[發明專利]Mura校正系統

在審

• 申請號: 201911336522.8
• 申請日: 2019-12-23
• 公開（公告）號: CN111383566A
• 公開（公告）日: 2020-07-07
• 發明（設計）人: 金起澤;樸俊泳;張斗華;劉承完;金斗淵
• 申請（專利權）人: 硅工廠股份有限公司
• 主分類號: G09G3/00
• 分類號: G09G3/00;G09G3/20
• 代理公司: 北京英賽嘉華知識產權代理有限責任公司 11204
• 代理人: 王達佐;王艷春

1.一種Mura校正系統，包括：

Mura校正裝置，配置成接收檢測圖像，并且生成用于Mura像素的Mura像素校正數據，其中所述檢測圖像與顯示面板的每個灰度級的測試圖像對應；

所述Mura校正裝置包括：

Mura塊檢測器，配置成基于所述顯示面板的平均像素亮度值在各自包括多個像素的塊之中檢測具有所述Mura像素的Mura塊，并且提供所述Mura塊的位置值；

Mura像素檢測器，配置成接收所述Mura塊的位置值，基于預設的參考值檢測所述Mura塊中的Mura像素，并提供所述Mura像素的位置值；以及

第一系數生成器，所述第一系數生成器配置成接收所述Mura像素的位置值，生成Mura像素校正方程式的系數的系數值，并且生成包括所述Mura像素的位置值和所述Mura像素校正方程式的系數的系數值的Mura像素校正數據，其中所述Mura像素校正方程式為用于將所述Mura像素的每個灰度級的亮度值校正成所述顯示面板的平均像素亮度值的二次方程式。

2.根據權利要求1所述的Mura校正系統，其中，所述Mura塊檢測器將相對于所述顯示面板的平均亮度值偏離標準偏差的塊檢測為所述Mura塊。

3.根據權利要求1所述的Mura校正系統，其中，所述Mura像素檢測器將所述Mura塊中的像素之中的對于所述Mura塊的相應平均像素亮度值偏離標準偏差的像素檢測為所述Mura像素。

4.根據權利要求1所述的Mura校正系統，其中，所述第一系數生成器生成由Mura校正值aX²+bX+c和Mura測量值X之和表示的Mura像素校正方程式的系數的系數值，X是灰度級的灰度值，并且a、b和c是系數。

5.根據權利要求1所述的Mura校正系統，還包括：

第二系數生成器，配置成接收所述Mura塊的位置值，

其中，所述第二系數生成器：

生成Mura校正方程式的系數的系數值，所述Mura校正方程式是用于將所述Mura塊的每個灰度級的測量值校正成所述顯示面板的平均像素亮度值的二次方程式；

將所述Mura校正方程式的系數中的最高階系數設置成包括適應性范圍比特，所述適應性范圍比特能夠改變所述Mura塊的亮度表示范圍以使得用于所述Mura塊的Mura測量值與Mura校正值之和近似于所述平均像素亮度值；以及

生成包括所述Mura塊的位置值和所述Mura校正方程式的系數的系數值的Mura校正數據。

6.根據權利要求5所述的Mura校正系統，其中，所述第二系數生成器生成由Mura校正值aX²+bX+c和Mura測量值X之和表示的Mura校正方程式的系數的系數值，X是灰度級的灰度值，并且a、b和c是系數。

7.根據權利要求6所述的Mura校正系統，其中，所述第二系數生成器：

將所述系數a設置成包括所述適應性范圍比特和基礎范圍比特，并且將所述系數b和所述系數c設置成包括基礎范圍比特，

利用在存儲器映射的被分配用于表示系數的全部比特之中的、除了表示所述系數a的比特之外的其余比特，來設置所述系數b和所述系數c，以及

將所述適應性范圍比特的值設置成在所述Mura塊的變化的亮度表示范圍中最接近于所述系數a實際所需的系數值的值。

8.根據權利要求6所述的Mura校正系統，其中，所述Mura校正裝置首先生成用于所述Mura塊的Mura校正數據，并且在生成所述Mura校正數據之后，生成用于所述Mura塊的Mura像素的Mura像素校正數據。