板具有改善的圖像質(zhì)量。

發(fā)明內(nèi)容

各種實(shí)施方式涉及這樣一種Mura校正系統(tǒng)：其基于亮度值在檢測(cè)圖像中檢測(cè)塊中的單個(gè)Mura像素，并且生成待應(yīng)用到二次Mura像素校正方程式的Mura像素校正數(shù)據(jù)以對(duì)Mura像素的亮度值進(jìn)行校正，其中檢測(cè)圖像是通過(guò)檢測(cè)顯示在顯示面板上的測(cè)試圖像而獲得的。

此外，各種實(shí)施方式涉及這樣一種Mura校正系統(tǒng)：其基于從顯示在顯示面板上的測(cè)試圖像檢測(cè)到的檢測(cè)圖像中的亮度值來(lái)檢測(cè)Mura塊，將Mura塊劃分成Mura像素的Mura子塊和正常像素的正常子塊，在Mura子塊和正常子塊之間選擇具有較小面積的子塊作為校正子塊，以及生成待應(yīng)用到二次Mura像素校正方程式的Mura像素校正數(shù)據(jù)以對(duì)校正子塊中的像素的亮度值進(jìn)行校正。

此外，各種實(shí)施方式涉及這樣一種Mura校正系統(tǒng)：其在Mura子塊和正常子塊之間選擇具有較大面積的子塊作為非校正子塊，并對(duì)非校正子塊執(zhí)行Mura校正。

在實(shí)施方式中，Mura校正系統(tǒng)可以包括Mura校正裝置，所述Mura校正裝置配置成接收與顯示面板的每個(gè)灰度級(jí)的測(cè)試圖像對(duì)應(yīng)的檢測(cè)圖像，并且生成用于Mura像素的Mura像素校正數(shù)據(jù)。

Mura校正裝置可以包括Mura塊檢測(cè)器、Mura像素檢測(cè)器、第一系數(shù)生成器，其中：Mura塊檢測(cè)器配置成基于顯示面板的平均像素亮度值來(lái)在各自包括多個(gè)像素的塊之中檢測(cè)具有Mura像素的Mura塊，并且提供Mura塊的位置值；Mura像素檢測(cè)器配置成接收Mura塊的位置值，基于預(yù)設(shè)的參考值檢測(cè)Mura塊中的Mura像素，并提供Mura像素的位置值；第一系數(shù)生成器配置成接收Mura像素的位置值，生成Mura像素校正方程式的系數(shù)的系數(shù)值，并且生成包括Mura像素的位置值和Mura像素校正方程式的系數(shù)的系數(shù)值的Mura像素校正數(shù)據(jù)，其中，Mura像素校正方程式是用于將Mura像素的每個(gè)灰度級(jí)的亮度值校正成顯示面板的平均像素亮度值的二次方程式。

此外，Mura校正裝置可以包括Mura塊檢測(cè)器、Mura像素檢測(cè)器以及第一系數(shù)生成器，其中：Mura塊檢測(cè)器配置成在各自包括多個(gè)像素的塊之中檢測(cè)通過(guò)基于顯示面板的平均像素亮度值確定的、包括具有密集Mura的Mura像素的Mura塊，將Mura塊劃分成包括Mura像素的第一子塊和包括具有相對(duì)少量Mura的像素的第二子塊，在第一子塊和第二子塊之間選擇具有較小面積的子塊作為校正子塊，以及提供校正子塊的位置值；Mura像素檢測(cè)器配置成接收校正子塊的位置值，并提供校正子塊中的像素的位置值；第一系數(shù)生成器配置成接收校正子塊中的像素的位置值，生成Mura像素校正方程式的系數(shù)的系數(shù)值，其中，Mura像素校正方程式是用于將校正子塊中的每個(gè)像素的每個(gè)灰度級(jí)的亮度值校正成顯示面板的平均像素亮度值的二次方程式，以及生成包括校正子塊的像素的位置值和Mura像素校正方程式的系數(shù)的系數(shù)值的Mura像素校正數(shù)據(jù)。